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分析了单轴各向异性左手介质表面的Goos-H?nchen位移,分别给出了光轴与两种介质的界面垂直和平行情形下的Goos-H?nchen位移解析表达式,并分析了Goos-H?nchen位移产生的条件以及位移的正负情况.还采用菲涅尔近似的方法给出了临界角附近的Goos-H?nchen位移表达式,结果表明临界角附近的Goos-H?nchen位移是入射光的束腰半径和入射角的函数,并且给出了临界角入射时Goos-H?nchen位移的较为简洁的近似表达式,这样就在整个角度的取值范围内都给出了Goos-H?nchen位移的表达式.
关键词:
Goos-H?nchen位移
左手介质
单轴各向异性
临界角 相似文献
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分析了单轴各向异性左手介质表面的Goos-Hanchen位移,分别给出了光轴与两种介质的界面垂直和平行情形下的Goos-Hanchen位移解析表达式,并分析了Goos-Hanchen位移产生的条件以及位移的正负情况.还采用菲涅尔近似的方法给出了临界角附近的Goos-Hanchen位移表达式,结果表明临界角附近的Goos-Hanchen位移是入射光的束腰半径和入射角的函数,并且给出了临界角入射时Goos-Hanchen位移的较为简洁的近似表达式,这样就在整个角度的取值范围内都给出了Goos-Hanchen位移的表达式. 相似文献
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Development of the Technique for Fabricating Submicron Moire Gratings on Metal Materials Using Focused Ion Beam Milling 下载免费PDF全文
A focused gallium ion (Ga+) beam is used to fabricate micro/submicron spacing gratings on the surface of porous NiTi shape memory alloy (SMA ). The crossing type of gratings with double-frequency (25001/mm and 50001/mm) using the focused ion beam (FIB) milling are successfully produced in a combination mode or superposition mode. Based on the double-frequency gratings, high-quality scanning electron microscopy (SEM) Moird patterns are obtained to study the micro-scale deformation of porous NiTi SMA. The grating fabrication technique is discussed in detail. The experimental results verify the feasibility of fabricating high frequency grating on metal surface using FIB milling. 相似文献
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本文用脉冲X光摄影技术及电探极-记录仪系统,对射流引爆及侵彻工业炸药的过程进行了观测,探讨了的流引爆及侵彻工业炸药的机制,给出了射流与工业炸药作用过程的物理图象。 相似文献
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The title complex,[(BBI)Mn(BDC)]n 1(BBI = 2,2'-bisbenzimidazole(C14H10N4),BDC=benzene-1,3-dicarboxylate dianion(C8H10O4)),crystallizes in the monoclinic system,space group C2/c,with a=17.822(8),b=16.181(7),c=13.355(6),β=92.112(5)°,V=3848.67(304)3,Z=8,C22H14MnN4O4,Mr=453.31,Dc=1.565 g/cm3,F(000)=1848,μ=0.725 mm-1,S=1.000,the final R=0.0310 and wR=0.0589.1 contains hydrogen bonds and π-π stacking interactions between the neighboring aryl-ring of BBI's,which helps to form a three-dimensional crystal structure. 相似文献
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