首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   419篇
  免费   24篇
  国内免费   1篇
化学   342篇
晶体学   11篇
力学   3篇
数学   28篇
物理学   60篇
  2024年   1篇
  2022年   6篇
  2021年   3篇
  2020年   8篇
  2019年   13篇
  2018年   4篇
  2017年   8篇
  2016年   11篇
  2015年   12篇
  2014年   14篇
  2013年   21篇
  2012年   33篇
  2011年   33篇
  2010年   25篇
  2009年   21篇
  2008年   23篇
  2007年   28篇
  2006年   31篇
  2005年   26篇
  2004年   27篇
  2003年   11篇
  2002年   17篇
  2001年   10篇
  2000年   5篇
  1999年   2篇
  1998年   8篇
  1997年   4篇
  1996年   3篇
  1995年   1篇
  1994年   2篇
  1993年   5篇
  1992年   4篇
  1991年   3篇
  1990年   1篇
  1989年   3篇
  1988年   1篇
  1987年   1篇
  1985年   1篇
  1984年   3篇
  1982年   4篇
  1981年   1篇
  1980年   1篇
  1979年   1篇
  1978年   1篇
  1977年   2篇
  1976年   1篇
排序方式: 共有444条查询结果,搜索用时 15 毫秒
441.
X-ray diffraction measurements for the ionic liquid 1-butyl-3-methylimidazolium tetrafluoroborate, [BMIM][BF4], mixed with CO2 were carried out at high pressures using our developed polymer cell. The intermolecular distribution functions obtained for [BMIM][BF4]–CO2 mixtures showed that CO2 molecules are preferentially solvated to the [BF4] anion. The similar preferential solvation was previously observed in analogous 1-btuyl-3-methylimidazolium hexafluorophosphate, [BMIM][PF6], with a different anion, which is in harmony with the present results in [BMIM][BF4]–CO2.  相似文献   
442.
Structural and optical properties of nonpolar a-plane ZnO films grown with different II/VI ratios on r-plane sapphire substrates by plasma-assisted molecular beam epitaxy were investigated. Even by increasing the II/VI ratio across the stoichiometric flux condition a consistent surface morphology of striated stripes along the ZnO 〈0 0 0 1〉 direction without any pit formation was observed, which is contrary to polar c-plane ZnO films. Root mean square surface roughness, full width at half maximum values of X-ray rocking curves, defect densities, and photoluminescence were changed with the II/VI ratio. The sample grown with stoichiometric flux condition showed the lowest value of rms roughness, the smallest threading dislocation and stacking fault densities of ∼4.7×108 cm−2 and ∼9.5×104 cm−1, respectively, and the highest intensity of DoX peak. These results imply that the stoichiometric flux growth condition is suitable to obtain superior structural and optical properties compared to other flux conditions.  相似文献   
443.
444.
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号