一种用于动态过程测量的实时偏振相移方法

利用一种特殊的相位龙基光栅和偏振相移技术,可同时获得四幅具有不同相移的干涉图,由此可计算出被测物体的全场相位分布,从而实现对支态过程相位的测量。将该方法应用于马赫－曾德尔干涉系统的散斑干涉系统,分别测量了液体的折射率变化和固体的离面位移,给出了实验结果。     

相移技术中五步等步长Stoilov算法的性能分析

Stoilov算法是近几年提出的一种五步等步长相移算法。有关文献中的误差分析表明 ,该算法的性能优于四步等步长Carr啨算法闹懈隽耍樱簦铮椋欤铮鏊惴ǖ恼繁泶锸?,采用线性误差理论详细分析了算法的性能 ,尤其是算法性能对相移步长的依赖关系。分析表明 ,可以选择一个最佳的相移步长以有效减少位相测量误差 :相移步长为 5 2°时可有效抑制二次相移量误差的影响 ;相移步长为 90°时可极大地减少光强误差的影响。最后给出了Stoilov算法与Carr啨算法和Hariharan算法的比较。     

基于广义优先搜索的位相展开算法

二维位相展开（phase unwrapping)是位相检测技术中的一个重要组成部分和技术难点。本文设计了一种基于广度优先搜索（breadth-first search)遍历位相图策略的位相展开算法。算法的一个显著优点在于能够自动地绕过可疑的非相容点,避免对这些点进行位相展开时产生的误差影响以后的区域,因此尤其适用于处理包含空洞和环状噪声区域的相位图。文中还用该算法对实际的位相图进行了处理,得到了比较理想的结果。     

构建相干长度之外的激光干涉仪

用于微型光刻技术中的多数紫外线（UV）或深紫外线激光器，无论是基于气体的准分子或二极管泵浦固态（DPSS）激光器，其输出频谱均较宽。与此同时，能传送紫外或深紫外光的多数光学材料均具有较高度频散性（即它们的折射率，n（λ），随波长λ变化）。在这种情况下构建一台紫外干涉仪比那拥有狭窄光谱的激光和几乎恒定折射率的光学材料的情况要复杂得多。本文描述一项激光干涉技术，据此可以补偿光学材料的高频散性，从而构建传统意义上所定义的相干长度之外的激光干涉仪。给出理论上的陈述，并提供初步实验结果。本文最后讨论了此情况下干涉条纹的对比度、激光相干长度，以及如何控制光源的时域不稳定性和空间不均匀性的方法。     

CCD高精度位置检测重心算法的付里叶分析

利用成像在ＣＣＤ靶面上的光斑光强分布，可以突破象素的限制，精确地确定光斑位置。本文首先在国际上针对这一问题的研究进展的基础上，给出了重心算法完备的付里叶分析，然后用付里叶变换的观点比较了不同光斑函数对检测精度的影响。     

无损检测系列讲座 第六讲 光学方法用于无损检测

无损检测(NDT)是一门应用技术学科。光学方法和其它超声、射线、磁学等方法相比,应用不很广泛.光学方法的优点是灵敏度高,大多都是非接触式的.缺点是抗环境干扰能力差,分析信息的程序复杂,不利于在工作现场使用.然而,伴随着图像处理系统、计算机系统和纤维光学等新技术的发展。将光学无损检测方法向实用化推进了一大步。在光学方法中,干涉法检测、光学成像检测和红外检测技术等,在 NDT 中发挥越来越大的作用。特别是因激光的出     

一种高灵敏度形状检测新技术

应用光的干涉和衍射理论，系统地阐述了一种高灵敏度形状检测技术的基本原理，并提出了一个新的测试方法，可以消除坐标影响项，从而得到纯等高线条纹图。文中应用该技术，实际测量了带有几种压痕的平板表面的深度分布，分析了测量灵敏度和精度，给出了部分实验结果。     

中国近代光测力学的进展和前景

实验力学是一门应用性很强的分支学科,是各学科发展必不可少的基础和手段,又是受到各学科发展以及整个国家工业和技术水平影响的学科.它包括理论研究、技术发展、仪器研制和应用各个方面.近年来中国实验力学有了较快的发展,现代光测力学是其中的一部分.近代光测力学是在原来光测弹性力学和云纹的基础上,由于激光问世而蓬勃发展起来的新原理和新技术,包括全息干涉、散斑干涉、焦散线法和云纹干涉法等等.同时,基于近年来图像处理方面的飞速发展和微机的普及,使近代光测力学的各方面,都向前跨了一大步.     

弹性滑错界面椭圆夹杂应力场

本文采用弹性弹簧来模拟夹杂和基体之间界面存在的缺陷．应用Ｐａｐｋｏｖｉｃｈ Ｎｅｕｂｅｒ位移函数法给出了带有缺陷界面无穷大基体中含椭圆形夹杂问题的级数解，计算结果显示了滑错夹杂应力场的一些特点．     

基于数字粒子图像的细水雾全场速度测量

水文通过利用激光片光照明细水雾喷雾场和采用数字成像系统获取了喷雾粒子的运动轨迹图像，进而通过研制相应的图像处理和分析软件，重建了细水雾雾场粒子的速度分布，本方法是直接对流场中的粒子成像。因而测量时无需施加示踪粒子对数字成像系统的图像获取速度要求不高，且在图像数据的分析处理方面不像DPIV技术的互相关算法，对示踪粒子的数密度有一定的限制，因此，本方法可用于不宜添加示踪粒子或流场中粒子数密度较低的喷雾场或其它两相流场中粒子速度场的测量。