染污绝缘子沿面电场分布与局部电弧发展的关系

本文建立了在交流电压下出现局部电弧后和叠加冲击电压时沿面电场计算的数学模型;通过数值仿真和实测电场分布,提出了染污绝缘子沿面电场分布与局部电弧发展的关系。     

金黑腔方形诊断孔电火花铣削加工技术

通过电火花加工技术,采用分层铣削加工方法,利用形状简单的圆柱电极,实现了Au黑腔侧表面方形诊断孔的加工。通过对分层厚度的控制,将放电区域控制在电极底部,避免了电极侧面放电对诊断孔尺寸的影响。通过扫描电镜对诊断孔形貌进行检测,采用奥林巴斯测量显微镜测量诊断孔尺寸,结果表明：孔的尺寸加工精度可控制在5 m,诊断孔边缘清晰,无毛刺及锯齿形状。     

钛球表面研磨技术研究

采用四轴球体研磨方法对金属钛球进行精密研磨实验,通过Talysurf轮廓仪对球体表面粗糙度进行测试,通过靶丸表面轮廓仪检测钛球圆度。结果表明：钛球表面粗糙度可达小于10 nm,圆度小于1.0 m。通过对球体的受力分析表明,在四轴空间对称分布的情况下,需满足四轴受力基本相同,研具半径为被研球体的0.816倍,可获得圆度较好的球体。     

荧光分光光度法对马波沙星含量的测定

在pH 5.0和CTMAB存在下,荧光分光光度法测定血液中的兽药马波沙星,CTMAB可增强马波沙星荧光强度1.5倍。检测线性范围为5.5×10-8～3.0×10-6mol/L,检测限为4.6×10-8mol/L,相对标准偏差为1.5%。该方法可用于血液中马波沙星测定。     

冲击波实验用铝楔形靶加工技术

采用单点金刚石车削技术制备加工铝楔形靶,发现金刚石车削加工楔形靶实际轮廓为圆锥面。通过Veeco NT1100白光干涉仪对表面轮廓及粗糙度进行了测量,结果表明平面部分表面粗糙度小于50 nm,最大峰谷值小于100 nm,斜面部分表面粗糙度小于200 nm。分析认为斜面部分粗糙度测量数值较大是由刀具工作角度变化导致的,而测量轮廓线非圆锥体母线又导致粗糙度测量结果大于实际值。     

纳米厚度贫铀/Au多层膜的制备及特性研究

理论和实验研究表明,纳米厚度周期调制的贫铀(DU)/Au多层膜材料具有高效的激光X射线转换效率. 采用交替磁控溅射制备纳米厚度的DU/Au平面多层周期结构,通过白光干涉仪、扫描电子显微镜、 X射线光电子能谱对DU/Au多层膜的几何参数、表面形貌、成分以及界面形貌进行表征.实验结果表明: 8 nm为Au连续成膜的厚度阈值,结合理论计算最优化原子配比,选取DU层厚度为30 nm、 Au层厚度为8 nm的调制周期结构;实测周期厚度为37 nm;扫描电子显微镜照片显示DU/Au分层明显; X射线光电子能谱深度刻蚀分析表明DU/Au界面处存在扩散, DU, Au, O三者原子比为73:26:1; 由于团簇效应, Au原子4f电子结合能向高能端移动,没有观察到DU相应的电子结合能移动现象.     

电磁波导辛体系下的周期皱波导分析

基于Hamilton变分原理的电磁波导辛体系自建立以来解决了传统电磁有限元所不能解决的一些问题。本文在介绍这一体系之后,经半解析横向离散及辛正则化,给出了类凝聚和协调质量阵。针对常见的周期皱波导问题,引入等效折射率概念,将皱波导转化为折射率周期变化的多层薄膜,并将其对应为力学分析中的条形域问题。最后给出的数值例子中所计算的通带辛本征值与解析解很接近,表明该理论方法有很高的计算效率。     

补偿波段建模方法及其在血清葡萄糖光谱分析中的应用

利用傅立叶变换红外光谱(FTIR)和衰减全反射(ATR)技术,建立血清葡萄糖的快速定量分析方法。基于模型预测效果,提出了一种联合最佳单波段的补偿波段建模方法。在全谱(4000~600 cm-1)区间,根据移动窗口偏最小二乘法得到人体血清葡萄糖的最佳单个连续波段后,另外选择一个波段进行补偿建模,优选出最佳补偿波段。结果表明,这种补偿波段建模方法建模效果不仅仅远好于全谱,也好于最佳单个波段。用独立的实际样品对模型进行测试,补偿模型的预测均方根偏差(RMSEP)和预测相关系数(Rp)分别为0.782 mmol/L和0.944。     

黑腔芯轴平台微细电火花加工技术

采用电火花成型加工技术,在黑腔芯轴侧表面加工平台。采用白光干涉仪对平台表面轮廓及粗糙度测量,结果表明: 平面部分表面粗糙度小于0.5 m,最大峰谷高度小于15 m。通过奥林巴斯测力显微镜对平台尺寸测量,结果表明：平台的轴向尺寸加工精度可控制在10 m,同一电极加工的平台尺寸一致性可控制在2 m。分析了电极损耗对零件形状精度的影响规律以及平台表面粗糙度的影响因素,并通过负极性加工去除电极损耗对平台尺寸精度的影响。     

冲击波实验用铝楔形靶加工技术

采用单点金刚石车削技术制备加工铝楔形靶,发现金刚石车削加工楔形靶实际轮廓为圆锥面。通过Veeco NT1100白光干涉仪对表面轮廓及粗糙度进行了测量,结果表明平面部分表面粗糙度小于50 nm,最大峰谷值小于100 nm,斜面部分表面粗糙度小于200 nm。分析认为斜面部分粗糙度测量数值较大是由刀具工作角度变化导致的,而测量轮廓线非圆锥体母线又导致粗糙度测量结果大于实际值。