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软X光激光用多层膜反射镜的设计与性能模拟计算 总被引:6,自引:2,他引:4
介绍在研制软X光激光用多层膜反射镜中发展起来的一套设计方法。给出了这类反射镜在现阶段所研究的部分X光激光波长下的设计结果。利用波动光学迭代方法模拟计算了反射镜的性能,并讨论了膜厚控制误差、表(界)面粗糙度等对性能的影响。 相似文献
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退火对ZnS纳米晶结构相变及发光的影响 总被引:4,自引:0,他引:4
采用共沉淀法制备了ZnS及ZnS:Eu纳米晶粉末,并对其在不同温度进行了退火处理。通过X射线粉末衍射(XRD)技术及差热分析实验(DTA)对ZnS纳米粒子在退火过程中的从立方到六角晶相的结构相变进行了研究。实验结果表明,同体材料相比,由于ZnS纳米晶具有较大的表面活性,其相变温度大大降低了。在由纳米粉末退火制备的样品中,观察到峰值位于460nm和520nm的两个发光带。前者是ZnS的自激活发光;后者归因于纳米晶制备过程中引入的缺陷或者在退火过程中形成了杂质能级。在退火温度低于800℃条件下,由纳米粒子制备的样品和由商用生粉制备的荧光粉相比较,前者的发光明显较强。铕的掺杂并没有形成新的发光中心,但却极大的增强了ZnS的缺陷发光。 相似文献
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软X射线(60—900eV)超薄膜的光学常数 总被引:1,自引:1,他引:0
用反射率方法测定了软X射线波段(60~900eV)超薄膜的光学常数.反射率测量在同步辐射光束线上完成.对测量数据做非线性最小二乘曲线拟合得出光学常数,同时还精密确定了超薄膜的膜厚与薄膜与基板表面粗度的均方根值.文中介绍了样品制备、反射率测量、数据解析及误差分析的方法,并给出了C、Au、Pt超薄膜的相应结果. 相似文献
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激光等离子体软X射线光源光谱强度测量方法 总被引:10,自引:1,他引:10
提出了一种新的探测和测量激光等离子体软X射线源光谱强度的方法。该方法使用通道电子倍增器和定标过的硅光电二极管为探测器 ,前者是非标准探测器 ,后者为标准探测器。应用电荷灵敏前置放大器测量探测器产生的电量 ,并以高分辨率的光谱仪为分光元件 ,在已知光栅效率、通道电子倍增器增益、硅光电二极管能量响应的条件下 ,给出了计算激光等离子体软X射线源在某一波长光谱强度的公式 相似文献
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X射线Bragg-Fresnel元件是近十年发展起来的一种用于X射线波段的新型光学元件。本文介绍一种具有二维聚焦效能的Bragg-Fresnel元件的设计理论和方法。设计中采用衍射理论并用C语言编制计算机程序系统对衍射图形进行设计。对于使用波长13.8nm,入射角5°,使用焦距200mm的使用条件,设计结果为35Mo/Si双层多层膜,周期厚度7.14nm,理论反射率约为60%;衍射图形共400个环带,最内环半宽度52.5μm,最外环宽度1.3μm。 相似文献
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