5.5到21.7MeV/A~(28)Si+~(197)Au系统的裂变测量(Ⅱ)~*非完全熔合裂变与跟随裂变角分布

从裂片关联测量给出的线性动量转移(LMT)分布,将非完全熔合裂变与跟随裂变事件分开,分别给出其裂变角分布.用卡西尼亚卵形体计算惯性矩,采用常规方法拟合裂变角分布,提取裂变核自旋值,讨论其随入射能的变化关系.此外,还讨论了与复杂粒子符合的裂变角分布.     

5.5到21.7MeV/A 28Si+197Au系统的裂变测量(Ⅱ)非完全熔合裂变与跟随裂变角分布

从裂片关联测量给出的线性动量转移(LMT)分布,将非完全熔合裂变与跟随裂变事件分开,分别给出其裂变角分布.用卡西尼亚卵形体计算惯性矩,采用常规方法拟合裂变角分布,提取裂变核自旋值,讨论其随入射能的变化关系.此外,还讨论了与复杂粒子符合的裂变角分布.     

双频CO2激光器的输出特性分析及三频外差测量研究

本文从实验上研究了固定谱线CO_2激光器的双频输出特性,并对其产生双频输出的原因作了初步分析;利用该激光器,成功地进行了三频外差测量研究。     

Cu(100)表面c(2×2)-N原子结构与吸附行为研究

用密度泛函理论的总能计算研究了金属铜(100)面的表面原子结构以及氮原子的c(2×2)吸附状态.研究结果表明：在Cu(100) c(2×2)-N表面系统中，氮原子处于四度配位的空洞(FFH)位置，距离最表面铜原子层的垂直距离为0.20?，最短的Cu—N键长度为1.83?.结构优化的计算否定了被吸附物导致的表面再构模型，即c(2×2)元胞的两个铜原子在垂直于表面方向发生相对位移，一个铜原子运动到氮原子之上的模型.该吸附表面的功函数约为4.65eV, 氮原子的平均吸附能为4.92 eV(以孤立氮原子为能量参考点).计算结果还说明，Cu—N杂化形成的表面局域态的位置在费米面以下约1.0 eV附近出现，氮原子和第一层以及第二层铜原子均有不同程度的杂化作用.该结果为最近有关该表面的STM图像的争论提供了判据性的第一性原理计算结果. 关键词： Cu(100) c(2×2)-N 表面吸附态 密度泛函总能计算     

相干成象激光雷达

 一、微波雷达到激光雷达微波雷达是到目前为止使用最普遍、技术最成熟的雷达技术之一,往往也称其为电雷达或常规雷达.微波雷达是人们相当熟悉的,它已经广泛应用于军事、国民经济以及航空、航天等各个科学技术领域里.但是,微波雷达往往不能给出令人满意的速度、距离以及空间分辨率,特别是在距目标很近时(如几米至几十米之间)微波雷达往往进入盲区,完成不了某些要求,即所谓的“失灵”.即便是在常规时,由于微波的波长较长,对同一目标的信息量获得的少,影响雷达系统的灵敏度.进入二十世纪六十年代,激光器的研制获得成功.于是以激光器为辐射源的激光雷达的研究,引起许多科学家的重视.     

测量低能离子能量的圆柱形静电分析器

本文叙述了测量离子能量低至10电子伏的圆柱形静电分析器的结构和实验结果。实验结果表明,该分析器在10—250电子伏的能量区域内,氢离子能量Ei和分析器偏转电压保持良好的线性关系。它的能量分辨率约为2.3％。     

保守内力场中质点组的势能

一、引言 在通常的物理教材中,对位于保守力场中质点组的势能问题讨论的较少.既使是有些地方涉及到此问题,多数是采用直接作功的方法得到的,而且,看不出其普遍意义。 本文试图采用一种较简单的方法,得到计算保守内力场中质点组势能的公式,且适合于各种形式的保守内力场. 二、公式的导出过程 某质点(物体)所受到的保守力,可以用该质点(物体)势能梯度的负值来表示,即引入矢量符号,就可以将上面三式用一个矢量式表示,那就是下面,依据这个关系式,导出计算公式. 　设某质点组内第i和第j个质点间相互作用的保守内力用Fij和Fij表示.其中,Fij表示…     

聚焦离子束研制半导体材料光子晶体

介绍了利用聚焦离子束设备在多种半导体材料上成功研制的近红外波段二维光子晶体，给出了相关微加工结果，发现微加工的尺寸和理论设计尺寸相吻合；测试了所加工的无源光子晶体光子带隙和有源光子晶体的发光谱. 实验证明聚焦离子束可以研制二维光子晶体及相关光子晶体器件. 关键词： 聚焦离子束 半导体材料 光子晶体     

神光-Ⅲ 3ω光路自动准直系统设计

基于闭环反馈控制理论，对神光-Ⅲ 3ω光源自动准直系统进行设计，分析系统的工作原理、控制算法和软件控制流程。对准直过程中电动控制对于控制结果影响的变化规律建立了数学模型，旨在克服俯仰和方位相互联动对准直精度的影响。采用二维镜架自动准直方案，使准直偏差在预定调整范围内不断收敛。神光-Ⅲ调试现场的准直结果证明：该自动准直系统达到了设计要求，即自动准直系统在半小时内完成8路光束的光束准直，其角度误差≤5.0%/空间滤波器小孔直径,平移误差≤1.0%(光束近场直径精度)。