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The temperature dependence of single-event transients in 90-nm CMOS dual-well and triple-well NMOSFETs 下载免费PDF全文
This paper investigates the temperature dependence of single-event transients(SETs) in 90-nm complementary metat-oxide semiconductor(CMOS) dual-well and triple-well negative metal-oxide semiconductor field-effect transistors(NMOSFETs).Technology computer-aided design(TCAD) three-dimensional(3D) simulations show that the drain current pulse duration increases from 85 ps to 245 ps for triple-well but only increases from 65 ps to 98 ps for dual-well when the temperature increases from-55℃ to 125℃,which is closely correlated with the NMOSFET sources.This reveals that the pulse width increases with temperature in dual-well due to the weakening of the anti-amplification bipolar effect while increases with temperature in triple-well due to the enhancement of the bipolar amplification. 相似文献
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针对传统通信模式易被干扰和保密性差的缺点,设计了一种可以同时传送语音和数据的无线激光通信系统。在保证语音不失真的前提下,采用AMBE语音压缩算法,将语音压缩到4 800 bit/s的数据率,和数据混合编码后驱动激光器发光;接收端接收激光后经光电转换、解码处理将语音和数据还原,通过2.5 km的通信试验,表明该系统具有传输距离远、语音清晰、数据稳定的特点,在未来的空对空、空对地、地对空、地对地通信中将得到广泛的应用。 相似文献
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面向某一业务问题求解相关的一组知识及其相关情境资源的组合被称为知识模块, 知识模块的演化代表了业务解决能力的变化. 针对业务问题求解过程中知识模块的演化现象, 提出基于制造生态框架的知识模块演化的动力机制研究方法. 在多维度视角下构建知识模块演化的维度体系, 在演化维度体系的基础上引入生态势理论, 构建了知识模块生态系统演化的生态势分析框架模型. 并利用系统动力学方法与Vensim PLE软件对知识模块演化的生态势模型进行动力学建模与仿真, 研究知识模块演化的动力机制问题. 本文研究有益于丰富知识管理理论, 为企业知识管理实践提供参考. 相似文献
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145.
双波长数字全息相位解包裹方法研究 总被引:4,自引:0,他引:4
使用两个不同的波长分别记录数字全息图,分别由数值再现得到每个波长对应的包裹相位图,再求得两者的相位差得到等效波长的相位图,通过此双波长相位解包裹方法得到连续的相位分布以消除相位包裹。通过数值模拟研究了双波长相位解包裹方法,搭建了双波长数字全息实验系统,并利用660nm和671nm两个波长的激光对标准石英平片和平凹透镜进行了相衬成像。通过双波长相位解包裹方法得到了连续的相位分布,实验结果与数值模拟结果具有较好的一致性,证明了双波长相位解包裹方法的有效性。 相似文献
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蓝宝石单晶的蠕变性能对结构失效行为有很大的影响.本文采用纳米压痕测试方法对蓝宝石单晶窗口材料的蠕变性能进行了测试与分析.分析表明,纳米压痕测试方法能够较为精确地测得蓝宝石单晶蠕变应力指数;不同的最大载荷对蓝宝石单晶的蠕变位移及蠕变应力指数没有明显的影响;蓝宝石单晶的蠕变位移及蠕变应力指数随着加载速率的减小分别减小和增大. 相似文献
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磁流变抛光技术是实现KDP晶体超精密加工的新方法,但磁流变液中的铁粉容易嵌入质软的KDP晶体表面.本文提出了利用基于低能离子溅射原理的离子束抛光技术去除KDP表面嵌入的铁粉.利用红外拉曼光谱和白光干涉仪分别分析了低能离子束抛光前后KDP晶体表面物质结构变化和表面粗糙度的变化;结果显示,低能离子束溅射不改变KDP晶体表面的组成结构,并改善了KDP晶体表面质量,因此离子束抛光可用于KDP晶体的加工;利用飞行时间二次离子质谱分析技术分别对单点金刚石车削、磁流变抛光和低能离子束抛光后的KDP晶体表面进行元素分析,结果显示低能离子束抛光可有效去除磁流变抛光在KDP晶体表面嵌入的铁粉. 相似文献
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