全文获取类型
收费全文 | 20684篇 |
免费 | 4111篇 |
国内免费 | 6025篇 |
专业分类
化学 | 15846篇 |
晶体学 | 601篇 |
力学 | 1464篇 |
综合类 | 757篇 |
数学 | 2406篇 |
物理学 | 9746篇 |
出版年
2024年 | 44篇 |
2023年 | 275篇 |
2022年 | 712篇 |
2021年 | 753篇 |
2020年 | 762篇 |
2019年 | 774篇 |
2018年 | 726篇 |
2017年 | 916篇 |
2016年 | 914篇 |
2015年 | 1110篇 |
2014年 | 1304篇 |
2013年 | 1708篇 |
2012年 | 1882篇 |
2011年 | 1953篇 |
2010年 | 1673篇 |
2009年 | 1697篇 |
2008年 | 1816篇 |
2007年 | 1628篇 |
2006年 | 1636篇 |
2005年 | 1415篇 |
2004年 | 1092篇 |
2003年 | 744篇 |
2002年 | 767篇 |
2001年 | 775篇 |
2000年 | 788篇 |
1999年 | 513篇 |
1998年 | 340篇 |
1997年 | 271篇 |
1996年 | 228篇 |
1995年 | 207篇 |
1994年 | 200篇 |
1993年 | 178篇 |
1992年 | 167篇 |
1991年 | 122篇 |
1990年 | 124篇 |
1989年 | 98篇 |
1988年 | 96篇 |
1987年 | 73篇 |
1986年 | 60篇 |
1985年 | 44篇 |
1984年 | 42篇 |
1983年 | 40篇 |
1982年 | 23篇 |
1981年 | 20篇 |
1980年 | 16篇 |
1979年 | 23篇 |
1971年 | 7篇 |
1965年 | 19篇 |
1964年 | 8篇 |
1959年 | 6篇 |
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 15 毫秒
991.
利用ICP—AES仪测定稀土铝合金中微量的La、Ce、Pr、Nd、Sm。试样用酸分解,直接上机测定,对光谱干扰情况和仪器参数的选择进行了研究。实验结果和推荐值核对相符。 相似文献
992.
993.
994.
正电子湮没技术是一种研究材料的微观缺陷和相变的灵敏工具,在通常的正电子谱仪中,正电子能量为MeV量级,在样品中注入深度比较学(-100μm),主要研究材料体内的平均缺陷密度,慢正电子束方法把正电子的能量降低为keV量级(而且可以调节),注入比较浅(-μm),所以是研究表面缺陷的探测手段,正电子慢化体是产生慢正电子的关键设备,对其研究有重要意义,文章综述了慢化体研究的历史和现状,从物理概念出发介绍使正电子慢化的四种可能方法和当今慢化体的五种几何排列方法,其中应用最广泛的是钨慢化体和百叶窗式的排列方式,效率最高的是惰性气体固体慢化体,而加电场慢化体是有待开发的高效慢化体。 相似文献
995.
996.
利用径向可移动朗缪尔三探针和马赫探针对HT-7超导托卡马克边界等离子体参量及其涨落进行了空时空分辨测量.给出了欧姆放电及其与低杂波电流驱动共同作用下边界等离子体电位φp、电子温度Te和电子密度ne及其涨落的径向分布.实验表明,在限制器附近,存在一由Er×B确定的极向旋转速度剪切层.在剪切层内,Te和ne分布较陡,且φp,Te和ne的相对涨落水平下降明显.这说明剪切层对边界区的等离子体涨落具有抑制作用.低杂波驱动使径向电场梯度变陡,从而使剪切程度加深但对剪切层宽度无影响.此外,测量表明等离子体环向速度马赫数Mφ存在径向梯度.环向流的这种径向梯度可能是形成径向电场所需的平均极向流的一种重要驱动源
关键词:
托卡马克
边界涨落
低杂波驱动 相似文献
997.
998.
999.
稀土配合物-PAA-g-PE膜的荧光光谱 总被引:11,自引:0,他引:11
通过紫外光接枝聚合反应 ,将丙烯酸 (AA)接枝于PE膜表面 ,在一定 pH值条件下 ,使接枝膜与Eu3+、α 噻吩甲酰三氟丙酮 (TTA)的乙醇 水溶液或Tb3+、乙酰丙酮 (AcAc)的氯仿 水溶液作用 ,制得红色或绿色荧光膜。与相应的Eu(TTA) 3·(H2 O) 2 或Tb(AcAc) 3·(H2 O) 2 固态配合物相比 ,荧光膜的激发和发射光谱都发生了明显的变化 ,可以推测 ,稀土配合物与高分子材料之间发生了化学键结合。此外 ,还对荧光膜的红外光谱进行了观察。 相似文献
1000.
鲜牛奶变质过程的激光诱导荧光光谱研究 总被引:2,自引:1,他引:2
本文用激光诱导荧光(LIF)方法对鲜牛奶和酸牛奶变质过程进行了荧光光谱研究,介绍了所用测试系统的组成及测试方法,给出了变质过程荧光谱,并对测试结果进行了分析,研究表明,变质过程与荧光光谱之间存在密切联系。 相似文献