首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   999篇
  免费   11篇
化学   860篇
晶体学   6篇
力学   7篇
数学   50篇
物理学   87篇
  2021年   7篇
  2019年   7篇
  2016年   5篇
  2015年   13篇
  2014年   6篇
  2013年   18篇
  2012年   25篇
  2011年   21篇
  2010年   16篇
  2009年   10篇
  2008年   17篇
  2007年   20篇
  2006年   14篇
  2005年   17篇
  2004年   19篇
  2003年   9篇
  2002年   15篇
  2001年   17篇
  2000年   10篇
  1999年   9篇
  1995年   9篇
  1993年   7篇
  1992年   7篇
  1990年   5篇
  1989年   6篇
  1986年   7篇
  1985年   5篇
  1984年   8篇
  1982年   12篇
  1981年   8篇
  1980年   4篇
  1979年   13篇
  1978年   8篇
  1977年   9篇
  1976年   6篇
  1975年   4篇
  1974年   8篇
  1972年   5篇
  1970年   7篇
  1969年   5篇
  1968年   59篇
  1967年   42篇
  1966年   41篇
  1965年   99篇
  1964年   42篇
  1963年   99篇
  1962年   109篇
  1959年   5篇
  1958年   4篇
  1932年   5篇
排序方式: 共有1010条查询结果,搜索用时 31 毫秒
81.
82.
83.
84.
85.
86.
87.
88.
89.
90.
For the analysis of surfaces with poor conductivity the use of the “direct current sputter process”, usual in SNMS, produces unreproducible depth profiles with often widened transition widths. An efficient method for eliminating static charging in the case of non-coducting samples is the use of a high-frequency discharge. By comparison of the direct current mode with high frequency mode it is shown, that the use of SNMS with HF sputtering is the universal analysis method for most matrices, technical surfaces as well as oxidic materials. For non-conducting or poorly conducting samples, however, matrix-adjusted factors are to be used.  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号