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The sorption equilibria of carbon dioxide on three types of silica gel (SG) with different pore size distributions in the presence of water were studied experimentally using a volumetric method at 275?K with pressures from 0 to 3.7?MPa. Both the pore size distribution of the silica gel and the quantity of pre-sorbed water impact the formation of the CO2 hydrates. For wet silicon gel A(SG-A) with water loading ratio of 0.75, the highest CO2 sorption was about 2.5?mmol of CO2 per gram of dry sorbent at 275?K. Similarly, the highest sorption was about 2.7?mmol for wet SG-B with R w =0.81. However, CO2 hydrate did not form on the wet surface of SG-C due to its large pore sizes. 相似文献
72.
Taimin Wang Xuecheng Zhu Qingqing Tao Wei Xu Haiyan Sun Ping Wu Bin Cheng Hongbin Zhai 《中国化学快报》2021,32(12):3972-3975
Pyridinium 1,4-zwitterionic thiolates were applied to a formal [3 + 2] annulation reaction with modified activated alkynes, affording various tetrasubstituted thiophenes with aryl, alkenyl, alkyl or silyl group at the special position. The structural modification of alkyne substrates enabled the synthesis of diverse thiophenes to be achieved using the pyridinium 1,4-zwitterionic thiolates as the sulfur-containing building blocks. This approach is metal-free and catalyst-free. 相似文献
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The influence of interdiffusion on eigenstates in an interdiffusion-induced GaAs/AlxGa1-xAs single-quantum-well structure is analysed numerically by the finite element method. In this approach, the confinement potential profile of the interdiffused quantum well structure is nonlinear and is modelled by an error function and, in particular, the nature of the effective mass of an electron is considered. The results show that the number of eigenstates and energy levels varies with the extent of the interdiffusion. Numerical results for the quasi-bound states in the quantum well structure with an applied electric field are also presented. 相似文献
80.
用自制常压MOCVD装置,在Si衬底上生长GaAs和AlGaAs外延层,在高温去除Si衬底表面氧化膜之后,采用两步法,即低温生长过渡层,再提高温度生长外延层。得到了表面镜面光亮的优质GaAs和AlGaAs外延层。X射线双晶衍射仪测试GaAs外延层,其回摆曲线半峰宽是200孤秒,GaAs和AlGaAs外延层在77K温度下,PL谱半峰宽分别是17meV和24meV。 相似文献