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31.
描述了一种延长EPR波谱仪中速调管使用寿命的方法.根据这种方法,只要正确地调谐微波桥的工作状态和适当地调整功率电平器的功率校正电平.即使对于已经严重老化的速调管仍然可以继续使用一段时间,维持仪器的正常运行. 相似文献
32.
Nanocrystalline FeS2 cathode material of lithium cell was synthesized from cheap materials of FeSO4, Na2S2O3, and sulfur by a hydrothermal process. The scanning electron microscopy analysis showed the obtained material was nano-sized,
about 500 nm. The X-ray powder diffraction analysis showed that the synthetic FeS2 material had two phases of the crystalline structure, pyrite and marcasite. The phase of marcasite seems to have no negative
effect on the electrochemical performance of the material. The synthetic FeS2 showed a significant improvement of electrochemical performance for Li/FeS2 cells. 相似文献
33.
34.
35.
聚异丁烯高活性端基含量及相对分子质量测定方法的研究 总被引:2,自引:0,他引:2
综合使用核磁,VPO和近红外光谱分析技术对聚异丁烯活性端基含量以及相对分子质量的测定进行了详细研究,分别建立核测定聚异丁烯活性端基含量以及其他烯键含量和近红外光谱快速测量聚异聚丁烯活性端基含量。其他烯键含量和相对分子质量的分析方法。成对t检验结果表明,近红外光谱分析方法测定结果与核磁和VPO方法测定结果之间无显著性差异。 相似文献
36.
用斜坡电压法(Voltage Ramp, V-ramp)评价了0.18μm双栅极 CMOS工艺栅极氧化膜击穿电量(Charge to Breakdown, Qbd)和击穿电压(Voltage to Breakdown, Vbd). 研究结果表明,低压器件(1.8V)的栅极氧化膜(薄氧)p型衬底MOS电容和N型衬底电容的击穿电量值相差较小,而高压器件(3.3V)栅极氧化膜(厚氧)p衬底MOS电容和n衬底MOS电容的击穿电量值相差较大,击穿电压测试值也发现与击穿电量
关键词:
薄氧
可靠性
击穿电压
击穿电量 相似文献
37.
38.
环上矩阵的广义Moore-Penrose逆 总被引:14,自引:0,他引:14
本文给出带有对合的有1的结合环上一类矩阵的广义Moore-Penrose逆存在的充要条件,而这类矩阵概括了左右主理想整环,单Artin环上所有矩阵。 相似文献
39.
枸橼酸莫沙必利的合成 总被引:1,自引:0,他引:1
分别以邻羟基对氨基苯甲醇钠,对氟苯甲醛,邻苯二甲酰亚胺为起始原料,制得3个中间体,用其中2个中间体经偶合,环化后与第3个中间体反应,再经成盐制得产品,其摩尔总收率为31.5%。 相似文献
40.
本文研究并揭示了L_(2~a)(2~(2~a-1))型正交表行(列)间的递推规律,提出了一种泛函梯度数值计算的新方法——正交试验法,该方法在计算速度和精度上优于直接梯度法;在通用性及节省内存方面优于伴随算子法。 相似文献