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棉花冠层水分含量估算的高光谱指数研究 总被引:1,自引:0,他引:1
适宜的光谱指数对于地表参数高光谱诊断模型的估算精度具有决定性作用。通过不同棉花冠层水分含量表征参数冠层等效水厚度EWTcanopy, 植株含水量VWC及其对应的光谱数据分析,构建350~2 500 nm范围内所有波段两两组合的比值指数RVI和归一化指数NDVI,分析水分含量表征参数与所有指数之间的相关关系,筛选最大相关系数对应的指数作为最佳水分指数,利用新指数构建水分含量表征参数的估算模型,并与已知的各种水分指数估算精度进行比较。结果表明:新建比值指数R1 475/R1 424及其归一化指数(R1 475-R1 424)/(R1 475+R1 424)对EWTcanopy的估算效果最佳,由其得到的估算值与实测值之间的相关系数r值达到0.849;已知指数(R835-R1 650)/(R835+R1 650)对VWC的估算效果最佳,由其得到估算值与实测值之间的相关系数r值为0.805。 相似文献
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Guofen Yu Yuanci Gao Shenggang Liu Wenxiang Wang Jin Wu 《International Journal of Infrared and Millimeter Waves》2002,23(8):1261-1269
Analysis of the field distributions in a single biological cell under electromagnetic wave is given. With Debye approximation, the dielectric relaxation of each part of the cell, including the extracellular and cellular media, the cell membrane and the nuclear membrane, was taken into account. Making use of some typical parameters for a cell, the voltage across nuclear and cytoplasma membranes under electromagnetic waves are calculated up to millimeter wave frequency range. The calculated result indicates that it is unlikely to generate electroporation by present available millimeter wave sources. 相似文献
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Syntheses, structures, and properties of novel molybdenum and tungsten complexes of fullerenes 总被引:1,自引:0,他引:1
The synthesis and characterization of several fullerene-based organometallic complexes containing Mo and W is reported. 相似文献
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散射问题是高能辐射成像研究中的一个重要问题,采用蒙特卡罗模拟来确定散射对提取客体信息的影响是一种重要的研究手段。简单介绍了FXRMC和MCNP4B程序的特点及其记录方式;在确保相同输入参数的条件下,针对不同的照相模型进行了对比计算。结果表明两个程序计算的散射照射量相对差别小于5%,说明这两个程序具有较高的符合程度。通过与实验结果的比较发现,这两个程序模拟的散射分布与实验结果基本一致,均可用于高能闪光照相的模拟研究。还给出了在散射检验方面的一些建议。 相似文献
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液态泡沫结构及其稳定性 总被引:2,自引:0,他引:2
液态泡沫由大量气泡密集堆积在少量的表面活性剂溶液中形成, 是具有高度自组织结构的典型的软物质. 文章从泡沫物理学角度简要介绍了液态泡沫的结构特征和稳定性方面的研究. 相似文献
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A simultaneous volumetric thickness-profile measurement method based on an acousto-optic tunable filter for transparent film deposited upon pattern structures is described. The nondestructive thickness profilometer prevents the destruction of samples such as one encounters in using a scanning-electron microscope and provides good accuracy. The information on the volumetric thickness profile is obtained through least-squares fitting with a phase model, ?(model)(k)=2kh+? (k, d)+(offset) , which has three unknowns: surface profile h, thickness d, and an indeterminate initial phase offset. Accurate phase information in the spectral domain can be obtained by introduction of the concept of spectral carrier frequency. Experimental results for a metal patterned sample show that the volumetric thickness profile can be determined within an error range of ~10 nm . 相似文献