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采用共溅射方法制备了Cu-In合金膜,并讨论了Cn-In合金膜的结构、电学性能以及溅射时间对Cu-In合金膜的结构及电学性能的影响,结果显示,Cu-In合金膜仅有单峰、多晶晶面间距不随着膜厚的增加而改变,用费-桑理论对Cu-In合金膜的电学性质进行了分析,临界厚度的讨论结果表明,溅射3-4min是面电阻的转变点,而电学参数分析也给出相同的结果。 相似文献
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用磁控射频溅射方法制备 Indium- Tin- Oxide(ITO)薄膜 ,研究了基片温度对薄膜结构、光、电性质的影响 .基片温度 41 0°时 ,结晶最好 ,相应的电学性质最优 ,并且解释了电学性质随结构变化的微观原因 .样品在可见光谱区的平均透过率超过 80 % ,受基片温度影响不大 ,确定薄膜的光能隙为 3.55ev 相似文献
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利用物理气相沉积方法,在Si衬底上制备了CdTe纳米线和纳米晶.X射线衍射(XRD)和扫描电子显微镜(SEM)研究表明所得产物为四方结构CdTe.CdTe纳米线的直径约20nm,长度约为几个微米,纳米晶粒径约为100 nm.分析了载流气体流速、温度等因素对过饱和度的影响,进而影响低维纳米材料的形貌结构. 相似文献
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分别采用X射线衍射(XRD)、俄歇电子谱(AES)、X射线光电与谱(XPS)研究喷涂烧结CdS(Se)薄膜在有氮气氛下热退火前后结构,并进一步研究了镉和硫化学态对表面层氧成分的影响,结果表明,表现几个原子层范围内的CdS(Se)膜的非化学计量组成和CdO降低了薄膜的光电性能和寿命。 相似文献
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以EDTA为螯合剂,加入MX2结构化合物NiSe2作为晶种,水热合成了FeS2纳米晶. x射线衍射分析结果表明产物为单一相黄铁矿型FeS2(pyrite),平均粒径约40—50nm.丝网印刷成膜且高温退火后FeS2薄膜光学直接带隙变宽.随晶种量的增加,吸收边在紫外—可见光谱区红移、方块电阻升高、霍尔迁移率上升和载流子浓度下降,实现了n型掺杂.并且对FeS2的形成机理进行了讨论.
关键词:
2纳米晶')" href="#">FeS2纳米晶
水热
诱导结晶
直接禁带宽度 相似文献
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在纯氮气气氛、衬底温度为20℃至370℃的条件下,分别在硅(100)和石英衬底上沉积氮化铝薄膜.原子力显微镜图片表明:在不同衬底温度制备的薄膜表面平滑,均方根粗糙度为2.2—13.2nm.X射线衍射图谱表明:可以在衬底温度为180°条件下沉积出具有c-轴择优取向的纤锌矿氮化铝薄膜,衬底温度的增加有利于薄膜结晶性的改善.由紫外-可见光透射谱计算得到薄膜折射率为1.80~1.85,膜厚约为1μm、光学能隙为6.1eV. 相似文献