扫描电镜用于PTFE拉伸微孔膜的形态结构研究--研制中PTFE拉伸微孔膜的SEM鉴定

运用扫描电镜 (SEM )图像研究了聚四氟乙烯 (PTFE)粉料经过推挤、辊压和拉伸得到的微孔膜的形态结构 ,观察到膜是由网状纤维及由它所连接的结点所组成 .单相和双向拉伸显著影响到膜结构的改变 ,而未经热处理的拉伸膜的丝状纤维在放置中收缩改变了膜的微孔形态结构 ,但在孔径测定中没有显著变化 .认为纤维丝是PTFE粉料在推挤和辊压中形成的结点在拉伸中伸展引出的并产生孔隙 ,而由于从SEM仅能观察到 1nm深度的膜表面层 ,厚度达数十微米多孔膜的孔径分布应是很错杂的 .     

膨体聚四氟乙烯微孔滤膜孔结构的扫描电镜图像解析

由拉伸法制得的膨体聚四氟乙烯(e PTFE)微孔滤膜,其孔结构与其他高分子材质膜截然不同.运用扫描电镜(SEM)图像解析方法描述纤维化的PTFE分子和相互连接的PTFE积聚分子结点,膜的孔性能分别以数字量化的参数: LF、WF、LN、WN、AN表示.测试结果与一般微孔滤膜常用泡压滤速法测定表示孔性能的表观密度和孔隙率有对应关系,说明SEM图像解析可作为表征e PTFE膜孔结构的方法之一.此外,图像解析还可显示原料PTFE分子量和机械操作中的拉伸比对生产的e PTFE膜孔结构的影响.     

利用单色谱仪研究炸药粉快速反应产物发射谱

利用作者研制的快速反应（爆轰）光谱探测技术研究了五种常用猛炸药快速反应最终产物光谱。研究表明，随着炸药负氧平衡值的影响，最终产物Ｈ２Ｏ的含量也增加，同样随着炸药中碳含量的增加ＣＯ２量增加，固体Ｃ２也明显增多，它能为爆轰产物合成金刚石选用主炸药提供有参考价值的数据，实验值与ＢＫＷ方程计算进行了比较，其趋势是一致的，为微观研究炸药粉快速反应提供了一个较简便而行之有效的方法。     

环氧丙烷点火的光谱研究

 利用多种光谱技术，提出了一种确定燃料冲击点火延迟时间的新方法。用这种方法所获得的实验值比国内外常用光电二极管（峰值波长约在800 nm）方法的所测值更接近实际值。环氧丙烷受冲击后，反应中间产物出现的时间是不同的，辐射强度也不同。在冲击波作用下，基团出现的顺序便可确定，它们依次为O、CH₂O、C₂、CH、CH₃O、CO₂、H₂O等，而O原子总是首先出现。     

画曲线软件在数据处理中的应用

本文介绍画曲线功能较强的Grapher软件的特点和用法，指出此软件较适用于物理实验中的处理数据和科学计算。     

汽油点火后DDT过程中自由基辐射特性的研究

利用激波管技术以及光辐射特性测量技术成功地研究了汽油燃烧转变为爆轰过程（DDT）中光辐射特性。沿着波阵面传播方向测量和垂直于波阵面传播方向的测量结果说明,这两种方法都能较好地研究汽油的DDT过程,平行于波阵面传播方向进行测量能在同一发实验中研究DDT全过程中的辐射特性的变化过程。研究发现,在DDT过程中快接近爆轰出现时,C2基从出现到最大值所需的感应时间c2大于CH基从出现到最大值所需的感应时间CM。在CH基明显增长时刻出现爆轰,此结果和传感器测量结果以及烟膜技术确定的爆轰波阵面胞格结构出现的位量完全相符。研究表明,C2基和CH基辐射感应时间都随着激励压力的增加而迅速减小。在激励压力比较低时,CH基出现的时间TCM大于C2基出现的时间TC2,在激励压力大于2.7MPa后,CH基和C2基出现的时间就比较接近。     

近代物理虚拟实验室的建设

近代物理实验所需设备昂贵、占地面积大,仪器内部结构不能看清楚,有些甚至还有一定的安全风险(如辐射)等原因,配备到实验室中有一定的难度,建设一个近代物理虚拟实验室,其中包括若干个虚拟实验,拓宽了物理实验的时空观,且不受场地的限制,增加了受训人员的实验有效时数,提高了效率,是传统实验的有效补充和完善.本文分析了近代物理虚拟实验室软件系统实现的重点及难点,介绍了系统的关键技术及实现方法.     

用多种谱仪技术研究环氧丙烷点火的微观特性

利用OMA(光多通道分析系统)谱仪和单色谱仪技术研究了环氧丙烷冲击点火的微观特性.OMA谱仪观察到O,CH2O,C2,CH,CH3O,CO2,H2O等许多中间产物和最终产物.利用三台单色谱仪和压力传感器确定环氧丙烷冲击点火后这些产物出现的顺序并确定了它们的点火延迟时间和临界条件.     

摄像机标定精度研究中的图像及数据处理问题

在计算机视觉测量系统中，摄像机的标定精度对保证测量结果的可靠性起着至关重要的作用，本文利用数学形态学探讨了图像处理的精度，并论述了豪斯荷尔德矩阵分解法在确保求解数值稳定性中的作用，最后通过对标定块上特征点进行三维重建的精度分析，验证了摄像机的标定精度。     

树,单圈图,双圈图依谱矩的排序

设G=(V(G),E(G))是一个n阶简单图,V(G),E(G)分别为图G的顶点集和边集.G的k阶谱矩sk(G)为G的所有特征值λ1,λ2,···,λn的k次幂之和,即sk(G)=n i=1λi k.该文首先列出图的五种变换,然后得到了其对任意图的零到四阶谱矩的变化规律,最后依次给出了树和单圈图依谱矩序列S4的字典序分别排在前4-6位和后4-6的图及其特征以及双圈图依谱矩序列S4的字典序排在前6位和后6位的图及其特征.