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131.
A series of thin Ag films with different thicknesses grown under identical conditions are analyzed by means of spectrophotometer. From these measurements the values of refractive index and extinction coefficient are calculated. The films are deposited onto BK7 glass substrates by direct current (DC) magnetron sputtering. It is found that the optical properties of the Ag films can be affected by films thickness. Below critical thickness of 17 nm, which is the thickness at which Ag films form continuous films, the optical properties and constants vary significantly with thickness increasing and then tend to a stable value up to about 40 nm. At the same time, X-ray diffraction measurement is carried out to examine the microstructure evolution of Ag films as a function of films thickness. The relation between optical properties and microstructure is discussed. 相似文献
132.
二极管伏安特性曲线测试电路的改进 总被引:2,自引:0,他引:2
指出了文献中所给出的伏安法测二级管特性曲线电路存在的问题,并给出了改进电路。 相似文献
133.
The novel Gd3(Fe0.978Ti0.022)29 compounds and their nitride have been synthesized. The X-ray diffraction patterns of the Gd3(Fe,Ti)29Ny and its parent compounds were indexed in the Nd3(Fe,Ti)29-type structure with a monoclinic symmetry and space group P21/c, Both the nitride and the parent compounds exhibit ferrimagnetlc coupling. Nitrogenatio led to an increase in Curie temperature and saturation magnetization. The Curie temperatures are 517K for the parent and 765K for the nitride. The saturation magnetizations σs at 4.2K are 101.9A·m2/kg for the parent and 128A·m2/kg for the nitride. Both the nitride and parent exhibit a planar anisotropy. Nitrogenation led to a decrease of the contribution of Fe-sublattice to planar anisotropy. The anisotropy fields at 4.2K are 9.8T for the parent and 6.5 T for the nitride. 相似文献
134.
H^+注入锗酸铋(Bi4Ge3O12或BGO)晶体引起某些效应,如辐射损伤,光学吸收和近表层区域的晶体分解。经H^+注入后,BGO晶体的颜色变成棕色,但实验中证实不了该变化是由色心的产生所引起。此外,实验中也示观察到H^+注入BGO晶体中有离子束诱发的光学活性变化。可见在注入过程中,未发生从Bi4Ge3O12转变到Bi12GeO20的结构相变,由此预见,注入过程中可能发生离子束引起的晶体分解。H^ 相似文献
135.
136.
电子产品,如电视机、收音机、录音机等,都是由成千上万个元器件组成的每一种元器件都有好或坏的问题.为了保证最终产品的质量,工厂从设计、生产到销售的各个环节,都有严格的质量管理制度,从而也日复一日、年复一年地进行着大量的统计.传统的统计方法和理论是建立在事件的随机性上的,但客观事物往往还有“模糊性”的一面. 一、模糊概率的概念 传统的概率论只研究事件的随机性.如某生产流水线的合格品率是99%,即任意抽取一件产品,有99%的可能抽到合格品.这里,“事件”是确定的。抽到合格品,但事件的出现与否是不确定的:有99%的可能出现,也有1%… 相似文献
137.
138.
使用分子动力学方法,模拟研究了单晶Cu(001)薄膜在双向等轴拉伸应变下的塑性变形行为.当应变超过一定值时,样品通过产生位错、层错及孪晶而发生塑性变形.当应变相对较低时,不全位错首先在薄膜表面形核并在密排面上滑移,留下堆积层错;当应变增加时,位错在表面与内部同时成核生长,层错数量也随之增加.分析了相邻滑移面上的位错之间相互作用形成孪晶的微观过程.材料内部形成大量堆积层错及孪晶后,较大孪晶的密排面上的原子也会发生滑移,形成孪晶内部的层错结构以释放残余应力. 相似文献
139.
为了研究高功率系统中高反膜的损伤机制,对高功率系统中最常用的基频高反膜进行了损伤实验。利用台阶仪、扫描电镜、表面轮廓仪等手段,对实验样品的典型损伤形貌进行了比较和分析。结果表明:保护膜的存在增强了样品的抗激光损伤能力;未加保护膜样品的典型破坏形貌是由材料热物特性差异导致的分层剥落损伤,这类损伤在后续的脉冲辐照下会迅速发展;有保护膜样品的典型破坏形貌是中心带有μm量级小坑的等离子体烧蚀损伤区,其主要是由缺陷受热力作用喷溅导致,小坑附近膜面的凸起是这种力学作用的宏观体现,这类损伤在后续的脉冲辐照中表现得相对比较稳定。保护膜的存在,在一定程度上抑制了分层剥落这种灾难性损伤的出现,改善了样品的损伤特性。 相似文献
140.