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141.
ZHAO Ren ZHANG Li-Chun HU Shuang-Qi 《理论物理通讯》2006,46(10)
We generalize the method that is used to study corrections to Cardy-Verlinde formula due to generalized uncertainty principle and discuss corrections to Cardy-Verlinde formula due to generalized uncertainty principle in (anti)-de Sitter space. Because in de Sitter black hole spacetime the radiation temperature of the black hole horizon is different from the one of the cosmological horizon, this spacetime is a thermodynamical non-equilibrium spacetime. 相似文献
142.
Bo Jin Xi Wang Jing Chen Feng Zhang Xinli Cheng Zhijun Chen 《Applied Surface Science》2006,252(16):5627-5631
The oxidation of SiGe film epitaxial grown on top of SOI wafers has been studied. These SiGe/SOI samples were oxidized at 700, 900, 1100 °C. Germanium atoms were rejected from SiGe film to SOI layer. A new Si1−xGex (x is minimal) layer formed at SiGe/Si interface. As the germanium atoms diffused, the new Si1−xGex (x is minimal) layer moved to Si/SiO2 interface. Propagation of threading dislocation in SiGe film to SOI substrate was hindered by the new SiGe/Si interface. Strain in SOI substrate transferred from SiGe film was released through dislocation nucleation and propagation inner. The relaxation of SiGe film could be described as: strain relaxed through strain equalization and transfer process between SiGe film and SOI substrates. Raman spectroscopy was used to characterize the strain of SiGe film. Microstructure of SiGe/SOI was observed by transmission electron microscope (TEM). 相似文献
143.
144.
145.
给出2005年全国部分高校研究生数学建模竞赛D题的研究背景,对参赛论文作了简要评注,并提供了一种参考解答. 相似文献
146.
147.
本文应用上、下解方法和 Leray-Schauder不动点定理 ,证明了一类拟线性椭圆方程边值问题弱解的存在性 ,并且给出了一个应用实例 相似文献
148.
The structural evolution in amorphous silicon and germanium thin films has been investigated by high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM) in conjunction with autocorrelation function (ACF) analysis. The results established that the structure of as-deposited semiconductor films is of a high density of nanocrystallites embedded in the amorphous matrix. In addition, from ACF analysis, the structure of a-Ge is more ordered than that of a-Si. The density of embedded nanocrystallites in amorphous films was found to diminish with annealing temperature first, then to increase. The conclusions also corroborate well with the results of diminished medium-range order in annealed amorphous films determined previously by a variable coherence microscopy method. 相似文献
149.
150.
Hui-Wen Lin 《Transactions of the American Mathematical Society》2002,354(5):1861-1868
In this article, we find some diagonal hypersurfaces that admit crepant resolutions. We also give a criterion for unique factorization domains.