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61.
束破不稳定性的变换法解析理论   总被引:1,自引:1,他引:0  
束破不稳定性(BBUI)是导致直线加速器中电子束横向运动的致命因素,因而必须进行研究,以便采取相应的扼制措施。我们利用傅立叶变换法求解了BBUI的基本方程,研究了在不同的此导磁场位形下的束破不稳定性(BBUI)增长情况和增长率的e-指数值公式、考察并决定BBUI的增长率(即e-指数值)的物理参数,提出了降低BBUI增长率的相应措施  相似文献   
62.
为了进一步研究高能X光散射的特性,以平板为模型,通过解析方法和蒙特卡罗(MC)数值模拟研究了X光散射的规律。研究结果表明:高能X光的散射以康普顿散射为主,当平板厚度相应的X光光程小于2.0时,平板散射中的一次康普顿散射超过75%;当到达探测器的散射照射量最大时,平板厚度相应的X光光程介于1.0与2.0之间。  相似文献   
63.
介绍了控制束心Corkscrew运动的原理。给出了用COS/SINI线圈方法产生引导磁场(校正磁场)并比较两种设计结果,指出用较严格设计的COS/SIN线圈能更有效地调谐校正磁场。  相似文献   
64.
含FTO的闪光照相系统中,FTO是由一组同心球层组成的静态高密度客体,其动态量程高达4480。后锥的使用会大大降低系统的直散比DSR,并且散射空间分布的不均匀性也很严重。  相似文献   
65.
 在分析高能闪光照相中传统实验方法不足的基础上,提出了采用Monte Carlo模拟结果来建立底片光学密度与照射量之间的关系,并对一个球对称客体进行了实验照相。采用Monte Carlo方法分析了底片光学密度分布左右不对称的各种因素,认为底片光学密度分布左右不对称主要是照相器件几何对中不理想造成的,并说明了底片光学密度左右平均的合理性。在此基础上介绍了H-D曲线的生成方法,采用Silberstein理论得到了具有较高精度的H D曲线。这种结合Monte Carlo模拟的H-D曲线测量方法不但避免了照射量测量误差,而且还考虑了H-D曲线对X射线能谱的依赖关系,更能体现实际情况,具有较高的精度。可用于球对称客体或柱对称客体的辐射照相。  相似文献   
66.
研究了闪光X射线辐射照像蒙特卡罗程序(FXRMC)在MPI平台下的并行计算实现,给出了实现过程中并行随机数的产生方法。对并行程序的测试结果表明:并行程序与串行程序结果一致,加速比比较理想,呈线性增长,并行效率在16个处理器上可达80%以上。算例的结果说明了并行化可有效地解决程序计算散射技术性能时的耗时问题,从而有效化解FXRMC耗时和大规模计算的困难,提高了FXRMC程序的计算规模和计算速度,达到了研究要求。 (Institute of Fluid Physics, CAEP, P. O. Box 919-105, Mianyang 621900, China)  相似文献   
67.
为了在客体密度重建过程中采用迭代法扣除散射X射线的影响,提出了以散射分布均匀为主要目的的闪光照相系统设计思想。在介绍散射分布均匀性定义的基础上,分析了均匀扣除散射所带来的光程差。采用蒙特卡罗方法研究了系统放大倍数、照相距离以及后防护锥到图像接收系统的距离对散射分布均匀性的影响。结果表明:后防护锥到图像接收系统的距离是影响散射分布形状和散射照射量大小的一个主要因素;当后防护锥到图像接收系统的距离为55 cm左右时,散射分布均匀性近似最佳,而且照相距离越大,散射分布均匀性越好。这些研究结果可用于实际闪光照相系统的优化设计,在图像接收系统的响应范围内达到使散射分布均匀和降低光源模糊影响的目的。  相似文献   
68.
在分析高能闪光照相中传统实验方法不足的基础上,提出了采用Monte Carlo模拟结果来建立底片光学密度与照射量之间的关系,并对一个球对称客体进行了实验照相。采用Monte Carlo方法分析了底片光学密度分布左右不对称的各种因素,认为底片光学密度分布左右不对称主要是照相器件几何对中不理想造成的,并说明了底片光学密度左右平均的合理性。在此基础上介绍了H-D曲线的生成方法,采用Silberstein理论得到了具有较高精度的H D曲线。这种结合Monte Carlo模拟的H-D曲线测量方法不但避免了照射量测量误差,而且还考虑了H-D曲线对X射线能谱的依赖关系,更能体现实际情况,具有较高的精度。可用于球对称客体或柱对称客体的辐射照相。  相似文献   
69.
考虑了光子与物质的三种相互作用方式,用解析分析法确定光子在材料中能量的一次散射转化几率,并由此求得闪光照相系统中成像平面上的散射和最小直散比的表达式。用该公式求得的FTO客体的最小直散比约为1.0,与美国NIH实验结果0.5~1.5近似符合。  相似文献   
70.
X光穿透物质时符合指数衰减规律,原则上,给定闪光照相光源能谱以及照相物质已知的情况下,可以计算出透射X光的照射量,但事实上X光光源能谱测量十分困难,因此,实际上照射量的计算无法实现。所谓的“等效单能模型”就是将上述全能谱照射量等效成某一“单能”的照射量,在实际实验测量中经常需要的物理量是数种材料等效质量吸收系数的比值,称之为相对质量吸收系数,一般情况下,  相似文献   
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