关于晶体学教学内容中的几个问题

本文对晶体学中关于晶体结构周期性、对称要素组合(对称操作复合)、几何单形与结晶单形的基本概念、理论及教学思路进行了深入思考,阐明了过去我们并没有足够重视的一些理论问题,这有助于晶体学本身学科的发展,也有助于晶体学教学思路的明确.     

电子背散射衍射法研究马氏珠母贝珍珠层中文石择优取向

贝壳珍珠层中的文石相对于在自然环境中生长的文石来说具有更优异的力学性能,这种力学性能取决于其独特的晶体排布方式。通过电子背散射衍射（EBSD）技术获得了马氏珠母贝中不同文石的结晶学取向信息,结果表明珍珠层中文石晶体的c轴均垂直于珍珠层层面,而a、b轴在平行珍珠层方向上具有两级取向畴结构：在初级畴结构内,相邻畴绕c轴偏转,导致不同畴之间a轴或b轴的取向差约64°。在次级畴结构内,文石板片围绕c轴偏转,导致不同畴之间a轴或b轴取向差在10°或20°左右。这种畴结构为我们认识珍珠层中文石的生长机理提供了有益线索。     

刚玉晶体腐蚀像立体模型及腐蚀形貌动态演变

采用固定物质的量比的NaOH-KOH混合熔融物对刚玉不同结晶学方向的切面进行腐蚀实验,建立了刚玉腐蚀像的立体模型,并且以{10(11)}为代表切面,进行腐蚀坑动态演变研究.研究发现刚玉切面的腐蚀像能很好地反映晶体的对称特点,各切面的腐蚀坑在三维空间分布的立体模型和投影图可用于对刚玉晶体的定向.随腐蚀时间的延长,{10(11)}切面的腐蚀坑的大小,深浅以及稳定程度都产生一系列变化,说明晶体各向异性对腐蚀坑形态的控制需要一定时间.     

绿柱石晶体腐蚀像立体模型的建立及{0001}面腐蚀随时间变化的探讨

本文采用物质的量比为1∶1的NaOH-KOH混合熔融物和纯NaOH熔融物对绿柱石晶体各种不同结晶学方向的切面进行腐蚀实验,建立了绿柱石腐蚀像的立体模型,并探讨了绿柱石{0001}切面腐蚀坑随腐蚀时间的变化规律.研究发现绿柱石切面腐蚀像能很好地反映晶体的对称特点,晶体各切面的腐蚀坑形态在三维空间分布的立体模型和投影图可用来进行绿柱石晶体的定向.{0001 }切面腐蚀坑随腐蚀时间的延长,会呈现从最初浑圆不太规则状到逐渐稳定呈正六边形的变化,且腐蚀坑有逐渐从小变大、由少变多的特点.该研究对晶体腐蚀机理的探讨及绿柱石腐蚀像应用于晶体定向具有理论和实际意义.     

锆石腐蚀像立体模型的建立及与晶体对称的关系

对锆石晶体四方柱｛100｝面和{110｝面、四方双锥{101｝面、以及介于上述晶面之间的切面进行了腐蚀像的观察研究,建立了锆石晶体腐蚀像在三维空间分布的立体模型.锆石晶体上属于同种单形的晶面(切面)其腐蚀坑形态相同,不同单形的晶面(切面)腐蚀坑形态则不同;腐蚀坑形态体现了晶体的对称性.锆石晶体各晶面(切面)的腐蚀坑形态在三维空间分布的立体模型和投影图可用来进行锆石晶体的定向,揭示锆石不同晶面的溶蚀现象,并可为锆石的裂变径迹测年研究提供晶体定向理论依据.     

辉石巨晶结构OH的分子光谱结晶学定向初探

利用分子光谱谱带位移、谱带强度、谱带形态等的变化,可以初步对晶体作结晶学定向。普通辉石结构OH红外光谱3组谱带值,垂直c轴方向相对于平行c轴的谱带各不相同：第一组谱带值,3 629～3 633 cm-1谱带红移到3 601～3 616 cm-1;第二组谱带值3 514～3 543 cm-1同样有红移现象;第三组3 460～3 465 cm-1的谱带值相反则有蓝移现象。相对强度上,两个方向上第一组的谱带强度相当;第二组、第三组谱带强度平行方向明显强于垂直方向。形态上则差别不大。拉曼谱垂直方向谱带强度普遍强于平行方向,谱带位置与形态基本不变。结构OH不同结晶方向的谱图性质可以反映一定的地质构造环境。     

数学在晶体形貌研究中的应用

本文介绍了在各个历史时期数学在晶体形貌研究中的应用,重点介绍了我们近年来对数学特别是分形数学在远离平衡形貌及集合体形貌的研究中的应用.