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41.
以正硅酸乙酯为前驱体,氨水作催化剂,采用溶胶-凝胶法提拉镀制SiO2双面膜,对薄膜进行氨处理和热处理。采用椭偏仪、分光光度计、红外光谱、扫描探针显微镜、静滴接触角测量仪表征薄膜的特性。研究表明:经氨热两步后处理,膜厚持续减小,折射率经氨处理先增大了0.236,再经热处理又减小了0.202,膜层透光性变好,透过率峰值持续向短波方向移动;经两步后处理的膜面平整度明显变好,与水的接触角先增大到58.92°后减小到38.07°。 相似文献
42.
43.
44.
本文用弹性理论复变函数方法讨论了在内部任意位置含直线裂纹的有限圆盘在一般载荷作用下的平面问题,得到了复应力函数和应力强度因子用级数表示的一般表达式,并对此问题讨论了三种特殊情形,即裂纹受均布压应力,均布剪应力和圆盘匀速旋转的情形,其中还给出了计算应力强度因子的近似式.计算结果表明,对位于圆盘内部且不靠近外边界的中、小裂纹,这些近似式给出好的或较好的近似. 相似文献
45.
对蛋白质在离子交换柱上选择民性和非吸附特性进行了研究。蛋白质在有机磷酸锆阳离子色谱柱上,其保留作用随流动相pH值在离子强度的增加而减小;蛋白质在强阳离子和强阴离子色谱柱上的保留作用,即是流动相中的pH值等于蛋白质的等当点,其净电荷为零。不册蛋白质仍有不同程度的保留,这主要是由于蛋白质的三维结构使电荷 密度的大小和分布的不均匀以及离子交换填料表面性质的影响。 相似文献
46.
作者用分光光度计测定25℃下甲苯在十五种盐水溶液中的盐析常数k。所用的盐为:LiCl,NaCl,KCl,CsCl,NH4Cl,NaF,NaBr,NaClO3,NH4Br,(CH3)4NBr,(C2H5)4NBr,MgCl2,CaCl2,SrCl2,BaCl20在十五种盐中,只有两个溴化季铵盐对甲苯起盐溶作用,其余均起盐析作用。对于1-1价盐,k值的次序是NaF>NaCl>KCI>NaBr>NaClO3>LiCl>NH4Cl>CsCl>NH4Br>(CH3)4NBr>(C2H5)4NBr。这次序和一般非极性非电解质的盐析效应次序相同。定性地符合vanderWaals力理论,Dcbye-McAulay的静电理论以及McDevit和Long的内压力理论。对于2-1价盐,k值的次序是BaCl2>SrCl2>CaCl2>MgCl20即盐析效应随离子晶体半径的增加而上升。这次序和色散力理论的次序恰相反。但是,如果假设二价离子对水的静电作用能伸展到原水化层以外的水分子,并考虑水化离子和水的静电作用,以及它和甲苯的色散作用,以上四种盐的反常次序就得到解释。 相似文献
47.
新型无机/有机复合柱撑粘土材料的合成与表征 总被引:7,自引:0,他引:7
以无机TiCl4/HCl制成的钛基柱撑液和十六烷基三甲基溴化胺(CTAB)为有机改性液,通过控制两种柱撑液的加入顺序以及相对含量,利用蒙脱石粘土矿物层间域的特殊化学反应场所的特性,合成得到三类复合柱撑蒙脱石材料.X射线衍射结果表明,d001晶面由于CTAB与钛基水合离子的相互作用形成粒度不同的柱撑空间而表现为两个峰值.与FT-IR光谱相比,FT-Raman光谱能够更加有效地表征和鉴定复合柱撑粘土的结构差别.采用原土无机柱撑后再有机柱撑,可以合成层间距更大的复合柱撑粘土材料.经热处理后得到锐钛型氧化钛的改性粘土材料,并且可以重新合成得到无机/有机复合柱撑的新型改性粘土材料.这些合成手段为制备新型改性粘土材料应用于环保以及化工等方面提供了借鉴. 相似文献
48.
49.
印刷有机电子技术是基于印刷原理的有机电子器件制造技术,是指将有机电子材料配制成功能性油墨,用印刷方式来制造电子器件与系统的方法,其发展涉及到材料化学、微电子学等多个学科方面的知识。其独特的制造方式和器件形态具有柔性、低成本、大面积制造等优势,并且与传统硅基电子器件在应用场合上形成了互补,在生物传感、电子皮肤、柔性显示等领域展示出优势。为了及时跟进这一快速发展的领域,对领域的发展有宏观的把握,本文从印刷技术和电路系统的角度进行了全面概述,介绍了喷墨打印、丝网印刷和转印印刷等印刷技术和基于印刷技术制备的有机数字电路(反相器、与非门、环形振荡器、D触发器),以及实现功能化的印刷电子应用(RFID、电子皮肤、OLED显示驱动背板等);最后,对本领域目前存在的问题和未来发展方向做了简要探讨。 相似文献
50.
利用电子顺磁共振(EPR)谱和透射电子显微镜(TEM)研究了YSZ单晶的辐照效应。200 keV的Xe和400 keV的Cs离子注入[111]取向的YSZ单晶中,注量均为5×1016 cm-2。EPR结果表明辐照产生了共振吸收位置g‖=1.989 和 g⊥=1.869、对称轴为[111]的六配位Zr3+顺磁缺陷。Cs辐照产生了比Xe 离子辐照多约150倍的六配位Zr3+顺磁缺陷。两种样品的剖面电子显微分析表明没有发现非晶化转变,但是Cs离子辐照的样品在损伤集中区域产生了密度较高的缺陷。因此,EPR谱和电子显微观察均说明在相同离位损伤(约160 dpa)的情况下,Cs离子辐照比Xe 离子辐照产生了更多的缺陷。造成这一现象的原因是Cs离子是化学活性的而Xe 离子却是惰性的。 相似文献