排序方式: 共有16条查询结果,搜索用时 296 毫秒
11.
在多层介质薄膜中,激光的入射方式是影响薄膜抗损伤能力的关键因素之一.提出了一种模拟锥角高斯光入射多层介质薄膜后电场和热场分布的方法.该方法能够分析薄膜中高斯光各个角谱分量叠加形成的电场分布,进而得到由于薄膜本征吸收产生的热量沉积以及薄膜内部的温度场分布.针对中心波长为4.3 μm的中红外高反膜进行了分析,给出了高反膜系的温升峰值随激光入射角度和偏振态的变化.结果表明:对于s偏振光,斜入射时膜系的最高温升峰值高于垂直入射峰值,而p光的结果则相反.此种模拟方法克服了原有方法对激光入射角度的限制,较好地反映出斜入射情况下激光偏振态对薄膜损伤的影响.
关键词:
多层介质薄膜
高斯光
热过程
数值分析 相似文献
12.
基于自动复形技术,在148—152μm的近红外波段设计了可以实现全角度偏振分束(TM模透过,TE模反射)的波状膜层二维光子晶体结构.从能带角度解释了全角度偏振分束的原理.波状膜层倾角θ和a-Si单层膜厚T分别可以在38°—49°和014—015μm的范围内变动,不影响全角度的偏振特性.对波状膜层进行了变形,针对波长128—1 31μm设计了宽角度偏振分束的箭羽型二维光子晶体结构.对比两种结构的能带,阐明了二 维光子晶体偏振分束器光线入射角范围的拓宽与能带结构变化的关系.能带计算全部采用平 面波展开算法.
关键词:
偏振分束
平面波展开
完全禁带 相似文献
13.
14.
We investigate the Goos-Hgnchen effect of a Gaussian light beam reflected by the thin-film Fabry-Perot filter. It is shown that the Goos-Hanchen shift can be either negative or positive, The Gaussian-beam analysis and stationary phase method are introduced to calculate the lateral shift between the incident beam and the reflected beam at different wavelengths and to analyse the Goos-Hgnchen effect in the thin-film Fabry-Perot filter, The effect of the incident beam diameter is also discussed, 相似文献
15.
为了研究刚性桩复合地基对邻近支护结构侧土压力的影响,在室内模型试验方案设计前,通过有限元软件建立了邻近天然地基与复合地基模型进行数值模拟研究,对不同地基形式下静止挡墙侧土压力分布规律进行预估。两组数值模拟结果对比表明:复合地基土压力分布规律不同于天然地基,当复合地基褥垫层下方桩间土应力与天然地基土应力相同时,天然地基对挡墙相同位置处的墙侧土压力的附加作用效果要明显大于复合地基,但在"载荷传递效应"作用下,复合地基对挡墙侧向土压力的影响随着加载量的增加,逐步向更深处土体传递;与天然地基相比,复合地基对挡墙侧向土压力的影响在浅部土层相对较弱,但在深部土层中较强,并且在桩端应力集中对挡墙底部侧向土压力影响尤为显著。 相似文献
16.
We analyse the dispersion relation of a one-dimensional (1D) metal-dielectric (MD) structure for H-polarized light (i.e. the magnetic field is parallel to the interfaces of the layers) and use the transfer matrix method to simulate the subwavelength image effect through the 1D-MD structure. The structure operates in the self-collimation regime, and does not involve negative refraction or amplification of evanescent waves. The Fabry-Perot resonance effect is studied in order to obtain optimum parameters for maximum transmission. A resolution of )λ/10 for a single point source is achieved when the thickness of the 1D-MD is about 300 nm. Taking into account the actual values of the dielectric constants of the metal (silver) and the dielectric (HfO2) layers, we find that a silver/HfO2 stack, with suitable parameters, has a resolution of λ/5 at visible wavelengths. 相似文献