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新方法制备不溶性丝素薄膜及其性质研究 总被引:8,自引:0,他引:8
报道一种制备不溶性丝素蛋白薄膜的新方法.在温和搅拌下,将丝素溶液浓缩至16%,通过调整干燥温度和干燥速率,直接获得不溶于水的丝素薄膜.薄膜结构通过FTIR-ATR和XRD测定,同时对薄膜的机械性能进行研究.结果表明,丝素薄膜在干燥温度高于60℃时,有充足的β折叠结构存在,机械性能良好.当干燥温度为70℃时,材料的拉伸强度和断裂伸长率分别为29.8MPa和59.6%,远远强于经过甲醇处理的丝素薄膜的机械性能.当干燥温度高于60℃时,材料在水中具有优异的稳定性.由于在丝素薄膜的制备中避免了甲醇的使用并使材料具有更好的机械性能,此方法制备的丝素薄膜更为安全,应用会更广泛. 相似文献
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A fabrication and magnetic properties study on Al doped Zn0.99Co0.01O dilution ferromagnetic semiconductors
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This paper reports that a chemical method is employed to synthesize Co and Al co-doped ZnO,namely,Zn0.99 x Co0.01 Al x O dilution semiconductors with the nominal composition of x = 0,0.005 and 0.02.Structural,magnetic and optical properties of the produced samples are studied.The results indicate that samples sintered in air under the temperatures of 500 C show a single wurtzite ZnO structure and the ferromagnetism decreases with the increase of Al.Photoluminescence spectra of different Al-doped samples indicate that increasing Al concentration in Zn0.99 x Co0.01 Al x O results in a decrease of Zn i,which resembles the trend of the ferromagnetic property of the corresponding samples.Therefore,it is deduced that the ferromagnetism observed in the studied samples originates from the interstitial defect of zinc(Zni) in the lattice of Co-doped ZnO. 相似文献
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采用金属Na,白磷和GaCl3为原料,在温和的苯热溶剂条件下制备了直径为20—40nm,长度为200—500nm的GaP纳米棒和直径为20—40nm的球形颗粒.利用X射线衍射(XRD)、透射电子显微镜(TEM)和X射线光电子能谱(XPS)研究了反应条件对产物结晶性和形貌的影响.实验结果表明,当反应温度低于250℃时,产物基本上为GaP纳米棒,并随着反应温度升高,产物逐渐转化为球形纳米颗粒;当反应温度超过280℃时,产物完全为规则的球形.同时,GaP纳米棒的生长遵循SLS生长机理.
关键词:
纳米GaP
苯热
SLS生长机理 相似文献
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采用液相电化学沉积法,以二氰二胺的丙酮溶液为沉积液,以镀有ITO(铟锡氧化膜)的导电玻璃为衬底制备了CNx薄膜.初步探讨了沉积温度和沉积电压对薄膜中氮含量的影响.通过XPS、FTIR光谱、SEM和US-Vis光谱对得到的CNx薄膜的化学结合状态、结构形貌和光学性质进行了表征,并用高电阻仪对薄膜的绝缘性进行了分析.XPS结果表明,CNx薄膜中碳氮主要以单键连接,sp3杂化的C—N键占85%.在IR光谱中,仅出现了C—N键和CN双键的吸收峰.SEM图谱显示CNx薄膜呈颗粒状,粒径平均为80nm左右.在水浴加热条件下沉积的CNx薄膜在200~300nm近紫外区为非线性吸收.薄膜的电阻率随氮含量的增加而增大,测量值在1012~1016Ω·cm之间. 相似文献
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PCVD法制备ZrO~2和YSZ薄膜 总被引:7,自引:0,他引:7
以金属β-二酮类有机螯合物Zr(DPM)~4和Y(DPM)~3为挥发性源物质, 采用微波等离子体化学气相淀积法于较低的温度下(420~560℃)成功地在多孔α-Al~2O~3陶瓷,非晶玻璃等衬底上制备出致密的ZrO~2和YSZ薄膜材料.XRD分析结果表明,纯ZrO~2薄膜中除了单斜相外还存在着亚稳态的四方相.当掺入的Y~2O~3 摩尔百分含量大于或等于7%时,ZrO~2完全被稳定成立方相.SEM观察表明, 在等离子体内的不同区域中生成的薄膜形貌有所不同.XPS检测了YSZ薄膜中Zr3d~5~/~2和Zr3d~3~/~2 的电子结合能,发现较ZrO~2的标准值低0.7eV.由TEM观察和由XRD衍射峰半宽度计算, 所制备的ZrO~2和YSZ薄膜中微晶粒径在10nm左右 相似文献
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