水在金属氧化物表面的吸附与解离

（H2O）由H原子和O原子组成. 地球上有大量的水,若能找到一种经济、实用的方法将H2O解离生成H2和O2,则在新能源的开发和应用方面,意义深远. 水在固体表面的吸附现象极为普遍,在某些金属或金属氧化物表面,H2O被吸附并解离成OH－和H＋. 文章以有序氧化镁（MgO(100)）薄膜和Pd/MgO(100) 体系为例,在超高真空条件下,用光电子能谱和高分辨电子能量损失谱方法,研究了水在它们表面的吸附与解离. 研究结果表明,H2O在MgO(100)表面可以被部分解离,而H2O在Pd/MgO(100)表面的解离与Pd的含量有关.了解水与固体表面的相互作用机理还需要做更多的基础研究工作.     

SSIMS测定MoO3-NiO-P2O5/γ-AL2O3催化剂表面结构

依据SSIMS(静态二次离子质谱)工作原理,用能量为1kV,束流密度为5～10×10~(-9)A/cm~2,束斑φ～1mm的Ar~+离子束,采用定点轰击的方式,测定以多孔绝缘性物质为载体的催化剂的表面成份及结构,成功地测定了MoO_3-NiO-P_2O_5/γ-Al_2O_3加氢精制催化剂的各活性组分在载体表面的单层分散情况及结构层次。从而确认SSIMS是测定负载型催化剂表面结构的一种有效方法。     

用ISS研究负载型催化剂中活性组分与载体间的相互作用

Low energy (1.5 KeV) ISS is a surface sensitive technique for identification of element on the top layer of material. The energy losses of primary particle during the collision in low energy ISS technique are assumed to be completely kinetic, i.e. the electronic interaction energy transfer is generally small and will be neglected. In this paper, however, the electronic effect is measurable for certain supported oxide or halide catalysts by improved experimental technique. The shift of scatter- ing He~+ peak due to electronic effect is remarkable and different for Mo in MoO_3/TiO_2, MoO_3/γ-Al_2O_3, MoO_3/SiO_2 and Cu in CuO/γ-Al-2O_3, CuCl/γ-Al_2O_3. The corresponding “mass increment” was calculated by the binary collision approach. We find out that the “mass increment” may characterize the interaction between active component and carrier in supported catalysts. Thus, low energy ISS is not only a good tool for surface elemental analysis but also an effective probe for chemical information of surface species.     

CuCl等在γ-Al_2O_3表面的分散及其对乙烯吸附的研究

本文研究了CuCl在γAl_20_3表面上的分散和乙烯在CuCl/γ-Al_2O_3上的吸附和程序升温脱附情况.X射线相定量法和紫外漫反射法都表明用烘烤法或浸渍法制备的CuCl/γ-Al_2O_3中CuCl在γ-Al_2O_3表面可达单层分散.X射线相定量法测得CuCl在γ-Al_2O_3表面上的最大分散量为0.095克CuCl/100米~2γ-Al_2O_3表面.吸附和程序升温脱附研究表明,分散在γ-Al_2O_3表面上的CuCl在室温常压下便可吸附乙烯,比纯CuCl吸附乙烯的能力提高千倍以上,分散后的CuCl吸附乙烯的分子比可高达0.19C_2H_4分子/Cu~ 离子.分散在γ-Al_2O_3表面上的CuCl可与C_2H_4,C_3H_6等形成表面π络合物,但要求有合适的几何环境.这些结果可供利用CuCl/γ-Al_2O_3分离含不饱和键分子时参考。     

X射线光电子能谱

X射线光电子能谱（X-ray photoelectron spectroscopy, XPS）技术也被称作用于化学分析的电子能谱（electron spectroscopy for chemical analysis,ESCA）.XPS属表面分析法,它可以给出固体样品表面所含的元素种类、化学组成以及有关的电子结构重要信息,在各种固体材料的基础研究和实际应用中起着重要的作用.文章简要介绍了XPS仪器的工作原理和分析方法,并给出了XPS在科学研究工作中的应用实例.