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本文采用分子动力学模拟方法研究了磷酸二氢钾(KDP)晶体水溶液的微观分子结构以及生长基元的界面吸附行为.在分子动力学模拟中,水分子采用简单点电荷(三节点)模型,钾阳离子为带电硬球模型,磷酸二氢根离子采用七节点模型,计算了KDP水溶液的构型能,对比分析了(010)和(001)两个晶面的生长速率.研究结果发现:在饱和温度附近体系的局域粒子数密度有剧烈涨落,过饱和溶液的比热显著高于不饱和溶液的比热,表明在饱和温度以下KDP溶液经历了结晶相变过程;磷酸二氢根阴离子生长基元在(010)和(001)两个晶面生长行为的研究表明(010)面生长速率明显高于(001)面,得到了与实验和从头计算相符的结果. 相似文献
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电解质模型流体的MonteCarlo分子模拟 总被引:1,自引:1,他引:1
采用正则系综Monte Carlo分子模拟方法,模拟得到了一系列状态条件下1:1 价和2:2价对称电解质模型流体的径向分布函数、构型能和压缩因子的“机器实验 数据”,这些数据对构筑电解质溶液的新参考流体具有重要意义。模拟过程中,电 解质溶液被简化为硬球离子和硬球点偶扳子的混合物,离子—离子、离子—偶极和 偶极—偶极长程位能计算采用了Ewald求和方法。最后,对离子—偶极子混合物的 结构和热力学性质与体系温度、密度和浓度的关系进行了分析和讨论。 相似文献
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0.8 MeV的Si离子注入Al0.25Ga0.75As/GaAs外延薄膜的弱损伤特征.注入剂量从1×1014~5×1015 cm-2,对注入后的样品采用了Raman光谱测量,观察到了两类声子模式,该外延材料的晶格振动显示出“双模”行为.并计算了在注入层中的应变以及晶格常数随剂量的变化.此外还测量了样品的Rutherford背散射和沟道谱(RBS/C),结果表明与Raman光谱测量一致的结论:该注入条件只引起材料的弱损伤行为. 相似文献
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采用分子动力学模拟对不同温度下磷酸二氢铵水溶液的构型能和径向分布函数进行了研究.磷酸二氢根被看作七节点模型,铵离子被看作五节点模型,而水分子则被看作简单点电荷模型.在饱和温度附近,体系局域粒子数密度有波动.373-400K的溶液势能增长缓慢表明磷酸二氧铵部分分解.磷酸二氢根中的氧原子与铵离子中氢原子的径向分布函数在三种不同温度下呈现明显不同,表明溶液中平均氢键数目随温度的变化明显改变.温度对磷酸二氢根中的氧原子和氧原子的结合有一定的影响,而在饱和溶液中有更多的生长基无产生. 相似文献
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KDP晶体台阶生长动力学的激光干涉实验研究 总被引:5,自引:0,他引:5
采用迈克尔逊干涉技术 ,通过测量KDP晶体生长的法向速率和台阶斜率来研究其台阶生长的动力学系数、台阶自由能、溶质在边界层内的扩散特征以及激发晶体生长台阶的位错活性 .实验表明 ,KDP中不同活性位错的台阶动力学系数差异较大 ,例如高活性和低活性台阶动力学系数分别为 10 .3× 10 -2 和 5 .2 1× 10 -2 cm/s,位错源在晶体表面的形状、面积的变化 ,以及Burgers矢量的变化是造成晶体生长动力学测量数据重复性差的主要原因 相似文献
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用分子动力学模拟方法研究了不同温度下磷酸二氢钾(KDP)水溶液的内能和微结构. 水分子被看作简单点电荷模型,磷酸二氢根被看作七节点模型. 另外系统地研究了溶液的内能和径向分布函数. 在饱和温度附近,局域粒子数密度有很大的波动;饱和溶液的比热要比不饱和溶液的比热高表明溶液在低于饱和温度的过程中经历了结晶过程;水中的氧原子跟磷酸二氢根中的氢原子的径向分布函数表明二者之间形成很强的氢键结构;在KDP水溶液中,钾阳离子跟磷酸二氢根中的氧原子有很强的相互作用,并且在饱和溶液中形成的离子对数量更多. 相似文献
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