SiO2分子的基态(X1A1)结构与分析势能函数

应用群论及原子分子反应静力学方法推导了SiO2分子的电子态及其离解极限,采用B3P86方法,在6-311G**水平上,优化出SiO2基态分子稳定构型为单重态的C2V构型,其平衡核间距Re=RSi-O=0.1587 nm,∠OSiO=111.2°,能量为-440.4392 a.u..同时计算出基态的简正振动频率:对称伸缩振动频率v(B2)=945.4cm-1,弯曲振动频率v(A1)=273.5 cm-1和反对称伸缩振动频率v(A1)=1362.9cm-1.在此基础上,使用多体项展式理论方法,导出了基态SiO2分子的全空间解析势能函数,该势能函数准确再现了SiO2(C2V)平衡结构.     

基于氟代苯乙胺有机阳离子的准二维钙钛矿发光二极管EI北大核心CSCD

近年来,钙钛矿发光二极管(PeLEDs)发展非常迅速,其性能得到了大幅提升,而构筑具有量子阱结构的准二维钙钛矿是开发高性能PeLEDs的有效方法之一。大尺寸有机阳离子是构成准二维钙钛矿的关键组分,对调节准二维钙钛矿的薄膜结构和光电性质具有重要作用。本文通过在铯铅卤化物(CsPb X3)钙钛矿中引入两种单氟取代的溴化苯乙胺(o-FPEABr(邻位取代)和p-FPEABr(对位取代)),采用无反溶剂的一步法制备了准二维钙钛矿薄膜和发光器件,研究了它们对准二维钙钛矿成相分布和器件性能的影响。研究发现,pFPEABr使准二维钙钛矿形成了大量的低维相,特别是具有强激子-声子耦合的二维相,而高维相含量较少。相反地,o-FPEABr能够有效地抑制低维相,并促进高维相的形成,有利于降低非辐射复合和提高辐射复合。形成能计算结果显示,基于p-FPEABr的低维相比基于o-FPEABr的低维相具有更好的热力学稳定性,导致了准二维钙钛矿中成相分布的差异,表明改变氟原子的取代位置能够调控准二维钙钛矿的结晶动力学过程,进而影响器件的发光性能。基于o-FPEABr,我们制备出高效的绿光和蓝光PeLEDs。其中绿光器件的最大外量子效率(EQE)达到了10.27%,发光峰位于521 nm;而蓝光器件的最大EQE也达到了8.88%,发光峰位于488 nm。     

锌与疾病关系的探讨

综述了锌与健康的关系，包括：锌的代谢，锌的主要功能，锌与疾病治疗等方面，参考文献16篇。     

N_5O_3-TRPO混合萃取剂从碱性氰化液中萃金

研究 N5O3- TRPO混合萃取剂从碱性氰化液中萃取金 ,考察了平衡时间、水相初始 PH值、水相离子强度、金浓度、N5 0 3浓度、磷类添加剂的种类及其浓度、稀释剂、温度、相比等因素对金萃取率的影响 ,绘制了萃取等温线 ,测定了金的饱和容量 ,考察了所选定的萃取体系对银 ( )、铁 ( )、铜 ( )、镍 ( )、锌 ( )的萃取性能 ,计算出了金与这些杂质元素的分离系数。研究了负载有机相中金的反萃。结果表明 N5O3- TRPO ROH正十二烷体系对 Au( CN) 2 具有较高的萃取率和选择性 ,可应用于碱性氰化液中金的萃取分离。     

再谈“小数点后的‘0’不能随意去掉”

《黑龙江珠算》是我在教学之余必读的一本杂志,在这里我从全国各地同仁的宝贵教学经验中学到了不少知识,尤其是《算理算法》这个小栏目更是每期必读,获益匪浅。在《黑龙江珠算》2000年第4期的《算理算法》中有这样一篇题目叫做《小数点后的     

氢离子轰击对TiC膜结构及界面影响的研究

本文研究荷能氢离子轰击对TiC薄膜的结构及其界面的影响。氢离子源为5A的脉冲离子注入器,能量25keV,脉冲宽度20ms。样品经轰击后发现。与受相同辐照的45~#钢样品相比,TiC薄膜表面无明显的损伤;TiC薄膜内的氢含量较高;薄膜的织构消除;TiC薄膜与基体间的结合力有明显提高。     

局部凸空间中ic -锥-类凸集值优化问题的超有效性

该文研究局部凸空间中受集值约束的集值优化问题的超有效解. 证明了ic -锥-类凸集值映射的一个有用性质, 并以此性质为主要工具, 得到了ic -锥-类凸集值向量优化问题超有效解的最优性条件和鞍点定理.     

思维在"再创造"的过程中发展——有感于一节二次函数的衔接课

1 背景介绍 　　上学期,笔者与数学教育实习生一起随堂听了武昌名师张鸿志老师在高一年级上的<二次函数的图象及其性质的应用>的一节课,我们都被张老师那平和、幽默、机智的讲课风格所陶醉,更为张老师的教学设计喝彩!现将此课的教学实录展现出来,并谈谈我们的听课感受.……     

吸收光谱光路的设计与误差

固体、液体和气体物质的吸收光谱是大学普物、光学专业的一个基本实验．如何在普通的设备和实验条件下，较为准确地测量吸收系数？本文从朗伯定律出发，介绍一种“对数测量法”光路．并对实验中出现的“负吸收系数”等误差作了分析．文中还介绍了消除材料样品对探测光的反射误差的固体、液体样品架．     

电镜超薄切片产生颤痕的原因之一

电镜超薄切片颤痕是由于在切片过程中刀与样品块之间发生高频颤动在切片上留下的痕迹,在电镜下观察呈平行于刀刃的带状条纹。颤痕产生的原因,可能由超薄切片机本身的振动、切片过程中由于切速不当及进刀量过大、玻璃刀的质量不好或包埋块软硬不一致引起。