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S. Mathias M. Wessendorf S. Passlack M. Aeschlimann M. Bauer 《Applied Physics A: Materials Science & Processing》2006,82(3):439-445
Epitaxial ultra-thin Ag films grown on Cu(111) have been investigated by angle-resolved photoemission spectroscopy. The thickness
dependence of the binding energy for the Shockley surface state at 300 K could be determined accurately in films up to 5 ML
thick. Furthermore, we observe drastic changes in the film morphology after annealing to 450 K. Spectral modifications in
the shape of the quantum-well states (QWS), characteristic for these ultra-thin silver films, prove that the surface morphology
is homogeneous. The photoemission spectra also indicate that the silver film bifurcates to form a film exhibiting two distinct
film thicknesses. For all levels of silver coverage, we identify surface regions that are 2 ML thick, while the thickness
of the remaining surface depends on the amount of deposited silver. The almost purely Lorentzian line-shape of the spectral
features corresponding to the two different surface regions show that both surface areas are atomically flat.
PACS 68.55.Jk; 73.20.At; 73.21.Fg; 79.60.Dp 相似文献