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I. Yu. Yagubova A. E. Grigoryan A. S. Rogachev M. R. Sharafutdinov B. P. Tolochko P. A. Tsygankov A. N. Nosyrev 《Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics》2007,71(2):270-271
Structural transformations in multilayer Ti-Al films (layer thickness from 4 to 500 nm, number of layers up to 4440, total
foil thickness ∼18 μm) upon slow heating have been studied by time-resolved synchrotron radiation diffraction. Some specific
features of heterogeneous reactions and the sequence of phase formation in multilayer samples during the interaction of interaction
between layer components have been determined as functions of the single layer thickness.
Original Russian Text ? I.Yu. Yagubova, A.E. Grigoryan, A.S. Rogachev, M.R. Sharafutdinov, B.P. Tolochko, P.A. Tsygankov,
A.N. Nosyrev, 2007, published in Izvestiya Rossiiskoi Akademii Nauk. Seriya Fizicheskaya, 2007, Vol. 71, No. 2, pp. 278–279. 相似文献