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941.
<正>We theoretically investigate the high-order harmonic generation from stretched molecules in a linearly polarized intense field.By adopting an infrared pulse combined with an ultraviolet(UV) attosecond pulse,the ionization process can be controlled effectively.In this excitation scheme,the harmonic spectrum beyond I_p+3.17U_P is significantly enhanced by two orders,where I_p and U_p=e~2E_0~2/(4m_eω~2) are the ionization and ponderomotive potential,then smooth broadband supercontinuum with the bandwidth of about 120 eV is obtained,which leads to an isolated sub-60- as attosecond pulse with a high signal-noise ratio.Moreover,the bandwidth of the supercontinuum is weakly dependent on the location and pulse duration of the UV pulse.  相似文献   
942.
<正>The structural un-uniformity of μc-Si:H films prepared using a very high frequency plasma-enhanced chemical vapour deposition method has been investigated by Raman spectroscopy,spectroscopic ellipsometer and atomic force microscopy.It was found that the formation of amorphous incubation layer was caused by the back diffusion of SiH_4 and the amorphous induction of glass surface during the initial ignition process,and growth of the incubation layer can be suppressed and uniformμc-Si:H phase is generated by the application of delayed initial SiH_4 density and silane profiling methods.  相似文献   
943.
The double-side Tl2Ba2 CaCu2O8 (Tl-2212) superconducting thin films were fabricated on CeO2 buffered sapphire substrates. The reactive magnetron sputtering technique was used to grow CeO2 buffer thin films on sapphire substrates. Making use of the metal cerium as a sputtering source, the depositing rate is much higher compared with the CeO2 target. The Ti-2212 thin films on CeO2 buffered sapphire substrates were fabricated by adc magnetron sputtering and post-annealing process. The x-ray diffraction indicates that the thin film is pure Tl-2212 phase with the e-axis perpendicular to the substrate surfaces, and epitaxially grown on the CeO2 buffered sapphire. The critical transition temperature Tc is around 106K, the critical current density Jc is around 3.5 MA/cm^2 at 77K, and the microwave surface resistance R8 at 77K and 10 CHz of the film is as low as 390μ Ω.  相似文献   
944.
运用超辐射机理,通过粒子模拟设计了X波段超辐射相对论返波管,并在小型Tesla脉冲源平台上开展了实验研究。通过空间功率积分和直接对辐射微波时域波形的分析得到实验结果:在束压350 kV、束流4.8 kA、脉宽3.1 ns、引导磁场2.2 T条件下,产生的微波辐射功率1.4 GW,中心频率9.36 GHz,脉宽500~700 ps,辐射模式为TE11,能在重复频率100 Hz下稳定运行。功率转换效率超过80%。实验结果与粒子模拟结果比较吻合,成功实现了在短脉冲条件下产生重复频率、亚纳秒脉宽、GW级微波辐射。  相似文献   
945.
弱吸收基底上弱吸收薄膜的光学常数计算方法   总被引:1,自引:0,他引:1  
采用一种相对简单而又精确的光度法来计算弱吸收基底上弱吸收薄膜的光学常数,为低损耗紫外薄膜的设计与实现提供了理论基础。采用JGS1型熔融石英基底,制备了MgF2与LaF3材料的单层膜,获得了JGS1型熔融石英基底及MgF2与LaF3薄膜的光学常数色散曲线。结果显示:在200 nm左右处,JGS1型熔融石英基底的吸收已经比较明显,消光系数在10-8量级,因此,应考虑基底的弱吸收,以提高薄膜光学常数的计算精度。  相似文献   
946.
采用常规透镜设计了适用于非真空环境中交叉偏振波(XPW)产生的双透镜聚焦系统,在相对较短的距离实现了长焦透镜聚焦的效果,并测量了聚焦后的激光脉冲,发现其没有显著的非线性相位积累,保证了激光光束质量.在非真空中采用双BaF_2晶体得到了XPW系统转换效率22%,光谱1.78倍展宽的净化脉冲输出,双透镜组合聚焦形式使得双BaF_2晶体间距在13—22 cm内可保证20%以上的XPW转换效率,双晶体间距的调节冗余度提高了两个量级,极大地降低了双晶转换效率对晶体间距的依赖.这种正负透镜组合聚焦的光路设计在非真空中实现了高效稳定的XPW输出,为后续的放大应用提供了高对比度、宽光谱的高质量种子源.  相似文献   
947.
郭辉  路红亮  黄立  王雪艳  林晓  王业亮  杜世萱  高鸿钧 《物理学报》2017,66(21):216803-216803
石墨烯作为一种新型二维材料,因其优异的性质,在科学和应用领域具有非常重要的意义.而其超高的载流子迁移率、室温量子霍尔效应等,使其在信息器件领域备受关注.如何获得高质量并且与当代硅基工艺兼容的石墨烯功能器件,是未来将石墨烯应用于电子学领域的关键.近年来,研究人员发展了一种在外延石墨烯和金属衬底之间实现硅插层的技术,将金属表面外延石墨烯高质量、大面积的特点与当代硅基工艺结合起来,实现了无需转移且无损地将高质量石墨烯置于半导体之上.通过系统的实验研究并结合理论计算,揭示了插层过程包含四个主要阶段:诱导产生缺陷、异质原子插层、石墨烯自我修复和异质原子扩散成膜,并证实了这一插层机制的普适性.拉曼和角分辨光电子能谱实验结果表明,插层后的石墨烯恢复了本征特性,接近自由状态.此外,还实现了多种单质元素的插层.不同种类的原子形成不同的插层结构,从而构成了多种石墨烯/插层异质结.这为调控石墨烯的性质提供了实验基础,也展现了该插层技术的普适性.  相似文献   
948.
基于激光尾场加速电子的高能X射线源具有高光子能量与小源尺寸的特点,在高空间分辨无损检测方面发挥着十分重要的作用.在X光机上测量了CsI针状闪烁屏、锗酸铋(BGO)闪烁阵列与DRZ闪烁屏的本征空间分辨率,并模拟了三类探测器对高能X射线的能量沉积响应,其中CsI针状闪烁屏的空间分辨率高达8.7 lp/mm.采用Ta转换靶产生的高能X射线开展透视照相,能够分辨最高面密度33.0 g/cm~2的两层客体结构.开展了X射线照相、X射线与电子混合照相以及电子照相三种情况的比对实验,在X射线产额不足或探测效率不够情况下采用X射线与电子混合透视照相的方案,以牺牲对比度为代价,能较大程度地提高图像信号强度.  相似文献   
949.
It is shown that certain multi-component Ermakov systems admit Lewis-Ray-Reid invariants. This extends the result to the two-component Ermakov system.  相似文献   
950.
La0.67Sr0.33MnO3?δ thin films with different thicknesses are prepared in order to investigate the structural variation induced by film thickness and lattice misfit. The X-ray diffraction results show the in-built stress evolution from a full strained thin layer (~10 nm) to a completely relaxed thick layer (~150 nm), which can be well explained by the Poisson effect. Raman spectroscopy measurements reveal the complicated correlation between the Jahn–Teller (JT) distortion and film thickness. Important octahedron modes reflecting JT distortion are completely caused by the relaxed layer. It is observed that broad JT bands are formed in the films with large thickness of the relaxed layer and the residual stress in the layer leads to an obvious blue shift. In contrast, for films with the thin relaxed layer, JT modes are present as a sharper structure and move to low frequency, indicating towards a much better oxygen stoichiometry.  相似文献   
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