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介绍旨在抑制BaF2闪烁体慢发光成分,拓展其应用领域的紫外滤光膜系设计和 性能测量结果,研究表明,以Al2O3/MgF2/Al/MgF2为 基本结构优化设计的紫外滤光膜系对来自BaF2闪烁体不同角度入射的快/慢成分光分别具有高透射和强截止特性.还提供 了用纳秒级脉冲辐射源激发“BaF2+紫外滤光膜系+光电闪烁探测器”系统获得的BaF2闪烁体时间响应曲线,并对紫外滤光膜系中子辐照损伤特性进行了研究.
关键词:
2闪烁体')" href="#">BaF2闪烁体
紫外线
滤光片
时间响应 相似文献
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软X射线Mo/Si多层膜反射率拟合分析 总被引:12,自引:5,他引:7
由于多层膜的表界面粗糙度和材料之间的相互扩散等因素,导致多层膜的实际反射率小于理论计算的反射率,因此,多层膜结构参量的确定对镀膜工艺参量的标定具有重要意义。由于描述单个非理想粗糙界面散射的Stearns法适用于软X射线短波段区域,采用它的数学模型来描述软X射线多层膜的粗糙度,利用最小二乘法曲线拟合法对同步辐射测得的Mo/Si多层膜的反射率曲线进行拟合,得到了非常好的拟合结果,从而确定了多层膜结构参量,同时分析了多层膜周期厚度,厚度比率,界面宽度以及仪器光谱分辨率对多层膜反射特性的影响,这些工作都为镀膜工艺改进提供了一定的理论依据。 相似文献
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介绍了13.9 nm马赫贞德干涉仪用软X射线分束镜的设计、制备与性能检测。基于分束镜反射率和透过率乘积最大的评价标准,设计了13.9 nm软X射线激光干涉实验用多层膜分束镜。采用磁控溅射方法在有效面积为10 mm×10 mm、厚度为100 nm的Si3N4基底上镀制了Mo/Si多层膜,制成了多层膜分束镜。利用X射线掠入射衍射的方法测量了Mo/Si多层膜的周期。用扩束He-Ne激光束进行的投影成像方法定性分析了分束镜的面形精度,利用光学轮廓仪完成了分束镜面形精确测量。利用北京同步辐射装置测量了分束镜反射率和透射率,在13.9 nm处,分束镜反射率和透过率乘积达4%。使用多层膜分束镜构建了软X射线马赫贞德干涉仪,并应用于13.9 nm软X射线激光干涉实验中,获得了清晰的含有C8H8等离子体电子密度信息的动态干涉条纹。 相似文献
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介绍旨在抑制BaF2闪烁体慢发光成分,拓展其应用领域的紫外滤光膜系设计和性能测量结果,研究表明,以Al2O3/MgF2/Al/MgF2为基本结构优化设计的紫外滤光膜系对来自BaF2闪烁体不同角度入射的快/慢成分光分别具有高透射和强截止特性.还提供了用纳秒级脉冲辐射源激发"BaF2+紫外滤光膜系+光电闪烁探测器"系统获得的BaF2闪烁体时间响应曲线,并对紫外滤光膜系中子辐照损伤特性进行了研究. 相似文献
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Determination of Tungsten Layer Profiles in Bilayer Structures Using X-Ray Reflectivity Method 总被引:1,自引:0,他引:1 下载免费PDF全文
An effectual method is presented to determine the profiles of a tungsten (W) layer, such as the density, the thickness and the roughness in the multilayer structures, using the x-ray reflectivity technique. To avoid oxidation effects of tungsten, a B4 C capping layer is deposited onto to the W layer. To observe the profiles of the tungsten layer with different thicknesses, three groups of W/B4 C bilayers with different thicknesses are prepared by using ultra high vacuum dc magnetron sputtering and measured by an x-ray diffractometer. A type of genetic algorithm called the differential evolution is used to simulate the measurement data so as to obtain the parameters of bilayers. According to the simulation, it is shown that the W layer density varies from 95.26% to 97.51% compared to the bulk. In our experiment, the deposition rate is 0.044 nm/s, and the thickness is varied in the range of 9.8-19.4 nm. 相似文献
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