杆系结构多荷载识别的三角级数分析法

本文提供了一种识别杆系结构受到多荷载的作用的三角级数识别方法.将集中荷载展成三角级数且借助结构力学中的位移法建立了单根基本梁(梁单元)的位移方程,利用位移测量值反演所受到的集中荷载大小和位置.算例表明本文所用级数收敛性较好,可获得稳定的收敛值.     

采用组合参数的神经网络结构损伤检测分析研究

提出由结构前几阶固有频率变化率、频率变化比值和动柔度置信因子构成的组合参数作为神经网络的输入向量的方法进行结构损伤检测,全面分析了不同参数作为神经网络输入向量的损伤效果,利用数值模拟对悬臂梁、桁架结构进行分析,采用不同的输入参数进行比较·　分析结果表明,采用组合参数训练的神经网络,对结构损伤位置和程度识别较采用单一参数具有更好的识别效果·     

用激光频域技术测量卟啉化合物激发态的弛豫过程

用激光频域技术,测量了氯仿溶液中FeTTP激发态的弛豫时间,讨论了实验曲线的数值拟合,得到第一激发态的弛豫时间为0.82ps。     

双参数弹性地基上自由边矩形板

本文以迭加法[1]给出在V. Z. Vlazov双参数弹性地基上自由边矩形板的精确解.文中导出了在各种边界条件下的基本解式,迭加这些基本解式,求得了在双参数弹性地基上自由边矩形板的最一般的精确解.它严格满足双参数弹性地基上板的控制微分方程和自由边的边界条件和角点条件.给出了数值结果.计算结果表明:当板的平面尺寸一定,地基深度与板厚度之比H/h=15时,双参数弹性地基与Winkler弹性地基相接近,证明了Winkler地基模式适用于压缩尺寸比较薄的弹性地基.     

杜仲叶中总黄酮的醇提工艺

在杜仲叶中总黄酮的提取实验中, 单因素考察了乙醇浓度、提取温度、提取时间等因素的影响趋势,并以正交实验设计优选最佳提取条件,即以12倍量的50% 乙醇,在80 ℃条件下回流提取60 min,重复提取一次,总黄酮得率达3.08%,占固体提取物的31.9%,得率稳定、重现性较好.     

ICF内爆压缩X光成像过程数值模拟

 基于定态局域热动平衡辐射输运方程求解和光线追踪方法,编制了X光成像后处理程序,能够数值再现ICF内爆压缩X光成像过程。将该程序用于神光Ⅱ装置间接驱动内爆物理的理论设计和实验数据分析。模拟结果表明：燃料区压缩后的尺寸、燃料区掺Ar和内壳层涂S两元素特征谱线发光时序及发光持续时间等过程,后处理方法结果与诊断测量数据基本符合。     

PIN光电二极管探测器响应特性测试

介绍了PIN光电二极管探测器的工作原理及基本结构,设计了探测器的测试系统,说明了测试系统中各个组成部分的结构和功能.利用该系统对PIN管光探测器电路的电特性进行了测试,测试结果表明PIN光电二极管探测器的响应特性符合技术要求.     

相位恢复算法在量子关联衍射成像中的应用研究

随着研究工作的逐步深入,目前已经利用经典热光源实现了关联衍射成像,使得该技术有望在X射线以及中子衍射成像等方面得到广泛应用。在实验利用非相干光得到物体无透镜傅里叶变换频谱的基础上,采用误差消除与输入输出恢复算法,并结合过采样理论,实现了实验所用物体透射率函数的恢复。分别得到了纯振幅物体的振幅分布函数与纯相位物体的相位分布函数。此外,还讨论了实验所得傅里叶变换频谱的噪声等因素对图像恢复结果的影响。     

基于自动亮度控制模型的门控型微光像增强器荧光屏亮度研究

为研究三代像增强器在强光环境下的有效保护措施,设计了一种基于荧光屏电流反馈来实现高照度环境下的自动亮度控制模型,并对该模型进行了仿真分析。制作了荧光屏亮度测试系统,对依托高照度自动亮度控制模型制作的门控电源像增强器进行了测试实验。通过测试像管响应时间和稳定时间,对像增强器门控电源在突发强光下产生理想控制效果的速度以及荧光屏亮度稳定的速度进行了分析。实验结果表明,荧光屏亮度变化趋势与仿真结果基本吻合,并且实验得到的荧光屏亮度曲线可以准确的反映门控电源的工作状态,为后续像增强器门控电源的性能测试提供了技术支持。     

衰减全反射-紫外/可见光谱技术应用

本文对衰减全反射法(ATR)的光学测定原理、衰减全反射-紫外/可见光谱方法(ATR-UV)的特点以及它们在一些典型的工业过程溶液,如高浓度和含有大量固体颗粒和微乳液聚合等体系检测的应用进行了综述.ATR-UV光谱技术适宜实时地反馈工业过程溶液的组分改变和浓度变化,从而帮助我们了解该过程的进展.这些优良的特性能帮助我们开发在线的传感器,因此可用于监测许多典型的工业过程溶液.其方法简单、迅速,一般无需对试样进行预处理或稀释.ATR-UV作为光谱学测定的重要波段,其技术开发将在化工过程检测方面具有重要的意义.