Analysis of Three Coupled Defects in One-Dimensional Photonic Bandgap Structure

The mutual interaction of three different defects in photonic crystals is studied theoretically. A theoretical model based on the classical wave analogue of the tight-binding （TB） picture is applied to the structure. We obtain analytic expressions for the eigenfrequencies and eigenmodes, from which the transmissions at resonance are derived. Based on this, a new type of the photonic quantum-well structure is investigated and its possible application is discussed. The TB predictions are compared with the transfer matrix method simulation results.     

缺陷态透射率可调的三缺陷层的一维光子晶体

利用传输矩阵方法,从理论上研究了三缺陷层一维光子晶体的光学性质.在缺陷层间距足够大以致于出现缺陷态简并的情况下,调节第一或第三个缺陷层的光学厚度,光子晶体缺陷态的透射率会发生最大程度的变化.这种结构可同时具有窄带滤波器和光开关的功能,据此提出了一种低阈值光开关的设计.把折射率可调的向列型液晶作为晶体的第三个缺陷层,并用4×4传输矩阵方法计算了其缺陷态透射率与电场电压的关系.     

石墨探针技术／石墨炉原子吸收光谱测定人发中痕量锰

本文采用探针原子化技术对痕量锰进行了一系列条件试验，试验结果表明，石墨探针炉法具有灵敏度高，检出限低，重现性好，简便快速等特点，应用于人发中痕量锰的测定，结果满意。     

非结构网格边粘性公式

利用Kuropatenko提出的人为粘性形式和Christiansen建议的TVD(Total Variation Diminishing)输运限制子构造非结构网格边粘性,用最大角原则选择邻边构造限制子,研制包括边粘性的相容流体程序,给出边粘性与体粘性数值模拟比较,对Saltzman活塞问题、Noh问题进行数值实验.数值实验结果比较说明,非结构网格边粘性准确检出强速度梯度不存在的情形,减弱人为粘性力的作用,有效捕捉流体的激波间断,提高模拟精度.     

质量守恒和转换定律

什么是质量?目前大家还有不同的看法.有人认为质量是物质之量,有人则说质量是惯性的大小.我们同意前一种看法,认为后一种看法目前已经不对. 19世纪以前,许多人认为物体系由相同的最小粒子所组成,这种粒子和运动无关.物质之量正比于粒子数,质量是物质之量的简称,它和物体运动的速度无关.但由于19世纪末到20世纪初,人们发现了电子,并从实验和理论上证明了电子的质量随速度加大而增长.电子如此,原子、分于和宏观物体也如此.因此,许多物理学家认为质量守恒定律被推翻了.在古典力学里,质量虽说表示物质之量即粒子数,但是物体的质量归根到底还是由…     

常曲率空间与SU2对偶荷

讨论了四维常曲率空间拓扑性质与SU₂对偶荷间的联系,所得的结论是三维同位旋空间拓扑荷的自然推广。     

基于变分模态分解和自动编码器的PIN二极管温度特性预测

提出融合变分模态分解（VMD）和自编码器的预测方法,将温升特性曲线分解成若干个子信号分量,其中包含高频的波动量、中间量和低频的趋势量,然后利用自编码器对每个分量进行预测,最后将分量的预测值相加,从而实现对PIN二极管温升特性曲线的精准预测。通过与多种机器学习方法的对比验证了结合VMD分解可有效提升预测精度,同时也验证了自编码器在特性曲线拟合上的优势。     

一种形式化验证方法:模型检验

模型检验作为一种形式化验证方法,近年来在各种硬件、软件设计中得到了广泛应用．文中首先介绍了描述系统行为的Kripke结构和描述系统性质的CTL逻辑,然后介绍了模型检验中常用的两种算法：标记算法和基于固定点的算法,最后介绍了为避免内存爆炸而引入的符号模型检验技术．     

教学质量的时齐马尔可夫链评估法

本文研究了教学质量评估中的一种定量分析方法──时齐马尔可夫链评估法．阐明了这种方法的理论依据及其实施程序、并指出它较之其他教学质量评估法更显合理．     

a-Si:H和a-SiNx:H薄膜中的缺陷以及载流子的非辐射复合

应用红外光谱仪、分光光度计、光声谱仪和正电子湮没寿命谱仪,从不同的角度,研究a-Si:H和a-SiN_x:H薄膜中的成分、缺陷以及光生载流子的非辐射复合。 关键词：