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Inner Surface Modification of a Tube by Magnetic Glow-Arc Plasma Source Ion Implantation 总被引:3,自引:0,他引:3 下载免费PDF全文
A new method named the magnetic glow-arc plasma source ion implantation (MGA-PSⅡ) is proposed for inner surface modification of tubes. In MGA-PSⅡ, under the control of an axial magnetic field, which is generated by an electric coil around the tube sample, glow arc plasma moves spirally into the tube from its two ends. A negative voltage applied on the tube realized its inner surface implantation. Titanium nitride (TIN) films are prepared on the inner surface of a stainless steel tube in diameter 90mm and length 600mm. Hardness tests show that the hardness at the tube centre is up to 20 GPa. XRD, XPS and AES analyses demonstrate that good quality of TiN films can be achieved. 相似文献
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以苯并[1,2-b∶4,5-b´]二噻吩-4,8-二酮为原料合成了一种聚合物太阳能电池材料的单体2,6-双(三甲基锡)-4,8-双(2-乙基己氧基)苯并[1,2-b∶4,5-b´]二噻吩. 通过多核1D和2D NMR技术(包括1D 1H、13C、119Sn、117Sn NMR、DEPT、选择性1D TOCSY及2D1H-1H COSY、gHSQC、gHMBC)表征了目标分子结构,完成了 1H、13C、119Sn 与117Sn NMR化学位移归属,并探讨了该化合物的NMR谱线特征. 相似文献
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根据掺杂Er3+(0.5%)的YVO4样品的吸收光谱,用Jubb—Ofelt理论拟合出唯象强度参量Ωλ,并由此计算了激发能级的振子强度、自发辐射跃迁速率、荧光分支比和积分发射截面等光谱参量。并根据这些光学参量,分析了Er3+∶YVO4晶体的应用价值。其中,特别是4I13/2→4I15/2,2H11/2→4I15/2,4S3/2→4I15/2和4F9/2→4I15/2等几个强发光能级具有较大的振子强度(大于10-6)和积分发射截面(大于10-18cm),分别分析了它们的应用前景,因此非常值得关注。并且,本文结果和Capobianco等所报道的Er3+(2.5 mol%)∶YVO4晶体强度参量结果很相近。而且,通过比较掺Er3+钒酸钇晶体和掺Er3+其他晶体的光学性能,可以看出钒酸钇晶体作为激光晶体的优点。最后,还根据Er3+在晶体中的对称性,利用群论讨论了Er3+在YVO4晶场中各能级的劈裂情况。 相似文献
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在下面的讨论中,K 表示任意体,M_n(K)表示由系数属于 K 的全部 n 阶方阵所组成的集合(n≥2).E 和 O 分别表示 n 阶单位方阵和零方阵;E_(ij)(1≤i,j≤n)表示除第 i 行第 j 列位置上的系数为1外,其余一切系数均为0的那个 n 阶方阵. 相似文献
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采用水电极介质阻挡放电装置,在氩气和空气的混合气体放电中,对超四边形斑图的形成进行了实验研究.发现随着外加电压的升高,斑图类型经历了四边形斑图、准超点阵斑图、超四边形斑图、条纹斑图或六边形斑图的演化顺序.对这些斑图进行了傅里叶谱分析,得到了空间模式随电压的变化关系.此外,在外加电压升高的过程中,出现了具有不同空间尺度的两种超四边形斑图,它们满足不同的驻波条件.分析了壁电荷在超四边形斑图形成中的作用.实验测量了斑图类型随气隙间距和外加电压变化的相图以及超四边形斑图随气隙间距和气隙气压变化的相图.测量了击穿电
关键词:
介质阻挡放电
斑图
壁电荷
放电参量 相似文献
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室温下分别采用40,160和1550 keV的He离子注入单晶Si样品到相同的剂量5×1016cm-2,部分经He注入过的样品然后再分别接受高密度H等离子体处理.利用透射电子显微镜分析比较了随后800°C高温退火引起的空腔形成.结果表明,附加的H等离子体处理对空腔生长所产生的效应明显地依赖于He离子的能量.对于40 keV He离子注入,空腔的形成和热生长似乎不受H等离子体处理的影响,而对于160 keV He离子注入,附加的等离子体处理则促进了空腔的生长并伴随着空腔分布区域的变窄.对于1550keV He离子注入,H等离子体处理对空腔产生的效应介于40和160 keV注入情况之间.结合H等离子体处理在Si中所引起的缺陷的产生及其热演变过程对实验结果进行了讨论. 相似文献
940.
本文研究locale范畴的反射子范畴,给出反射子范畴的刻划定理,从一般的locale出发,完全构造性地给出了locale的正则反射、完全正则反射和零维反射的构造. 相似文献