晶体中隐含的半群结构

序列性和莫比吾思反演已应用到物理中各类逆问题,诸如黑体辐射逆问题、比热逆问题和各类费米体系逆问题.文章要介绍这种方法对提取体材料中原子相互作用势的结合能逆问题的应用,以及对提取界面两侧原子间相互作用势的界面粘结能逆问题的应用.这些方法的关键是要发现对象体系中的半群结构.     

自组生长的硅纳米管的稳定性研究

文章作者的研究小组在世界上首次合成自组生长的硅纳米管（SiNTs）后,对它的稳定性研究又获得进展.采用5wt%的HF酸对自组生长的硅纳米管的稳定性进行了研究,研究表明HF酸可以去除硅纳米管的氧化物外层,只剩下晶体硅纳米管,说明所得到的硅纳米管是一种稳定结构,因而使其应用研究开发成为可能.研究表明,硅纳米管的稳定性与其生长形成过程密切相关。     

基于频域方法的三维物体分层重现

基于频域方法实现了数字记录和再现三维物体离轴全息图.通过频谱对应关系求得各个面的频谱分布,使用数字滤波方法,成功地消除了零级衍射和共轭像;通过改变再现距离,分别获取了三维物体各个截面的再现像.     

基于液晶光阀的全息照相控光仪

设计了通过液晶光阀自动调整全息照相物光和参考光辐照比至最佳状态,同时能实现曝光时间自动控制的控光仪.该仪器巧妙运用液晶光阀和硅光电池器件,使测量、调整、自控一体化,从而提高拍摄优质全息图的工作效率.     

钢丝的切变模量与扭转角度关系

研究了钢丝的切变模量随其扭转角度变化而变化的情况,观察到扭转角大于某一角度时,切变模量趋于定值的规律,得出扭摆实验准确测量的方法.     

用干涉方法测量薄膜应力

基于基片弯曲法和牛顿环的基本原理,使用He-Ne激光器、扩束镜、凸透镜和带分光镜的移测显微镜,搭建了薄膜应力测量装置.采用直流溅射法制备了厚度为30~144 nm的银薄膜,衬底采用厚度为0.15 mm、直径为18 mm的圆形玻璃片.实验发现,薄膜厚度对银薄膜的内应力有显著的影响,在薄膜厚度很小时,随着薄膜厚度的增加,应力迅速增大,达到最大值后,随着厚度的继续增加,薄膜应力下降较快并趋于稳定值.     

自制金割效应物理摆的研究性实验

金割效应物理摆是将数学中的优选法与物理实验中的复摆结合起来并用计算机处理数据的自制教学仪器.把金割效应物理摆作为研究性实验进行开设,更有利于培养学生的开拓精神和创新能力.     

超声光栅实验及其多普勒频移的一种简单研究方法

采用光子学方法,对超声光栅衍射实验和实验中出现的多普勒频移现象进行了研究,所得结论与采用光的波动性观点的惠更斯-菲涅耳原理及傅里叶变换等常规方法相同.该方法进一步加深了对衍射的本质和光的粒子性的理解并对光子的信息传递能力有初步的认识.     

DYNAMIC STABILITY OF SKEW PLATES SUBJECTED TO AERODYNAMIC AND RANDOM IN-PLANE FORCES

This paper presents an investigation into the dynamic stability of skew plates acted upon simultaneously by an aerodynamic force in the chordwise direction and a random in-plane force in the spanwise direction. Due to this random in-plane force, the plate may become unstable before the aerodynamic force reaches its critical value. In this work, the finite element formulation is applied to obtain the discretized system equations. The system equations are then partially uncoupled and reduced in size by the modal truncation method. Finally, the unsmoothed and the smoothed versions of the stochastic averaging are used to calculate the system response, and the second-moment stability criterion is utilized to determine the stability boundary of the system. Numerical results show that the stability boundary obtained by the smoothed stochastic averaging is less conservative than that obtained by the unsmoothed version, and the former is the tangent of the latter at zero spectral density of the random in-plane force.     

Si-SiO2膜的椭圆偏振光谱

我们建立了椭圆偏振光谱仪装置,提出一种较简便的测定方法(测I_max,I_min,θ_min,算(ψ,Δ)-λ),并对具有不同厚度氧化硅膜的硅样品进行了测量。还在理论上计算了光谱曲线,与实验结果基本相符。最后,对比了测定膜厚的偏振光谱法与消光法。 关键词：