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52.
53.
Fractional factorial split-plot (FFSP) designs have an important value of investigation for their special structures. There are two types of factors in an FFSP design: the whole-plot (WP) factors and sub-plot (SP) factors, which can form three types of two-factor interactions: WP2fi, WS2fi and SP2fi. This paper considers FFSP designs with resolution III or IV under the clear effects criterion. It derives the upper and lower bounds on the maximum numbers of clear WP2fis and WS2fis for FFSP designs, and gives some methods for constructing the desired FFSP designs. It further examines the performance of the construction methods.  相似文献   
54.
55.
Analytical expressions are obtained that describe the changes in the degree of coherence and in the thickness of the coherence layers occurring upon propagation of a dispersed broadband laser beam. It is found that the greater the tilting of the coherence layers with respect to the phase fronts, the more rapidly the spatial coherence is violated with increasing distance. A comparison with the case of an undispersed beam is performed. It is shown that, as the beam propagates, the decrease in the degree of coherence is accompanied by the appearance of spatial fluctuations of this parameter. The degree of mutual coherence of intersecting dispersed beams with parallel correlated coherence layers, which determines the efficiency of their coherent interaction, is investigated. The existence of spatial fluctuations of the degree of mutual coherence is established.  相似文献   
56.
We construct Dubrovin equations and trace formulas for finite-band operators with trigonal curves and present some examples.  相似文献   
57.
We extend two inequalities involving Hadamard products of positive definite Hermitian matrices to positive semi-definite Hermitian matrices. Simultaneously, we also show the sufficient conditions for equalities to hold. Moreover, some other matrix inequalities are also obtained. Our results and methods are different from those which are obtained by S. Liu in [J. Math. Anal. Appl. 243:458–463(2000)] and B.-Y. Wang et al. in [Lin. Alg. Appl. 302–303: 163–172(1999)].  相似文献   
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59.
The structural evolution in amorphous silicon and germanium thin films has been investigated by high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM) in conjunction with autocorrelation function (ACF) analysis. The results established that the structure of as-deposited semiconductor films is of a high density of nanocrystallites embedded in the amorphous matrix. In addition, from ACF analysis, the structure of a-Ge is more ordered than that of a-Si. The density of embedded nanocrystallites in amorphous films was found to diminish with annealing temperature first, then to increase. The conclusions also corroborate well with the results of diminished medium-range order in annealed amorphous films determined previously by a variable coherence microscopy method.  相似文献   
60.
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