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函数、导数、不等式的综合问题这一热点题型正逐渐作为众多省份的高考压轴题出现,这类问题以参数处理为主要特征,以导数运用为主要手段,以函数的单调性、极值、最值为结合点,特别是在最后一问中经常需要根据试题提供的信息再构造一个新函数,然后利用新构造的函数的 相似文献
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A method based on Fourier spectrum analysis for predicting the performances of the X-ray compound lenses is briefly introduced, the theoretical result obtained is the same as that of Fresnel-Kirchhoff approach. A kind of technique named moulding is developed for fabricating the one-dimensional (1D) compound X-ray lens with Al material and the fabrication process is presented. In addition, a two-time coating method is used to improve the numerical apertures of the compound lenses. Furthermore, the focusing performance of the Al compound X-ray lens under the high energy X-rays is measured. 相似文献
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利用同步辐射光电子能谱,研究了室温下在GaAs(100)表面上淀积的Mn的超薄膜的电子结构.实验发现,在θ<2ML的覆盖度下,Mn3d电子的能量态密度分布与体金属α-Mn差别很大当θ>2ML之后,便逐步接近α-Mn的体电子结构.这一结果可由Mn3d电子的自旋向上带和自旋向下带的交换分裂很好地解释.由此推断,当覆盖度θ<2ML时,在GaAs(100)表面上淀积的Mn的超薄膜具有磁有序结构
关键词: 相似文献
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一、剖面分析技术 剖面分析对确切地了解器件纵向结构参数,配合工艺研究是十分重要的.LSI(大规模集成电路)研制工艺是综合性很强的技术,它的工序多,工艺严格而复杂,要求可靠性高.例如,64 K位 RAM(随机存贮器)就需要三层多晶硅工艺.虽然研制者可以按预定要求来控制工艺条件,但是实际结果必须由测试分析来判断.由于受光学显微镜分辨率的限制,无法测量这么多层次的显微结构,通常只能用电学测试进行判定.利用SEM(扫描电子显微镜侧可以直接观察其形貌及测量其几何尺寸. 为了能清晰地直接观察到单个器件的纵向结构,可以利用解理法解理电路芯片… 相似文献
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结合衍射理论和矩阵光学方法得出抛物面型X射线组合折射透镜的光学性能指标(包括其焦距的严格表达式、薄透镜近似的判定准则、透过率和有效孔径,以及极限聚焦光斑尺寸等).采用X射线深度光刻技术实际制作了PMMA材料抛物面型X射线组合折射透镜并给出了工艺测试结果.最后在北京同步辐射装置(BSRF)上,实际构建了基于3种不同结构参数的PMMA材料抛物面型X射线组合折射透镜的微束聚焦实验系统.并实际测试了其聚焦性能,均获得了良好的聚焦效果,给出实测结果并对实测结果进行了分析和讨论. 相似文献