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张建芳 《原子与分子物理学报》2015,32(6)
用蒙特卡罗(Monte Carlo)方法计算不同能量的X射线在金-硅(Au-Si)界面处中产生的剂量增强系数（DEF）与金(Au)和硅(Si)厚度的关系.结果表明：界面一侧Si中的DEF与Au和Si的厚度有关。当Au厚度分别取1μm、2μm、4μm、8μm时,界面处最大剂量增强系数分别为：19.78、24.78、24.78、32.3,界面处的DEF随Au厚度的增加而增大;当Si厚度分别取1μm、2μm、4μm、8μm时,界面处最大剂量增强系数分别为：24.5、25.91、27.84、30.09,界面处的DEF随Si厚度的增加而增大.并且研究了Au为2μm、4μm时界面下不同位置处的DEF随能量的变化关系,界面处的DEF最大,离界面越远剂量增强效应越小. 相似文献