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161.
For aerodynamic shape optimization, the approximation management framework (AMF) method is used to organize and manage the variable-fidelity models. The method can take full advantage of the low-fidelity, cheaper models to concentrate the main workload on the low-fidelity models in optimization iterative procedure. Furthermore, it can take high-fidelity, more expensive models to monitor the procedure to make the method globally convergent to a solution of high-fidelity problem. Finally, zero order variable-fidelity aerodynamic optimization management framework and search algorithm are demonstrated on an airfoil optimization of UAV with a flying wing. Compared to the original shape, the aerodynamic performance of the optimal shape is improved. The results show the method has good feasibility and applicability. 相似文献
162.
计算弹性地基梁板时,大都采用文克尔地基模型。由于该模型过于简化,不能正确反映土的工程性质,为此本文提出了一种双参数层状地基模型。该模型由一系列的弹性层组成,并对每一层中应力应变分布做了假设。通过积分变换的方法可以求出每一层表面处位移与力之间的关系,进而形成层刚度矩阵。按照有限元法的原理,可把每一层的刚度矩阵凝聚成总体刚度矩阵进行求解。本文模型是V1azov模型的延伸和发展。通过与V1azov模型计算结果的比较,证明本文方法是正确的。并且本文得到了荷载作用于层状模型内部时的解答,为将双参数地基模型用于桩基分析打下了理论基础。 相似文献
163.
α-双环-HMX晶体中二聚作用的理论研究 总被引:1,自引:0,他引:1
在四种(分别为HF/6-31G*,MP2/6-31G*,B3LYP/6-31G*和PBE1PBE/6-31G*)水平下,用超分子方法(SM)求得α-双环-HMX(四硝基四氮杂双环辛烷)三种二聚体(I,II和III)中的分子间相互作用能.用对称性匹配微扰理论(SAPT)与密度泛函理论(DFT)相结合的方法[SAPT(DFT)方法]求得该三种二聚体的分子间相互作用能及其分量.在四种SM方法中,以MP2求得的相互作用最强,但均弱于SAPT(DFT)的计算结果.SM和SAPT(DFT)两种方法求得的相互作用,均为IIIIII,归因于三者的分子质心平衡间距(Re)6.58(I)6.95(III)8.60(II).考察SAPT(DFT)方法求得的各作用能分量是IIIIII.密度泛函方法对色散能计算的丢失使其求得的相互作用偏小. 相似文献
164.
165.
依据离化杂质散射、声学声子散射和谷间散射的散射模型,在考虑电子谷间占有率的基础上,通过求解玻尔兹曼方程计算了不同锗组分下,不同杂质浓度时应变Si/(001)Si1-xGex的电子迁移率.结果表明:当锗组分达到0.2时,电子几乎全部占据Δ2能谷;低掺杂时,锗组分为0.4的应变Si电子迁移率与体硅相比增加约64%;对于张应变Si NMOS器件,从电子迁移率角度来考虑不适合做垂直沟道.选择相应的参数,该方
关键词:
电子谷间占有率
散射模型
锗组分
电子迁移率 相似文献
166.
文章研究了SOI衬底上SiGe npn异质结晶体管集电结耗尽电荷和电容.根据器件实际工作情况,基于课题组前面的工作,对耗尽电荷和电容模型进行扩展和优化.研究结果表明,耗尽电荷模型具有更好的光滑性;耗尽电容模型为纵向耗尽与横向耗尽电容的串联,考虑了不同电流流动面积,与常规器件相比,SOI器件全耗尽工作模式下表现出更小的集电结耗尽电容,因此更大的正向Early电压;在纵向工作模式到横向工作模式转变的电压偏置点,耗尽电荷和电容的变化趋势发生改变.SOI薄膜上纵向SiGe HBT集电结耗尽电荷和电容模型的建立和扩展为毫米波SOI BiCMOS工艺中双极器件核心参数如Early电压、特征频率等的设计提供了有价值的参考.
关键词:
耗尽电容
SiGe HBT
SOI 相似文献
167.
基于k·p微扰法计算了单轴〈111〉应力作用下硅的价带结构, 并与未受应力时体硅的价带结构进行了比较. 给出了单轴〈111〉应力作用下硅价带顶处能级的移动、分裂以及空穴有效质量的变化情况. 计算所得未受应力作用时硅价带顶处重空穴带、轻空穴带有效质量与相关文献报道体硅有效质量结果一致. 拓展了单轴应力硅器件导电沟道应力与晶向的选择范围,给出的硅价带顶处重空穴带、轻空穴带能级间的分裂值和有效质量随应力的变化关系可为单轴〈111〉应力硅其他物理参数的计算提供参考.
关键词:
单轴应力硅
k·p法')" href="#">k·p法
价带结构 相似文献
168.
采用Langmuir探针法结合发射光谱法对螺旋波诱导的低压氢等离子体进行诊断,根据Druyvesteyn 方法和日冕模型分析电子能量几率函数(EEPF)、有效电子温度(Teff)、电子密度(ne)及激发态氢原子密度(nH*)随实验参数的变化规律.结果表明:随射频功率(Prf)、气压(p)和约束磁场(B)的增大,EEPF峰位由高能向低能移动,Teff 下降;当Prf从25W增大至35W左右时,ne发生跳跃增长,而nH*始终随Prf增大线性增长;随p增大,ne和nH*都呈现先增加后减小的变化规律;随B增强,ne线性增长,而nH*先增大后减小. 相似文献
169.
170.
TATB固体与表面吸附水的相互作用研究 总被引:3,自引:0,他引:3
TATB(1,3,5-三氨基-2,4,6-三硝基苯)是最著名的耐热钝感炸药;水在 TATB表面的吸附作用研究具有理论和实用双重意义。在B3LYP/6-31G~(**)水平上 ,在对TATB晶体(001)表面作周期性计算的基础上经基组叠加误差(BSSE)校正 ,求得TATB的表面能为-19.90 kJ·mol~(-1),与实验值良好相符;首次求得水在 TATB(001)面的吸附能为-10.25kJ·mol~(-1);重点讨论了吸附前后能带和电子 结构的变化。 相似文献