显微成像检测表面粗糙度

介绍了用显微成像检测表面粗糙度的方法。该方法具有直观，操作简单，速度快，非接触无损伤，自动检测等优点。显微成像检测表面粗糙度的原理为：被检测表面通过显微放大，由ＣＣＤ作为接收器，经图像采集卡和微机进行数据采集与处理，计算后得到相应的粗糙度。这种方法用于机械加工表面，喷涂等表面检测，对电化学处理表面，指纹，皮肤，细胞等细微结构的检测更具有优越性。     

双CCD立体视觉系统的理论研究

依据几何成像原理建立起双CCD立体视觉系统的数学模型,并从图像转换的角度上,综合分析了CCD与物体之间的距离、两个CCD的间距和观看距离三个参数之间的关系。利用这些关系可指导立体视觉系统的结构设计。     

兆线元EBCCD微光探测系统

研发了一种兆线元EBCCD微光探测系统。该系统采用了俄罗斯生产的电子轰击CCD传感器,该传感器为倒像式静电聚焦系统,CCD为背照式1000×1000像元,传输模式为帧传输。为了获得高质量的图像,采用了多重滤波、自动去背景噪声以及帧叠加的方法。该系统能在10-5lx照度条件下得到较好的视频信号。该系统具有很高的灵敏度和分辨力,与ICCD微光摄像机作了比较。结果表明,电子轰击CCD微光成像系统性能较为理想。     

距离选通成像系统分辨力模拟测试装置的设计

距离选通成像系统采用的是脉冲激光主动照明与ICCD选通技术相结合的方法。为了在室内模拟测试在一定大气条件下距离选通成像系统的分辨力,设计了一套模拟测试装置。以辐射传输理论为基础,建立了大气距离选通成像系统后向散射光和信号光的模型。该模型给出了后向散射光和信号光在光电阴极面上照度随时间的变化规律。采用两个模拟光源,分别模拟了信号光和后向散射光。采用阴极面等效辐射照度法,给出了模拟光源功率的方法。以S 20光电阴极的像增强器与CCD的耦合为例,计算了模拟光源的功率。     

利用虚象产生连续变照度的研究

连续变照度在光度计量方面,在光电元件、光电成象器件的特性研究等方面都有着广泛的应用。目前产生变照度的方法都存在着较大的缺点,不可能产生较宽范围的连续变照度。而虚象法产生连续变照度却能克服目前方法的缺点,并能比较容易实现10~5倍的照度变化范围。     

宽量程照度计设计中所考虑的几个问题

<正> 照度是光度计量中的一个十分重要的参数。例如,在一般工程照明中,照度的大小标志着各种工作场所的照明条件是否合理。在照像过程中,曝光时间的确定与被摄景物的照度有着直接的关系。在光电成像领域中,照度计量更是一项不可缺少的工作,人们在列举微光     

云的红外辐射模型综述

介绍了云的分类和组成,以及云的红外辐射模型(包括二流近似、灰体近似和黑体近似模型),测量了云的红外光谱辐射。分析表明:二流近似模型可用于云层对太阳和大气中红外波段的反射、透射和云自身的辐射。黑体近似模型和灰体近似模型主要用于对云层较粗略的估算,灰体模型可近似描述8～12μm波段的辐射,且形式上比较简单,是一种常用的简化模型。     

EBCCD的增益及信噪比研究

以背照明减薄CCD为基础的微光成像系统 ,可以得到视频信号速率的输出。这种减薄的电子轰击CCD探测系统 (EBCCD)在微光下的性能大大超过了像增强器耦合的CCD探测系统 (ICCD)。EBCCD能在微光条件下产生高对比度、高分辨力的视频信号。可以预料 ,它将在工业应用、军事应用及科学研究工作中取代通常使用的ICCD。详细讨论了影响EBCCD的增益及信噪比的各种因素。结果表明 ,若适当提高阴极和CCD之间的电压 ,减小CCD基片的厚度 ,可以进一步减小EBCCD的噪声 ,从而使信噪比得到更大的提高     

光谱段积分辐射计的研制

介绍了在原有的MARKII光谱辐射计的基础之上 ,通过对光学系统、红外探测器、电子线路、机械结构和计算机控制软件进行重新设计、制作和调试而研制出的光谱段积分辐射计 ,实现了对 1～ 3μm、3～ 5 μm、8～ 12 μm三个波段的积分辐射测量 ,通过对黑体的测量和标定 ,验证并获得了作为测量仪器高重复性、稳定性和精确性的要求     

光电被动测距技术

光电被动测距技术主要有基于图像处理的测距法、基于角度测量的测距法、基于目标物体辐射特性和大气光谱传输特性模型的测距法以及记时法等。综述了国内外光电被动测距技术的原理、特点及应用领域。结果表明,被动测距在工业和军事应用领域具有重要的现实意义,诸如在完成各种工业或军事任务时的机器人视觉系统,基于运动分析的空间卫星跟踪系统,导弹火控系统,自动飞行器着陆与精确导航系统,军事侦察的航空或卫星照片的自动分析系统,战场的侦察系统等领域均有广泛的应用。