中微子的质量

本文讨论了μ中微子的静质量在各种过程中的效应,特别分析了两个此效应表现得明显的过程,μ介子与电子的湮没和π辐射衰变。指出给μ中微子以一个不太小的静质量,例如5m_e能和目前已有的一切实验不矛盾,并指出进一步确定μ中微子的质量的可能的实验。     

M?ssbauer谱线的热致宽

本文研究了晶体点阵热运动涨落对于M?ssbauer谱线宽度的影响——加宽谱线(称热致宽)。定量地讨论了完整晶体和杂质原子M?ssbauer谱线的这种致宽,并以各向同性三维谐振子为例,对退化情形作了特别讨论。最后还讨论了一个具体例子——单原子立方晶体结点上杂质原子M?ssbauer谱线的热致宽。     

怎样教“绝对值”这个概念和它的应用

在现行高中代数课本(1956年7月上海第一版)第一册第112页上有这样一道题目:“k 是怎样的值时,方程 x~2-kx+9=0没有实数根?”这个题目有较多学生犯这样的错误:他们根据 k~2<36,给出 k<±6或 k<6. 这一方面说明了他们犯形式地搬用方根的性质的错误,忘记所在场合系不等式,并不是等式 k~2=36.另一方面,也反映了他们对于“绝对值”这个概     

用3371埃激光束改变密立根实验中油滴荷电量

本文介绍在密立根油滴实验中用一台小型紧凑的大气压氮分子激光器来代替通常用的放射性物质或X射线装置等,从而以3371埃激光束照射油滴改变其荷电量,获得了较满意的实验结果。     

体心立方金属钽Ⅱ型裂纹尖端缺陷萌生的多尺度分析

本文采用多尺度准连续介质法(quasi-continuum method, QC)模拟体心立方(body-centered-cubic, bcc)金属钽(Ta)Ⅱ型裂纹尖端位错的形核与发射过程,获得位错发射位置与应力强度因子关系曲线,分析裂纹尖端缺陷萌生过程,研究全位错分解以及扩展位错形成机理. 位错活动在不同阶段表现出不一致的特征,新位错的发射对于位错运动具有促进作用. 研究表明,裂纹扩展初始阶段首先萌生点缺陷,点缺陷随着加载强度增加会萌生新的点缺陷,点缺陷最终运动到边界,导致Ⅱ型断裂破坏. 在全位错发射之前有不全位错的形核与发射表明全位错的分解分步进行,从势能曲线上来看,也就是两个极小值点的形成机理不同. 关键词： 多尺度 准连续介质法 Ⅱ型裂纹 扩展位错     

SiO2胶体晶体垂直沉积自组装方法的改进

采用垂直沉积技术及相应的改进方法,使用化学合成的400 nm单分散二氧化硅微球自组装制备了胶体晶体薄膜。通过扫描电镜与分光光度计对样品的微观结构与透过光谱进行了表征,并对比研究了不同的垂直沉积方法对胶体晶体的影响。结果表明,通过温度与流量控制两种改进手段,均能制备具有六方密堆结构周期排列的胶体晶体薄膜。在垂直沉积过程中适当的升高温度有利于降低胶体粒子的用量,而通过流量控制的垂直沉积技术则可以有效缩短自组装时间。通过调节蠕动泵改变液面与基板的相对运动速度,或者调控温度改变胶体溶液的蒸发速率,可在材料表面形成单层或多层的胶体晶体薄膜。改进的垂直沉积技术将有望应用于快速沉积大面积、高质量的胶体晶体材料。     

核壳结构PS/CeO2复合微球的制备及其在化学机械抛光中的应用

以原位化学沉淀的方法制备了不同粒径、包覆结构PS(核)/CeO2(壳)复合微球,利用X射线衍射仪、透射电子显微镜、选区电子衍射、场发射扫描电子显微镜、能谱分析仪、Fourier转换红外光谱仪、热失重分析仪和ζ电位测定仪等手段对所制备样品的微观结构进行了表征。将所制备的复合微球用做磨料,考察其对二氧化硅介质层的抛光性能,用原子力显微镜观察和测量抛光表面的微观形貌、轮廓曲线和粗糙度。结果表明,所制备的PS/CeO2复合微球具有核壳包覆结构,粒径分别约为140,180和220 nm,PS内核被粒径约为5 nm的CeO2颗粒均匀包覆。AFM结果显示,复合磨料的粒径越小,抛光后表面粗糙度越低;且酸性(pH=3)比碱性(pH=10)抛光浆料具有更好的抛光效果。     

LuTaO_4相变及结构

LuTaO4是最高密度的闪烁体基质,研究它的结构及其相变对单晶制备具有指导意义.用固相法制备了Lu2O3和Ta2O5摩尔比为1:1时在不同温度下形成的多晶粉末,用X射线衍射及Rietveld全谱拟合研究了多晶粉末的物相和结构.结果表明,Lu2O3:Ta2O5摩尔比为1:1的样品在1740℃时合成的物相为M′-LuTaO4,在1800℃时为M′-Lu Ta O?4和M-LuTaO4的混合物,在1840C时全部转变为M-LuTaO4.当温度升高到2058℃时,样品呈熔融状态,对淬火得到的样品进行结构精修,给出了M-LuTaO4,Lu3Ta O7和Ta2O5的晶胞和原子坐标参数,它们的重量比分别占78.1%,18.9%和3.0%.这些结果为制备以LuTaO4为基质的高密度闪烁体单晶具有参考价值.     

不同醇水比对β-NaYF_4∶Yb~(3+),Er~(3+)晶相的影响

采用水热法制备不同醇水比的NaYF4∶20%Yb3+,2%Er3+晶体,通过XRD、FE-SEM、TEM、PL测试手段对合成样品进行表征和分析。样品的FE-SEM图结果表明,随着醇水比的增大,颗粒尺寸越来越小,最小可达纳米级。通过XRD测试表明,醇水比对样品的晶相亦有影响,当醇水比为30/10 mL时,产物中开始出现α-NaYF4晶相。验证了形成机理的正确性并得到一条相转变反应时间与醇水比关系的模拟曲线图。TEM图显示样品属于多晶,且结晶性能良好。在980 nm近红外光激发下,β-NaYF4∶20%Yb3+,2%Er3+上转换晶体发出绿光和红光。     

水热合成NaGdF_4∶Yb~(3+),Er~(3+)及Na(Y,Gd)F_4∶Yb~(3+),Er~(3+)的尺寸控制及发光性能研究

采用水热法制备NaGdF4∶Yb3+,Er3+及Na(Y,Gd)F4∶Yb3+,Er3+,通过改变温度、时间、pH、柠檬酸三钠浓度比、氟源浓度比及掺杂Y3+浓度来调节颗粒的尺寸及研究其对发光强度的影响。通过XRD、FE-SEM、PL测试对样品进行表征分析。当溶液呈强酸性时,形成的是纯GdF3相;pH提高后,GdF3转变为β-NaGdF4相。柠檬酸三钠含量的增加会抑制颗粒尺寸的生长从而降低发光强度。氟源含量的增加会使颗粒沿(001)面生长,发光强度也增大。而随着掺杂Y3+含量的增加,颗粒尺寸增大,发光强度呈现先下降后升高的趋势。