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Theoretical Analysis of Interference Nanolithography of Surface Plasmon Polaritons without a Match Layer 下载免费PDF全文
Interference nanolithography techniques based on long-range surface plasmon polaritons (LR-SPP) are hardly ever achieved by experiments at present. One key reason is that suitable liquid materials are difflcult to find as the match layer connects the metal film and the resist. We redesign a Kretschmann-Raether structure for interference lithography. A polymer layer is coated under the metal film, and an air layer is placed between the polymer layer and the resist layer. This design not only avoids the above-mentioned question of the match layer, but also can form a soft contact between the polymer layer and the resist layer and can protect the exposure pattern. Simulation results confirm that a device with an appropriately thick polymer layer can form high intensity and contrast interference fringes with a critical dimension of about λ/7 in the resist. In addition, the fabrication of the device is very easy. 相似文献
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Co(1,10-phen·)32+-KIO4-鲁米诺化学发光体系与应用 总被引:2,自引:0,他引:2
本文研究了Co(1,10-phen·)32+配合物对KIO4氧化鲁米诺所产生的强化学发光反应.以1,10-phen·为配位体时,Co(Ⅱ)的检出限为8×10-8g/L,工作曲线响应浓度范围在1×10-6~1×10-4g/L,测定1×10-4g/LCo(Ⅱ)离子的相对标准偏差为2.5%.配合物化学发光法检测啤酒、维生素B12针剂中微量Co(Ⅱ)可获得满意结果. 相似文献
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三维非线性有限元与弹性边界元耦合数值方法 总被引:1,自引:0,他引:1
本文系统地讨论了以下三个问题:(1) 有限元与边界元耦合中的几个数值问题,其中包括:边界积分方程的凝聚、等效刚度矩阵的对称化及面力不连续的处理;(2) 弹塑性有限元与弹性边界元的耦合;(3) 弹粘塑性有限元与弹性边界元的耦合及数值计算稳定性条件。 相似文献
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在水溶液中培养了镨、钕、钇与甘氨酸形成的三元配合物。元素分析和热分析表明,该配合物可用Pr_xNd_yY_z(Gly)_6(H_2O)_4(ClO_4)_6·5H_2O(X+y+z=2)表示其分子式。X射线衍射方法测定了其单晶结构,结果表明,该晶体属三斜晶系,空间群P1,化学式Pr_(0.775)Nd_(0.700)Y_(0.525)Cl_6O_(45)N_6C_(12)H_(48),M_r=1466.09,晶胞参数如下:a=11.564(1),b=14.118(3),c=15.668(2)A,α=96.99(1),β=102.72(1),γ=105.33(1)°,晶胞体积V=2362(1)A~3,Z=2,D_c=2.060g/cm~3,结构偏离因子R=0.032,R_w=0.048。晶胞中存在两个络合单元,每个单元可用M_1M2(Gly)_6(ClO_4)_6(H_2O)_4.5H_2O表示,M_1=0.4Pr+0.375Nd+0.225Y,M2=0.375Pr+0.325Nd+0.30Y。三种稀土元素按一定比例统计性地占有两个格位。羧基以桥式联结金属离子,形成一维链式聚合物结构。在络合单元中,一个稀土离子是9配位,其配位多面体为畸变? 相似文献
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The modulation effect of substrate doping on multi-node charge collection and single-event transient propagation in 90-nm bulk complementary metal-oxide semiconductor technology 下载免费PDF全文
Variation of substrate background doping will affect the charge collection of active and passive MOSFETs in complementary metal-oxide semiconductor (CMOS) technologies, which are significant for charge sharing, thus affecting the propagated single event transient pulsewidths in circuits. The trends of charge collected by the drain of a positive channel metal-oxide semiconductor (PMOS) and an N metal-oxide semiconductor (NMOS) are opposite as the substrate doping increases. The PMOS source will inject carriers after strike and the amount of charge injected will increase as the substrate doping increases, whereas the source of the NMOS will mainly collect carriers and the source of the NMOS can also inject electrons when the substrate doping is light enough. Additionally, it indicates that substrate doping mainly affects the bipolar amplification component of a single-event transient current, and has little effect on the drift and diffusion. The change in substrate doping has a much greater effect on PMOS than on NMOS. 相似文献
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钒合金作为聚变堆候选材料, 其辐照损伤行为一直是关注的重点. 研究辐照时形成的位错环的性质, 其意义在于揭示纯钒中辐照空洞的长大机理. 这种机理表现为不同类型位错环对点缺陷吸收的偏压不同, 从而影响金属的辐照肿胀. 本文利用加速器对纯钒薄膜样品进行氢离子辐照, 然后, 利用透射电镜的inside-outside方法分析氢离子辐照所形成的位错环的类型. 结果表明, 在氢离子辐照纯钒中没有发现柏氏矢量b=<110>的位错环, 只有柏氏矢量b=1/2<111>和b=<110>的位错环, 这两种位错环的惯性面处于{110}-{112}之间. 能确定性质的位错环全部为间隙型位错环, 未发现空位型位错环. 相似文献