水体中铬、镉和铅的X射线荧光光谱同时快速分析方法研究

以氢氧化钠和硫化钠为沉淀剂采用共沉淀法同时富集水体中的Cr,Cd和Pb,通过对Cr(OH)₃,Cd(OH)₂和PbS沉淀均匀悬浮液抽滤以制成Cr,Cd和Pb均匀分布的薄膜样品并进行能量色散XRF光谱测量,以实现水体中Cr,Cd和Pb的同时快速分析与检测。研究了富集过程中的反应时间和反应物摩尔比对薄膜样品XRF光谱强度的影响,确定了富集过程的最佳反应条件为沉淀反应时间为5 min,OH-与Cr3+的最佳摩尔比为5.0,OH-与Cd2+的最佳摩尔比为5.0,S2-与Pb2+的最佳摩尔比为2;对富集后不同浓度的薄膜样品进行了均匀性检验,富集区域6个不同位置荧光强度的相对标准偏差均小于4.8%,说明富集后的薄膜样品具有较好的均匀性;将不同浓度薄膜样品的理论浓度值与ICP-MS方法测得的浓度值进行对比分析,验证了该富集方法对水样中Cr,Cd和Pb的富集率均能达到90%以上;根据薄膜样品的荧光强度与ICP-MS测得的浓度值,建立了基于该富集方法的水体中Cr,Cd和Pb的X射线荧光光谱定量分析方法,Cr,Cd和Pb校准曲线的线性相关系数分别为0.997 3,0.995 0和0.999 8,当实际采集水样体积为50 mL时,Cr,Cd和Pb的检出限分别为7.4,29.6和8.5 μg·L-1,均低于《污水综合排放标准 GB 8978-1996》中Cr,Cd和Pb的最高允许排放浓度,因此该方法能够实现工业生产及生活排放污水中Cr,Cd和Pb的同时快速分析与检测。该研究为基于X射线荧光光谱法的水体多种重金属同时快速在线监测提供依据。     

薄膜法X射线荧光测量中样品检测位置及防护铅板内衬材料的选择研究

(1)以型号316不锈钢金属板为研究对象,对薄膜法X射线荧光光谱测量中,样品检测位置的选择进行研究,确定了最佳的样品检测位置为样品距离X射线管和探测器水平基线1 cm处,并且与X射线管和探测器水平基线成16°角度。(2)以工业环境空气重金属污染物Pb,Cd,Cr为主要分析对象,在有铅板防护情况下进行薄膜法X射线荧光光谱测量研究,发现X射线会穿透样品薄膜而继续激发防护铅板,使得滤膜背景光谱中有较强的铅谱线干扰,会对实际样品中铅元素的测量产生影响。在薄样和防护铅板之间加上一层隔离材料,可有效避免防护铅板中铅谱线对样品测量产生的干扰。(3)以型号316不锈钢、黄铜、铝材、紫铜和聚四氟乙烯几种硬质隔离材料作为铅板内衬材料进行选择研究,结果表明：紫铜的X射线荧光光谱中所含元素的谱线最少,谱图中没有出现重金属Cr,Cd,Pb的谱峰,并且能量较高部分靶材散射光谱强度较弱,对实际样品中重金属元素Cr,Cd和Pb的测量不会产生干扰,作为铅板的内衬金属材料可以避免防护铅板中铅元素谱线的干扰,是最佳的薄膜法X射线荧光光谱分析中铅板的内衬金属材料。该研究为组装及搭建便携式大气及水体重金属X射线荧光光谱分析仪提供了重要的理论依据。     

高灵敏度的非银盐照像体系——自由基照像

我们通常使用的照像材料是用卤化银作感光剂。随着科学技术和工业的发展,卤化银照像材料不能满足某些特殊要求;同时,因为要消耗贵金属银,资源问题也成了其进一步发展的障碍。近30年来各种非银盐成像体系发展很     

波动控制中的递减法及谐波滤波器 *

提出了波动控制的递减法并应用于对任意扰动的波动控制.分析了递减法的溢出问题.提出谐波滤波器概念以解决溢出问题.用模态方法和用递减法处理频率密集结构控制的算例表明,递减法有其发展前景.     

