PWG玻璃陶瓷中的喇曼选择定则的失效及其态密度

提出了关于PbF2 WO3 GeO2(PWG)玻璃陶瓷中介电相关函数的计算。这个计算表明：在这类无序材料中,正则振动模的短相干长度使喇曼选择定则失效,并且在态密度函数以及随频率而变的正则振动模振幅基础之上分析推导得出一级喇曼散射强度的表达式。     

等离子体增强分子束外延生长ZnO薄膜及光电特性的研究

利用等离子体辅助分子束外延设备(P-MBE)在蓝宝石(Al2O3)衬底上外延生长ZnO薄膜,研究了不同生长温度对结晶质量的影响.随着生长温度的升高,X射线摇摆曲线(XRC)半高宽从0.88°变窄至 0.29°,从原子力显微镜(AFM)图像中发现薄膜中晶粒从20nm左右增大至200nm,室温光致发光(PL)谱中显示了一个近带边的紫外光发射(UVE)和一个与深中心有关的可见光发射.随着生长温度升高,可见光发射逐渐变弱,薄膜的室温载流子浓度由1.06×1019/cm3减少到7.66×1016/cm3,表明在高温下生长的薄膜中锌氧化学计量比趋于平衡,高质量的ZnO薄膜被获得.通过测量变温光谱,证实所有样品在室温下PL谱中紫外发光都来自于自由激子发射;随着生长温度的变化UVE峰位蓝移与晶粒尺寸不同引起的量子限域效应相关.     

MgZnO/ZnO异质结构的发光性质研究

本文利用等离子体辅助分子束外延(P-MBE)技术在蓝宝石 (Al2O3) 衬底上生长了Mg0.12Zn0.88O(100nm)/ZnO (20nm) /Mg0.12Zn0.88O (40nm) 异质结构,测得样品的X射线衍射谱表明,在34.56°的位置出现很强的(002)方向衍射峰,其半高宽度为0.20°,比Mg0.12Zn0.88O合金薄膜的半高宽度0.15°明显展宽.通过光致发光谱研究了MgZnO/ZnO/MgZnO异质结构的光学性质,室温下测得在370nm(3.35eV)位置有很强的紫外发光,而在348nm (3.56eV)的位置处有一个较弱的发光,这两个峰分别被归结于来自ZnO层和MgZnO盖层的发光.室温下的吸收光谱中,在上述两个峰的位置附近分别存在很明显的吸收,指示了带边吸收来自于MgZnO和ZnO两种材料.通过变温发光谱研究了异质结构中载流子弛豫、复合的规律.随着温度增加,来自于ZnO层和MgZnO层的发光强度比增加,这归结为MgZnO/ZnO异质结构存在界面势垒所致.     

白光LED面阵及其主要参数指标

本文主要利用白光LED单管制备了白光LED面阵,将制备的白光LED面阵与日亚公司的同类产品进行了对比。研究了不同电流条件下,亮度、流明效率、色坐标和显色指数的变化。     

ZnS:I单晶降阻条件的选择

本文叙述了对碘化学输运法生长的ZnS:I单晶扩散Al杂质,制备低阻ZnS:I晶体的实验方法。在制备低阻ZnS:I单晶过程中,根据晶体内含I的浓度选择热退火条件,可较重复地得到Al浓度在10-1g/g量级,电阻率在10—102Ω·cm范围的低阻ZnS单晶。讨论认为,在ZnS:I单晶退火过程中,I的存在有助于Al杂质的扩散。     

ZnSe MIS二极管蓝色电致发光的空间分布

本文研究了用ZnS多晶薄膜作绝缘层时制备的ZnSe MIS二极管,在正向电压激发下的蓝色电致发光的空间分布,在光学显微镜下观察到电致发光呈稀疏的点状分布。为了了解发光点的起因,用扫描电镜观测了二极管的二次电子像(SEI),束感生电流像(EBICI)和吸收电流像(AEI)。一个重要的发现是二极管的电致发光点(ELS)和EBICI有相当好的对应关系。文中指出了发光点的存在与绝缘层(Ⅰ)的引入有关。绝缘层一半导体(I-S)界面较大的能带失配和较差的结合,从而产生较多的无辐射复合中心,是产生稀疏发光点可能的原因。文中根据对发光点起因的分析,提出用ZnSe多晶薄膜取代ZnS多晶薄膜作绝缘层来铡备ZnSe MIS二极管。当用显微镜观察时,电致发光点呈密集分布,而用肉眼观察时是均匀的蓝色发光。文中还指出了进一步改进电致发光空间分布的可能途径。     

发光研究中的新动向——在1978年巴黎国际发光会议上的总结

今天我试图总结一下在这次会议上发表的以及和世界上当前工作有关的很多有意思的材料。这个总结并不完全,在一定程度上反映了我自己的兴趣,也受到和同事们讨论的影响。 要适当地处理发光这一广阔领域有很多问题。例如,会议组织者总要处理有机与无机之间,理论与实验之间的平衡。     

离子交换铒掺杂硅酸盐玻璃波导光放大特性

将集成光学放大器用于光纤通信系统中是人们越来越感兴趣的课题，由此导致人们寻找与此相适应的稀土掺杂玻璃材料。给出了一系列Er^3 ／Yb^3 共掺杂硅酸盐玻璃波导的制备和光谱特性的基本结果。平面和条型波导均由Ag^ -Na^ 离子交换技术制备。光谱测量显示，所有样品在1532nm都观测到了荧光发射峰．其半高谱宽为19nm。用波长为514．5nm和980nm的激光抽运，测得多数样品中Er^3 离子在亚稳态^4I13.2能级上的荧光寿命均为7ms左右。Er^3 ／Yb^3 共掺杂玻璃的上转换均低于单掺Er^3 玻璃。用250mW，波长为980nm的激光抽运3．5cm长的条形波导，在1536nm波段下得到的最大净增益是5dB，增益谱的半峰全宽是14nm。     

Se+注入ZnSe晶体的深能级研究

将Se离子注入到ZnSe晶体中,用深能级瞬态谱仪(DLTS)测量了注Se+前后ZnSe晶体中深能级的变化,发现在ZnSe中经常出现的分别位于导带下0.30eV和0.33eV的两个能级在注Se+和退火后消失。这个结果进一步证实了Beomi等人提出的以上两个能级分别与Se双空位和包含一个Se单空位的复合体有关的论点。同时注Se+后在导带下0.34eV出现一个新的能级,其电子俘获截面明显区别于0.33eV能级。该能级可能与Se填隙原子或占Zn位的反位Se原子有关。     

Spectroscopy of the Forming Process of Quantum Dots Accompanied by the Thinning of Wetting Layer

A series of Cd0.44Zn0.56Se/ZnSe sandwich structures with different Cd0.44Zn0.56Se embedded layer thicknesses were fabricated by metal organic chemical vapor deposition. When the embedded layer thickness exceeded 3.0 nm, the photoluminescence spectra of the sample changed into the two-band structure from the one-band structure, and atomic force microscopy images indicate that Cd0.44Zn0.56Se quantum dots were formed. In the two-band photoluminescence spectrum, the band at the low energy side was attributed to be from quantum dots, and the high-energy one arose from the wetting layer. Thinning of the wetting layer with quantum dots forming was confirmed indirectly by the significant blue shift of the wetting-layer photoluminescence band compared to the photoluminescence band of the samples for which the Cd0.44Zn0.56Se layer thickness was less than 3.0nm. This thinning arose from mass migration during the Stranski-Krastanow growth of Cd0.44Zn0.56Se quantum dots.