新型掺Tb3+硅酸盐发光玻璃的研制

在数字X射线成像系统中使用的X光-可见光转换屏具有相当重要的作用,其性能直接影响成像系统的性能。针对特殊用途开发了一种新型掺Tb3+硅酸盐发光玻璃转换屏,可用于30 MeV的γ光子的成像探测;在低能X光（100 keV）作用下的空间分辨能力与301型发光玻璃相当,而在能量高达12 MeV的X光的照射下,其空间分辨能力不低于1.5 lp/mm,发光效率约为301型发光玻璃的3倍。并对其性能进行了实验研究,相应的测量结果为：SiO2的质量分数达到50％以上时才能得到玻璃性质较好的材料,并使发光性能得到提高,BaO和Cs2O的质量分数接近相等的条件下,Tb3+离子的质量分数为10.5％时发光性能最好;适量的Gd3+离子可以敏化Tb3+发光,也能增加玻璃密度,而Ce3＋离子可以降低发光的余辉;其它的微量元素则主要影响玻璃的熔融温度。     

具有时间分辨能力的强流电子束束剖面测量系统

高能强流电子束的束参数测量是加速器研制过程中重要的一项测量工作,由于光学渡越辐射具有时间响应快、分辨率高等特点而被用于测量电子束的具有时间分辨能力的束剖面、发散角、能量等多个参数;通过电子束束参数的时间分辨测量则能够了解电子束产生、输运中的问题,非常有利于加速器的研究与调试。一种具有时间分辨能力的、利用光学渡越辐射进行高能强流电子束束斑测量的系统在中国工程物理研究院被建立起来,并在12 MeV LIA的电子束束斑的测量中用于电子束传输研究,该系统拍摄图像的间隔时间最小为10 ns,最小的曝光时间为3 ns,具有一次可以拍摄8幅图像的能力,并获得了12 MeV LIA约100 ns内相应的时间分辨的束斑变化情况,观察到了一些过去未观察到的现象,为加速器的研究提供了又一个新测试方法。     

反磁回路技术诊断2MeV注入器出口处束包络半径

反磁回路(Diamagnetic loop,DML)诊断强流脉冲电子束半径的技术是一种可在线诊断的技术. 这种诊断技术与其他方法(如三梯度法)相配合可以同时在线诊断强流脉冲电子束的发射度、束包络斜率等参数. 介绍了反磁回路诊断电子束时间分辨均方根半径的原理, 并建立了相应的装置,通过标定给出了定标系数. 利用反磁回路诊断装置测量了2MeV直线感应型注入器出口处双脉冲强流电子束包络的均方根半径分别为6.84mm和5.63mm,和用分幅相机同步测量的结果具有较好的一致性.     

直线感应加速器中CCD相机的远程控制

介绍一种通过pcAnywhere10．5软件实现直线感应加速器(LIA)中CCD相机的远程控制方法。在局域网中利用这一技术，本地计算机可以通过控制软件发送指令给远程计算机．使得远程无人值守计算机能够完成LIA中CCD相机的一系列控制工作。     

Time-resolved energy spectrum measurement of a linear induction accelerator with the magnetic analyzer

We recently set up a time-resolved optical beam diagnostic system. Using this system, we measured the high current electron beam energy in the accelerator under construction. This paper introduces the principle of the diagnostic system, describes the setup, and shows the results. A bending beam line was designed using an existing magnetic analyzer with a 300 mm-bending radius and a 60° bending angle at hard-edge approximation. Calculations show that the magnitude of the beam energy is about 18 MeV, and the energy spread is within 2%. Our results agree well with the initial estimates deduced from the diode voltage approach.     

台阶测量系统MTF的误差分析

本文分析了使用台阶方法测量辐射照相系统MTF的误差产生情况，指出了在实验中应注意的问题。     

转换屏背底散射对图像对比度的影响

在X光图像探测系统中，通常采用把X光转换为可见光、对可见光进行探测的方法来完成对X光的探测。在转换过程中，一般采用各种类型、结构的荧光屏来完成将X光转换为可见光的过程，而在高能X光的探测系统中，则常采用量子效率高、原子序数大的材料如CsI：T1晶体作为转换屏。由于转换屏存在一定的厚度，所发出的可见光将会在转换屏内部进行全方位的传播，一部分照射到转换屏背底的可见光被散射后进入图像记录系统，     

辐射照相系统中转换屏的分辨率研究

 在高能X光辐射照相系统中，通常使用闪烁体材料的转换屏将X光转换为可见光进行探测。建立了转换屏空间分辨率的计算模型，模拟了转换屏的空间分辨率随屏的厚度、材料及X光子能量的变化关系，为系统的设计提供了参数。     

利用切伦科夫进行电子束发散角测量的模拟研究北大核心CSCD

利用切伦科夫辐射方向性极好的特性进行电子束发散角的测量是一个比较有希望的方法,但转换靶材料对电子的库伦作用力等因素又使得电子束散角展宽,对发散角的测量产生影响。在将转换靶划分成多重薄片并以串联的形式构建了靶模型,考虑了库仑力、多重散射、轫致辐射、电离等全物理过程作用效果的情况下,利用蒙特卡罗模拟软件相关程序对电子在靶材料中的发散过程进行了仿真。基于电子束散角分布与切伦科夫辐射光子分布相对应的原理,完成了对电子束发散角测量技术的模拟,获得了转换靶材料及其厚度、电子束能散、测量系统光学带宽等对电子束发散角测量的影响规律,为测量系统的设计及数据反演处理工作提供了指导性的建议。模拟结果显示,基于切伦科夫辐射进行电子束发散角测量的方法具有可行性,具有一定的对电子束发散角分布进行测量的能力。