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在2004年的“神光”-Ⅱ内爆实验中,设计了球壳内界面涂S、且氘燃料区中掺Ar的辐射驱动内爆靶球(图1),实验排布如图2所示:针孔阵列一晶体谱仪(PA--CS)置于正西水平方向;正东水平方向放置时间分辨的晶体谱仪(扫描晶体谱仪S—CS),测量靶球内爆中心和S线谱发射的时间过程;正南水平方向放置一台针孔阵列—X射线分幅相机(XFC),监测靶丸内爆压缩发光图像;闪烁体探测器在靶室外东南方向监测内爆中子产额:软X光能谱仪在水平东偏北方向监测腔内辐射温度。由数千个针孔组成的针孔阵列和平面晶体组成的二维单色成像系统的测量原理如图3所示。 相似文献
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曹柱荣 丁永坤 董建军 邓博 黎宇坤 穆宝忠 伊圣振 吴俊峰 陈韬 张继彦 杨志文 袁铮 李晋 胡昕 杨正华 缪文勇 蒋炜 袁永腾 黄天晅 陈伯伦 陈家斌 詹夏雨 张海鹰 康洞国 谷建法 叶文华 王占山 刘慎业 江少恩 张保汉 张维岩 《强激光与粒子束》2015,27(3):032013-122
在激光间接驱动惯性约束聚变(ICF)领域中,获得具有极高空间分辨率(优于5μm)的X射线辐射图像,是研究烧蚀不稳定性、内爆流线等关键物理过程的数据基础。基于掠入射反射式成像原理的Kirkpatrick-Baez(KB)显微成像系统作为一种具有高空间分辨率和集光效率的X射线显微诊断设备,目前已成为国际ICF装置的X射线关键诊断设备。在神光Ⅱ和神光Ⅲ原型装置条件上开展了KB诊断技术及设备的研究,在KB系统的光学设计、光学元件和物镜与系统装调技术等方面取得了许多重要进展,研制了大视场KB、多色KB等高分辨率X射线显微成像系统。这些系统已应用于我国的ICF内爆芯部发光和流线测量、流体不稳定增长测量等实验中,为关键物理量的测量提供了高空间分辨率的清晰图像。 相似文献
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利用神光-Ⅲ原型激光装置实验研究了8束ns激光脉冲从一端注入钛空腔靶产生的keV X射线源的辐射特征,发现keV X射线主要产生于腔轴附近;钛空腔靶内径过大时keV X射线能流的峰值强度较低,内径过小时keV X射线能流的持续时间较短。为了在4π空间内使钛空腔靶获得最大的X射线(4~7keV能段)转换效率,腔内径的最优值在1000~1300μm附近,此时的keV X射线转换效率为4.7%,是相同激光参数下钛平面靶的2倍左右。激光单端注入有底部钛膜和无底部钛膜的空腔靶对比实验显示,底膜能够增强keV X射线的发射。 相似文献
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由于X光量热计具有体型吸收、线性响应及抗电磁干扰能力强等优点,可用于对激光等离子体辐射的X光总量测量。介绍了X光量热计的原理和结构,量热计主要由吸收体、热电堆、恒温体和外壳4个部分组成;量热计吸收体接收X光能量后,在瞬时内温度迅速上升,同时又通过热传导或辐射而损失能量。电加热法作为X光量热计的传统标定方法,标定结果不可靠。为此采用经过绝对标定的XRD阵列谱仪(SXS)对X光量热计在神光-Ⅱ装置上进行了在线绝对标定。结果表明:X光量热计性能稳定,其灵敏度为(84.1±3.4) μV/mJ,X光能量测量的相对合成标准不确定度约为31%,可用于X光定量测量。 相似文献
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报道了平面反射镜在不同掠射角下的反射率标定实验.实验利用北京同步辐射装置(BSRF)-3W1B束线及反射率计靶室,在束流强度40—120 mA、贮存环电子能量2 GeV专用光运行模式下,在50—1500 eV能区,做了四种材料平面镜在不同掠射角下的反射率标定.标定过程用高灵敏度无死层的硅光二极管代替x射线二极管作探测器,使输出信号提高2—3个数量级.最终给出C,Si,Ni和Au四种材料平面镜在1°—7°掠射角下的反射率标定曲线,并把实验数据与理论计算值进行了比对和分析.
关键词:
同步辐射
平面镜
反射率
标定 相似文献
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氦原子与H2、D2、T2分子碰撞角分布的理论计算 总被引:3,自引:1,他引:2
采用Tang-Toennies势模型,用密耦法求解散射方程,计算了入射能量E=0.05eV时,00-00,00-02转动激发截面,进而计算了He-H2,He-D2和He-T2碰撞的角分布。 相似文献
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