太阳米粒结构相关哈特曼-夏克波前传感模拟研究

基于互相关因子和绝对差分算法以及相关哈特曼－夏克波前传感器的基本原理,根据室内模拟太阳米料结构研究了低对比度扩展目标情况下应用相关哈特曼－夏克波前传感器探测波前误差的可行性,结果表明,相关哈特曼－夏克波前传感器能够有效探测光学波前误差。     

基于激光吸收光谱的CO/CO2/H2S浓度同步在线测量研究

CO、CO2、H2S是燃煤锅炉炉内气氛重要组成部分,其浓度不仅能够反映燃烧工况,还可作为水冷壁高温腐蚀程度判断依据,因此实现CO、CO2、H2S浓度的准确测量意义重大.首先采用波长调制-直接吸收(WM-DAS)方法结合约40 m长光程Herriott池,在室温低压下,开展不同CO/CO2浓度配比下三种气体吸收率同步测量实验,结果表明三种气体的吸收率测量值与理论计算值相近,相对误差在6.82％以内,测量结果可靠性较高;然后对不同浓度CO/CO2(0～2 000 μL·L-1)、H2S(0～20 μL·L-1)进行动态测量,结果表明,测量系统对三种组分浓度变化的响应具有较好的线性度.     

像增强器的光生背景噪声对微光目标质心探测精度的影响及其抑制方法

像增强器作为微光探测器件,在天文目标观测、空间目标捕获、跟踪和瞄准以及生物荧光光谱探测等方面发挥越来越大的作用。重点讨论了在微弱亮度的空间点目标探测应用中,像增强器的光生背景噪声对目标质心探测的影响。实验和分析表明,像增强器的光生背景噪声是由目标信号寄生而来的,并且呈现散粒噪声特性,无法采取屏蔽环境背景杂光、阈值去背景等方法来消除光生背景噪声,对目标信号质心探测的影响很大。提出一种减小这种影响的质心计算方法,实验证明是有效的。     

多复变中正规权Zygmund空间上的几个性质

本文讨论了多复变中单位球上正规权Zygmund空间Z_μ(B)的一些性质.首先给出了Z_μ(B)函数的一种积分表示,接着证明了Z_μ(B)是正规权Bergman空间A_v~1(B)的对偶空间,其对偶对按如下形式给出:■,其中v(p)=(1-ρ~2)~(β+1)μ~(-1)(ρ)(0≤ρ<1)并且β>max{0,b-1}.最后作为积分表示和对偶的一个应用,作者给出了Z_μ(B)中每个函数的一个原子分解.     

Cn中多圆柱上广义Bloch空间的点乘子

讨论了Cn(n>1)中多圆柱上广义Bloch空间βp上的点乘子,根据p、q的不同情况得到βp空间到βq空间所有的点乘子,得到(1)当p<1时M(βp)=βp;(2)当p≥1时M(βp)=c;(3)当p>q时M(βp,βq)={0};(4)当p<q<1时M(βp,βq)=βq;(5)当p<1≤q时M(βp,βq)=Jp,q∩βq;(6)当1≤p<q时M(βp,βq)=c.     

倾斜计算全息板标定补偿器误差EI北大核心CSCD

为了标定利用补偿器检测非球面的精度,提出采用倾斜计算全息法(CGH)校验补偿器,并将补偿器精度提高。介绍补偿器检测离轴非球面基本原理,同时结合工程实例,设计补偿器检测860 mm×600 mm的离轴高次非球面,通过加工与装配,仿真分析出装配后的补偿器精度为2.91 nm[均方根(RMS)值]。设计了利用倾斜式的计算全息板检测该补偿器的实验,并分析出利用该CGH校验补偿器的精度为1.79 nm(RMS值)。结果表明,受限于补偿器光学元件加工和组装精度,其检测精度未知,通过对补偿器误差进行检测与标定,可以确定利用该补偿器检测非球面的可行性并将其精度提高。     

偏振滤波白天抑制天光背景作用分析

由于天文观测领域大部分自适应光学系统只能在夜晚工作,提出了采用偏振滤波技术抑制天光背景的办法以达到白天探测微弱星体目标的目的.介绍了偏振滤波的原理并估算了抑制天光背景的效果,通过观测角度关系得到了偏振方位角的计算公式,并在丽江观测站1.8m望远镜自适应光学系统平台上进行实验,给出了消像旋模型.实验结果表明,偏振滤波技术能有效抑制天光背景,提高星体目标探测能力,一定程度上提高了自适应光学系统在白天探测弱小星体目标的可能性.     

离轴非球面轮廓测量导轨直线度误差补偿模型

由于研磨阶段非球面的面形误差将由几十微米收敛到几个微米,因此采用高重复精度的离散测量技术是决定误差收敛效率、影响加工进程的关键。在新一代数控光学加工中心(FSGJ Ⅱ)上,设计了双测头对非球面进行面形定量检测的轮廓测量机构。通过对测头运动导轨在x、z方向的直线精度的分析,建立了导轨直线度误差补偿模型,以较低的成本实现了较高的测量精度。     

大数值孔径、高次非球面透镜的加工与检验

通过一空间相机光学系统中某透镜的高次非球面表面加工过程,提出了一种基于小磨头数控光学表面成型技术(CCOS,Computercontrolopticalsurfacing)和非球面轮廓检验、零位补偿检验技术的中等口径高次非球面光学表面的加工、检测方法,并且给出了补偿器实际光学设计结果。文中采用这种方法加工的高次非球面表面,最终精度优于1λP V(λ=632.8nm),满足了设计要求。对这种技术的适用范围进行了简明的讨论。     

非球面碳化硅反射镜的加工与检测

为了获得高精度非球面碳化硅(SiC)反射镜,对非球面碳化硅反射镜基底以及改性后碳化硅反射镜表面的加工与检测技术进行了研究。介绍了非球面计算机控制光学表面成型（CCOS）技术及FSGJ-2非球面数控加工设备。采用轮廓检测法和零位补偿干涉检测法分别对碳化硅反射镜研磨和抛光阶段的面形精度进行了检测,并采用零位补偿干涉检测法及表面粗糙度测量仪对最终加工完毕的碳化硅反射镜的面形精度和表面粗糙度进行检测。测量结果表明：各项技术指标均满足设计要求,其中非球面碳化硅(SiC)反射镜实际使用口径内的面形精度（RMS值）为0.016λ(λ=0.6328μm）,表面粗糙度（RMS值）为0.85nm。