DNA与邻苯二胺—过氧化氢—过氧化物酶体系相互作用的光谱研究

用光谱方法研究了邻苯二胺－过氧化氢－过氧化物酶体系与ＤＮＡ的作用，认为二者之间发生的是嵌插作用。分别用ＵＶ－Ｖｉｓ光谱和荧光光谱求得了形成常数，两种方法具有一致性。讨论了ＰＨ值对嵌插作用的影响。     

N在GaP及P在GaN中的溶解极限的计算

本文根据化学反应的吉布斯自由能及VanVechten等人的介电理论计算了N在GaP中的溶解度及P在GaN中的溶解度.计算结果表明,N在GaP中有一个相当好的溶解度,在这个溶解度下,GaP1-xNx合金的能带可以发生有意义的变化,我们的计算结果可以很好地说明最近一些作者所作的有关实验报道.     

Tunable Diode Laser Absorption Spectroscopy Detection of N2O at 2.1μm Using Antimonide Laser and InGaAs Photodiode

Tunable diode laser absorption spectroscopy detection of N2 0 around 2.1 μm is demonstrated by using a homemade InGaAsSb/AlGaAsSb MQW laser diode and an InGaAs wavelength extended photodiode. Details of the devices and the detection system are described. In the system, the laser is driven by low frequency pulses with long duration to form a wavelength scan around 4741 cm^-1; the absorption information is obtained from the detected signal of the photodiode. By using a gas cell with 15cm path length, a detection limit is estimated to be smaller than 0.2 Torr.     

Humidity Effects on Imaging and Nanomanipulation of Individual DNA Molecules on HOPG Surface

Single DNA molecules are aligned on highly ordered pyrolytic graphite （HOPG） surface in ambient air. It is shown that environmental humidity has a remarkable influence on the measured height of DNA by atomic force microscopy （AFM）, probably due to the conformation transition of DNA. We also demonstrate that DNA molecules deposited on HOPG surface can be ＇pushed＇ much more easily by AFM tip at high humidity than at 10W one.     

气垫导轨上的电磁感应实验

利用滑块带动金属杆切割亥姆霍兹线圈中心区域匀强磁场的磁感应线,可以产生感应电动势.通过实验可以验证感应电动势大小与金属杆运动速度、长度以及磁感应强度之间的关系,也可以验证感应电动势大小和磁通量变化率成正比.     

薄膜法X射线荧光测量中样品检测位置及防护铅板内衬材料的选择研究

(1)以型号316不锈钢金属板为研究对象, 对薄膜法X射线荧光光谱测量中, 样品检测位置的选择进行研究, 确定了最佳的样品检测位置为样品距离X射线管和探测器水平基线1 cm处, 并且与X射线管和探测器水平基线成16°角度。(2)以工业环境空气重金属污染物Pb, Cd, Cr为主要分析对象, 在有铅板防护情况下进行薄膜法X射线荧光光谱测量研究, 发现X射线会穿透样品薄膜而继续激发防护铅板, 使得滤膜背景光谱中有较强的铅谱线干扰, 会对实际样品中铅元素的测量产生影响。在薄样和防护铅板之间加上一层隔离材料, 可有效避免防护铅板中铅谱线对样品测量产生的干扰。(3)以型号316不锈钢、黄铜、铝材、紫铜和聚四氟乙烯几种硬质隔离材料作为铅板内衬材料进行选择研究, 结果表明: 紫铜的X射线荧光光谱中所含元素的谱线最少, 谱图中没有出现重金属Cr, Cd, Pb的谱峰, 并且能量较高部分靶材散射光谱强度较弱, 对实际样品中重金属元素Cr, Cd和Pb的测量不会产生干扰, 作为铅板的内衬金属材料可以避免防护铅板中铅元素谱线的干扰, 是最佳的薄膜法X射线荧光光谱分析中铅板的内衬金属材料。该研究为组装及搭建便携式大气及水体重金属X射线荧光光谱分析仪提供了重要的理论依据。