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变线距全息光栅平面单色仪由于具有自动聚焦、消像差、高分辨率以及减少杂散光等能力,因而在同步辐射装置、激光核聚变装置以及太空望远镜等设备中有着重要的应用。由于变线距全息光栅的制作及检测存在着相当的难度,制约了变线距全息光栅的推广应用。因此,变线距全息光栅的制作及检测研究,具有十分重要的理论及应用意义。变线距全息光栅的制作必须有高精度的密度检测技术相配合。比如,在变线距全息光栅的制作过程中,需要对用于形成变线距光栅的全息干涉条纹的线密度进行检测;对于已经制成的变线距全息光栅的线密度也需要进行检测,以检查光栅的制作质量。因此,变线距全息光栅线密度的检测,对提高变线距全息光栅的制作质量起着十分关键的作用。文中给出了二维变线距光栅的密度描述公式,讨论了干涉条纹的物理意义;应用干涉云纹法和条纹图像处理技术,对二维变线距光栅的密度分布进行了检测研究,给出了光栅密度的全场分布,并讨论了检测精度。 相似文献
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本文讨论纳米精确度光学对准技术,以用于采用热固化树脂的微光学包装。为了达到一个快速固化过程,直接将微波能量作用于需要进行光学粘合的地方。然而常规微波加热技术,依赖于树脂和元件之间的高质量比。为了改进微光学包装中微量粘合剂的热吸收率,我们先将接合面抛光,再镀上金属薄层。这样一来,微波能量将被镀层快速吸收。为防止接合面过热,采用一个红外(IR)温度传感器,以监测粘合剂的温度。根据温度的高低,一个自动化的系统则可以调整微波的功率输出,以便达到相对恒定的固化温度。在快速固化过程中,预先调准好的微光系统,如光纤耦合器,将由于加热的不均匀性而不可避免地遭受干扰。为补偿这个副效应,开发了一个实时光学对准监控和反馈系统。以包装光纤耦合器为例,该系统可实时监测当粘舍剂由微波固化时器件的插入损失(IL)。我们采用的一种三维压电变换装置(PZT)可达到x-、y-和z-方向的的对准。该PZT的10nm调节精度可监测出0.004dB的IL敏感性。与常规的固化烤箱比较,该系统的微光学包装效率可提高150倍。由于采用实时监控和反馈系统,批量生产中产品的合格率也将大大改善。 相似文献
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铰孔和疲劳对冷挤压孔周残余应力的影响 总被引:6,自引:0,他引:6
应用干涉云纹测量了冷胀孔周残余应力分布,并用实验方法研究了铰孔和疲劳对残余应力的影响。介绍了测试技术和原理,提供了典型的实验结果,并讨论了误差原因 相似文献
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去耦覆盖层是降低水下结构声辐射的一个重要措施。为了给工程上去耦覆盖层降噪性能评价指标的选择提供理论参考,建立了点激励力作用下敷设去耦覆盖层的四端简支撑矩形板水下振动和声辐射理论模型,定义了可能表征去耦覆盖层降噪性能的五项评价指标。研究结果表明:只有振动传递损失相对独立于基板的长度、宽度和点激励力位置,而且能较好地描述去耦覆盖层隔离基板振动向水层传递的性能;而湿面均方振速插入损失较振动传递损失则能更好地反映辐射声功率插入损失,尤其在低频。作为评价指标,振动传递损失和湿面均方振速插入损失分别有各自的优点和缺点。 相似文献
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在Kelvin-Voigt线性粘弹性模型框架内研究了无限长粘弹性圆柱管中轴对称波的传播和衰减。通过一个复根搜索程序对频散方程的求解得到无量纲化相速度频散曲线和衰减曲线。比较了引入损耗因子后粘弹性圆柱管与弹性圆柱管中轴对称波传播的特性。给出了圆柱管的外内径之比、损耗因子和材料参数对相速度和衰减的影响。分析结果表明与弹性圆柱管相比粘弹性圆柱管中轴对称波的各阶传播模式均存在衰减,高阶传播模式并无严格意义的截止频率。损耗因子对第一阶传播模式的相速度影响很小,而对衰减的影响则比较大,穿孔率对波传播的相速度和衰减有相当大的影响。 相似文献
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本文应用激光散斑照相放大技术和夹层散斑技术,测量了稳定扩展过程中的裂端张开位移和裂端前方纵向应变的变化,并提供了部分实验结果. 1.实验测试技术和数据处理 实验采用了散斑照相放大光路,放大10倍,并用夹层散斑法记录散斑场.试件有两种,一种是0.2毫米厚的铝箔试件(E=8500kg/mm~2,σ_(0.2)=14.2kg/mm~2,σ_b=15.4kg/mm~2),双边裂纹,尺寸见图1.两条裂纹长短不等,测量长裂纹裂端的变形.为了观察远场应变随裂纹缓慢扩展的变化,在试件上贴了一个2×3毫米的应变片,实验中用应变仪进行测量.第二种试件是0.1毫米厚的紫铜箔试件,单边裂纹,尺寸见图2. 相似文献
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