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软X光多层镜反射率标定实验在北京同步辐射装置上进行,利用BSRF-3W1B 束线及其反射率计靶室(主靶室)标定不同材料的多层镜样品的反射率.多层镜的标定采用波长扫描法,以得到样品反射率随波长变化的曲线.给出了21°-B4C/Si,21°-B4C/Mo,10°-Cr/Ti,15°- B4C/W,10°- B4C/W以及6.86°-B4C/W等6块多层镜在50~1 500 eV能段上的反射率标定曲线,并将其与理论计算结果进行比较.结果表明标定曲线与理论曲线很好地符合.影响标定结果的总不确定度的主要因素是光子能量不确定度,其次是角度不确定度,测量不确定度的影响很小. 相似文献
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薄膜样品在实验研究领域要求样品的厚度测量精度非常高,但由于样品质量小,采用称重的方法,测量精度较差。在北京同步辐射装置的中能(4B7A)和低能(4B7B)束线上(光源能区为0.1~6.0 keV,能量分辨大于1 000),采用材料对单能光子的透过率来确定样品的质量厚度,通过不同能点的测量值进行不确定度分析,提高测量精度,降低不确定度。利用该方法开展了复合样品厚度的测量方法研究,给出了有CH衬底的薄膜样品的厚度,通过不确定度分析得出,薄膜样品厚度的测量不确定度小于1%。 相似文献
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X-ray magnetic circular dichroism (XMCD) has become an important and powerful tool because it allows the study of material properties in combination with elemental specificity, chemical state specificity, and magnetic specificity. A new soft X-ray magnetic circular dichroism apparatus has been developed at the Beijing Synchrotron Radiation Facility (BSRF). The apparatus combines three experimental conditions: an ultra-high-vacuum environment, moderate magnetic fields and in-situ sample preparation to measure the absorption signal. We designed a C-type dipole electromagnet that provides magnetic fields up to 0.5 T in parallel (or anti-parallel) direction relative to the incoming X-ray beam. The performances of the electromagnet are measured and the results show good agreement with the simulation ones. Following film grown in situ by evaporation methods, XMCD measurements are performed. Combined polarization corrections, the magnetic moments of the Fe and Co films determined by sum rules are consistent with other theoretical predictions and experimental measurements. 相似文献
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为了获得nm量级薄膜样品的精确厚度,采用软X射线反射率拟合方法、Bragg衍射方程方法和反射率Fourier变换方法分析了常规Cu靶X射线衍射数据及软X射线反射率数据。对厚度测量结果进行比较,3种方法得到的结果一致性很好。其中,软X射线反射率拟合和Bragg衍射方程方法精度很高,优于1 nm,Fourier变换方法精度稍低。对于单层W薄膜样品,3种方法获得厚度分别为(15.21±0.60) nm,(14.0±1.0) nm和(13.8±1.5) nm;对于双层W/C薄膜样品,W层厚度分别为(12.64±0.60) nm,(13.0±1.0) nm和(13.9±1.5) nm。这3种方法测量结果精度主要取决于反射率数据测量精度,而Fourier变换方法精度随着能量升高而提高,随着掠入射角范围增大而提高。 相似文献