不同形貌Ag_3PO_4的表面自由能及原位光催化过程的热力学和动力学参数

<正>目前,在利用表面能研究纳米催化剂形貌效应时,多以催化剂表面原子排布或不同晶面的夹角与密勒指数间的关系来定性描述表面能高低[1,2],或利用密度泛函理论对表面能进行理论计算[3,4],但其数值可能会因计算方法和模型不符而与真实值存在偏差,而表面能的实验测定至今仍无精确、可靠、通用的方法[5].因此发展一种准确获取表面能的普适性方法并与材料的催化性能相关联非常必要.微量热技术能对体系变化过程进行实时监测,通过体系变化过程的热力学和动力学参数获取纳米材料的     

超细CaO粉炉内喷射脱硫的实验研究

本文对超细ＣａＯ粉炉内喷射脱硫进行了实验研究，分析了可能影响超细ＣａＯ粉炉内脱硫效率的多种因素，实验结果表明：使用预先锻烧生成的超细ＣａＯ粉在并不苛刻的反应条件下脱硫效果很好，颗粒大小、反应区温度、反应时间和Ｃａ／Ｓ比对炉内喷钙脱硫的效率有重要的影响．     

液相色谱-电喷雾串联质谱法测定血浆中二氢麦角胺及其8''''-羟基代谢物

二氢麦角胺(DHE)是一种半合成麦角生物碱类药物,临床上主要用于预防和治疗偏头痛及直立性低血压[1].由于经历广泛的首过代谢,该药口服后血药浓度不足1 μg/L,因此需要高灵敏度的分析方法对其血药浓度进行监测.有文献报道采用放射免疫法[2]和HPLC-荧光检测法[3]测定DHE的血浆浓度,但由于选择性和灵敏度较差,这些方法不能满足口服药动学研究的需要.本文旨在建立快速、高灵敏、高选择性的液相色谱-电喷雾串联质谱法(LC-MS-MS),同时测定DHE及活性代谢产物8'-羟基二氢麦角胺(8'-OH-DHE)的血浆浓度,以研究该药口服给药的药动学特点.     

问题1748的推广及应用

1 问题的提出 <数学通报>2008年第8期刊出的1748号问题是:若a1,a2,a3,a4∈R+,a1+a2+a3+a4=s.     

薄膜的光谱发射率

本文讨论了薄膜内的多次反射对低吸收薄膜光谱发射率的影响。这里推导出的薄膜发射率的表达式与薄膜厚度d和其光学常数n(λ）和k(λ）有关。在d→∞的特殊情况下，薄膜发射率与大块材料发射率相等。给出了实际数值评价及发射率与d、n(λ）和k(λ)相互关系的更为精确的数值结果。     

基于磁开关的全固态、高功率、长脉冲发生器的初步研究

大多数电容储能型脉冲功率装置的共同特点是采用了气体开关,由于气体绝缘恢复的限制和电极的烧蚀,使得其重复频率都不太高,而且寿命有限.而目前广泛研究的磁脉冲压缩技术在脉冲功率系统的长寿命、高平均功率和高重复频率运行方面具有很大的应用前景.通过对BOOST电路、LC谐振电路和磁脉冲压缩电路详细的理论分析和计算机模拟,设计了由B00ST电路,C谐振电路,脉冲变压器,磁压缩系统,负载五大部分组成的脉冲发生器电路系统模型,使用Pspice软件对系统进行了模拟、优化,得到了电压幅值为55kV,脉宽为500ns的输出脉冲.     

噻唑并[3,2-a]嘧啶衍生物的合成及其在水介质中识别Fe3 的性能

噻唑[3,2-a]并嘧啶衍生物具有多种生物活性,但其较差的溶解性限制了其应用。本文在7-(3-氨基苯并呋喃-2-基)-噻唑并[3,2-a]嘧啶-5-酮的芳香环上引入三乙二醇单甲醚,成功合成了化合物L,并利用核磁、质谱对其结构进行了表征。在pH 3.4~6.4范围内,化合物L可在HEPES水溶液中荧光"开-关"识别Fe~(3+),其他金属离子对识别作用没有干扰,该荧光探针具有较高的选择性和较低的检测限。     

给定生命表下具有最优退休年龄的生命周期模型[英文]

本文在给定的工资增长率,寿命和健康水平的条件下,建立具个人如何选择最优退休年龄的生命周期模型.文中证明个人在给定的条件下存在一个最优的退休年龄,个人最优退休年龄随工资增长率和个人的寿命延长而增加.     

一种点亮型硫化氢荧光探针的合成及其在红酒和细胞中的应用

合成了一种新颖的三苯胺衍生物Tdip,利用硫化氢(H₂S)触发Tdip发生串联反应,释放出具有强荧光的前体化合物,进而实现荧光点亮识别H₂S.该探针具有较好的选择性和抗干扰能力,较大的斯托克斯位移(146 nm),8～13的pH适用范围,较低的检测限(2.24μmol/L).此外,Tdip能检测实际红酒样品中的H₂S,并可对活细胞中的H₂S进行荧光成像.     

基于扫描电镜和能谱仪的薄膜表面形貌和厚度同时测量研究

扫描电子显微镜通过电子束轰击样品产生的二次电子、背散射电子等实现对样品表面形貌的观测,通过对样品横断面的观测来获得薄膜厚度信息,但难以实现对薄膜表面形貌和厚度的同时观测。通过能谱仪研究各种厚度的薄膜同其激发的特征X射线计数率之间的关系,实现了通过特征X射线计数率来测量薄膜厚度的方法。对于激光吹气系统所需的钨薄膜而言,结果表明,计数率随薄膜厚度的增加先线性增加后趋于稳定,利用该曲线的直线部分作为刻度曲线,可实现对5～19μm范围内钨薄膜表面形貌和厚度的同时测量,精度约为10%,通过增加电子能量可实现对更厚样品的测量。该方法可推广到其他种类的薄膜研究,有助于推动薄膜物理研究的开展。