密度提取中吸收系数的使用

研究了能谱效应的影响，进行了理想的MC（Monte Carlo）数值闪光照相。能谱效应是由不同能量的X光与材料发生作用的微观截面不同引起的。能谱效应降低了密度提取的精度，因而在密度提取中需要考虑能谱效应，即使用反应能谱效应的有效吸收系数，而不是单能吸收系数。在闪光照相中能谱效应体现为：光路上面质量ρ（l）l越大，有效质量吸收系数μρ^-（l）越小；面质量越大，对应的自洽光程也越大，即μρ^-（l）ρ（l）l越大。     

漂移管中离轴圆电子束的自洽场

研究连续束在圆截面的良导电束管内离轴传输问题。研究离轴圆形连续束在半径为Rw的束管内所激发的自洽电磁场，从而进一步求出束管表面上的面电荷分布σ（θ）、象电流分布K（θ）和电磁场分布。介绍所得结果的应用。     

研究束破不稳定的色散关系法

利用色散关系法示解束破不稳定性（ＢＢＵＩ）的基本方程，确定ＢＢＵＩ的最大增长率公式，考察并决定ＢＢＵＩ的增长率的物理参数。结果表明，由本法所确定的ＢＢＵＩ增长率与常磁场情况下用傅立叶变换法的得的结果相同。     

闪光照相中光子散射照射量的解析分析

考虑了光子与物质的三种相互作用，用解析分析法确定光子在材料中能量的一次散射转换几率，并由此求得闪光照相系统中成像平面上的散射表达式。     

闪光照相图像缺陷消除方法

 介绍了一种检测闪光照相图像缺陷以及消除这些缺陷的方法。在闪光照相实验中,底片图像会出现一些小尺寸的缺陷影响了底片信息的精确提取。根据闪光照相实验中采用完全一样的多张底片接收的特点,提出了一种闪光照相多底片图像的缺陷消除方法。首先对这些底片图像进行精确配准,将这些图像进行简单平均以获得均值图像,利用均值图像与各底片图像的差值获得缺陷图像,然后根据缺陷图像的特点对缺陷进行分割并判断各缺陷的归属。最后根据均值图像与缺陷图像以及缺陷分割与判断结果获得修补后的底片图像。实验结果证明该方法可以有效地消除多底片图像中的各类缺陷。     

束发射度对X射线照射量的影响

在闪光照相中，用Ｍａｒｔｉｎ公式求得的１ｍ处Ｘ射线照射量往往偏高。考虑电子束的发射度和横向半径的影响，利用蒙特卡洛方法抽样束内电子在靶上的入射条件后，可以定量确定闪光机靶前１ｍ处Ｘ射线照射量的数值及其角分布。研究结果表明：在击靶时束半径一定的情况下，Ｘ射线照射量随发射度的增加而减小；在束发射度一定的情况下，照射量随束半径分布有一极值，当束半径小于ｒｂｍ时，照射量随束半径ｒｂ增加而迅速增加，但当ｒｂ     

束破不稳定性的变换法解析理论

束破不稳定性（ＢＢＵＩ）是导致直线加速器中电子束横向运动的致命因素,因而必须进行研究,以便采取相应的扼制措施。我们利用傅立叶变换法求解了ＢＢＵＩ的基本方程,研究了在不同的此导磁场位形下的束破不稳定性（ＢＢＵＩ）增长情况和增长率的ｅ－指数值公式、考察并决定ＢＢＵＩ的增长率（即ｅ－指数值）的物理参数,提出了降低ＢＢＵＩ增长率的相应措施     

校正磁场和COS／SIN线圈的设计

介绍了控制束心Ｃｏｒｋｓｃｒｅｗ运动的原理。给出了用ＣＯＳ／ＳＩＮＩ线圈方法产生引导磁场（校正磁场）并比较两种设计结果,指出用较严格设计的ＣＯＳ／ＳＩＮ线圈能更有效地调谐校正磁场。     

闪光X射线照相蒙特卡罗程序的并行化

研究了闪光X射线辐射照像蒙特卡罗程序(FXRMC)在MPI平台下的并行计算实现,给出了实现过程中并行随机数的产生方法。对并行程序的测试结果表明:并行程序与串行程序结果一致,加速比比较理想,呈线性增长,并行效率在16个处理器上可达80%以上。算例的结果说明了并行化可有效地解决程序计算散射技术性能时的耗时问题,从而有效化解FXRMC耗时和大规模计算的困难,提高了FXRMC程序的计算规模和计算速度,达到了研究要求。 (Institute of Fluid Physics, CAEP, P. O. Box 919-105, Mianyang 621900, China)