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71.
给出了线和n-2的n阶(0,1)-矩阵的最大积和式的积分表达式,并证明了该积分表达式与[1]得到的组合表达式等价。 相似文献
72.
Poisson回归模型广泛应用于分析计数型数据 ,Dean&Lawless(1989)和Dean(1992 )讨论了非重复测量得到的计数型数据的偏大离差存在性的检验问题 .本文分别利用随机系数模型和对数非线性模型讨论了基于重复测量得到的计数型数据的偏大离差的检验问题 ,得到了检验的score统计量 . 相似文献
73.
在回归分析中,随机误差是否存在方差齐性是理论与实际工作者都十分关心的问题,方差齐性假设并不总是正确的,在线性和非线性回归中关于异方差的诊断问题已有许多讨论([1],[2],[4],[5])。本文在韦博成(1995)讨论了加权非线性回归模型的基础上,用随机系数的方法,讨论随机权函数非线性回归模型中的异方差检验问题,得到了方差齐性检验的似然比统计量和score统计量,同时,当模型存在异方差时,本文给出了估计方差的一种方法。 相似文献
74.
非线性再生散度模型的渐近性质 总被引:3,自引:2,他引:3
对非线性再生散度模型,给出了类似于Fahrmeir&Kaufmann(1985)和Wei(1998)的正则条件.基于这些正则条件,证明了最大似然估计的存在性、强相合性和渐近正态性,推广了已有文献的工作. 相似文献
75.
基于EM算法和Laplace逼近, 本文给出了研究ZI (即含0较多的)纵向计数数据模型的影响分析方法. 为了识别含0较多的分组计数数据中的强影响点, 本文将ZI纵向数据模型中取值为0的数据赋予一定的权重; 而把随机效应看作缺失数据; 在此基础上引入EM算法, 从而应用完全数据对数似然函数的条件期望以及相应的$Q$距离函数进行影响分析; 并进一步应用Laplace逼近方法简化EM算法中的积分计算. 在此基础上, 基于数据删除模型和局部影响分析方法导出了适用于ZI纵向计数数据模型的诊断统计量. 本文也通过实际计数数据的例子验证了诊断统计量的有效性. 相似文献
76.
In this paper,we investigate the performance of the bulk fin field effect transistor(FinFET) through a threedimensional(3D) full band Monte Carlo simulator with quantum correction.Several scattering mechanisms,such as the acoustic and optical phonon scattering,the ionized impurity scattering,the impact ionization scattering and the surface roughness scattering are considered in our simulator.The effects of the substrate bias and the surface roughness scattering near the Si/SiO2 interface on the performance of bulk FinFET are mainly discussed in our work.Our results show that the on-current of bulk FinFET is sensitive to the surface roughness and that we can reduce the substrate leakage current by modulating the substrate bias voltage. 相似文献
77.
78.
79.
研究了条件泛函及其导数的非参数估计,对随机与固定设计的条件泛函,分别利用核估计和非参数加权估计,在核函数及权函数满足一定条件下,证明了估计一致强收敛于待估函数的速度可达到最优。从而进一步推广和发展了Hrdle,etal.(1988)、Severini,etal.(1992)的许多结果。 相似文献
80.
文中证明了在Bayes框架下,当漂移参数7服从有信息先验时,在相当广泛的统计模型中,数据删除模型(CDM)和均值漂移模型(MSOM)的参数估计不相等,几个数值例子验证了相应的结论. 相似文献