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232.
董石孟川民谷伟彭旭升张波涛肖元陆方茂林向耀民王翔 《高压物理学报》2018,(5):53-57
通过实验确定了20/57mm构型反应气体驱动二级轻气炮的气体装填参数与弹丸动能的关系。实验结果表明,反应气体驱动二级轻气炮的弹丸动能与气体反应化学能之间基本满足二次函数关系,系统发射稳定性满足加载实验要求。发展了基于气体爆轰模型的计算方法,通过数值计算获得了反应气体驱动二级轻气炮的发射特性,弹丸速度的计算结果与实测结果吻合较好。 相似文献
234.
235.
236.
质量保证策略是服务商获取竞争力的重要手段之一。本文在考虑服务商及其竞争对手的质量承诺水平和质量承诺补偿对其服务需求影响的基础上,构建了质量承诺水平、质量承诺补偿、质量承诺水平和质量承诺补偿三种竞争情形下的博弈模型,并系统分析了不同模型下的质量保证策略。研究发现:一旦有服务商提高质量承诺水平或质量承诺补偿,在质量承诺水平竞争模型下,其他服务商可适当地降低质量承诺水平,而在质量承诺补偿竞争模型下,其他服务商会同时提高质量承诺补偿。此外,在质量承诺水平和质量承诺补偿竞争模型下,若质量承诺水平的成本系数满足一定条件,各个服务商之间会存在纳什均衡。本文对服务市场竞争情形下服务商质量保证策略的制定具有一定的实践意义。 相似文献
237.
将遗传算法优化得到的权值赋予神经网络,以消除神经网络的局部最优性。再将这种算法应用到超导储能系统(Superconducting Magnetics Energy Storage,SMES)中,得到一种能够改善超导储能系统响应时间,提高超导储能装置稳定性的直接功率控制策略。仿真结果表明,本文提出的控制策略获得了较好的控制效果,适用于超导储能系统。 相似文献
238.
Silicon germanium(SiGe) heterojunction bipolar transistor(HBT) on thin silicon-on-insulator(SOI) has recently been demonstrated and integrated into the latest SOI BiCMOS technology.The Early effect of the SOI SiGe HBT is analysed considering vertical and horizontal collector depletion,which is different from that of a bulk counterpart.A new compact formula of the Early voltage is presented and validated by an ISE TCAD simulation.The Early voltage shows a kink with the increase of the reverse base-collector bias.Large differences are observed between SOI devices and their bulk counterparts.The presented Early effect model can be employed for a fast evaluation of the Early voltage and is useful to the design,the simulation and the fabrication of high performance SOI SiGe devices and circuits. 相似文献
239.
The diffusion behaviours of vanadium implanted p- and
n-type 4H-SiC are investigated by using the secondary
ion mass spectrometry (SIMS).
Significant redistribution, especially out-diffusion of vanadium towards the
sample surface is not observed after 1650℃ annealing for both p-
and n-type samples. Atomic force microscopy (AFM) is applied to the
characterization of
surface morphology, indicating the formation of continuous long furrows
running in one direction across the wafer surface after 1650℃
annealing. The surface roughness results from the
evaporation and re-deposition of
Si species on the surface during annealing. The chemical compositions of
sample surface are investigated using x-ray photoelectron spectroscopy (XPS).
The results of C 1s and Si 2p core-level spectra are presented in detail to
demonstrate the evaporation of Si from the wafer and the deposition of SiO2
on the sample surface during annealing. 相似文献
240.
依据最弱受约束电子势模型理论,计算了铕原子4f76snd6D9/2(n≥13)、4f76snd8D9/2(n≥17)、4f76snd8D5/2(n≥15)和4f76snd8D3/2(n≥21)里德堡系列能级.计算结果与实验值的最大相对误差为4×10-5,最大绝对误差是1.91cm-1,达到了较高精度,这表明文中的外推数据是可信的. 相似文献